无侧壁损伤的nano-LED阵列及其制作方法

    公开(公告)号:CN114141805B

    公开(公告)日:2024-08-30

    申请号:CN202111401746.X

    申请日:2021-11-24

    申请人: 福州大学

    摘要: 本发明提出一种无侧壁损伤的nano‑LED阵列及其制作方法,通过图形化技术和电子束蒸发,在p型GaN层上制作纳米级的金属阵列,来激活其下方的p型GaN层,从而提高这些区域的载流子浓度,进而使nano‑LED正常发光。而没有金属覆盖的区域未被激活,载流子浓度很低,呈现高阻态,刚好可隔离nano‑LED器件,使每个nano‑LED可独立工作。本发明避免了通过刻蚀来隔离nano‑LED芯片所带来的侧壁损伤,增加了nano‑LED芯片的可利用面积,提高了nano‑LED的发光效率。这种通过选择性金属激活p型GaN来制作LED芯片的方法可拓展至nano尺寸,为实现超高分辨率的nano‑LED显示屏提供了一种有利途径。

    粘附力可调控衬底及其在转移方面的应用

    公开(公告)号:CN113675129B

    公开(公告)日:2023-07-28

    申请号:CN202110840302.X

    申请日:2021-07-24

    IPC分类号: H01L21/683 H01L33/00

    摘要: 本发明涉及一种粘附力可调控衬底及其在转移方面的应用,所述粘附力可调控衬底包括衬底和设于衬底上的粘附力可调控层,所述粘附力可调控层用于与Micro LED或Mini LED芯片粘合,所述衬底为可透过紫外光衬底,所述粘附力可调控层主要由与衬底有良好粘附性同时给包结物提供反应位点的聚合物层、包结物层和含有光响应分子的被包结物层组成。在转移Micro LED或Mini LED芯片过程中,用所述粘附力可调控衬底与Micro LED或Mini LED芯片粘合,实现对Micro LED或Mini LED芯片转移。该衬底可以调节Micro LED或Mini LED芯片转移过程中粘附载体对芯片的粘附力,进而提高转移良率和效率。

    粘附力可调控衬底及其在转移方面的应用

    公开(公告)号:CN113675129A

    公开(公告)日:2021-11-19

    申请号:CN202110840302.X

    申请日:2021-07-24

    IPC分类号: H01L21/683 H01L33/00

    摘要: 本发明涉及一种粘附力可调控衬底及其在转移方面的应用,所述粘附力可调控衬底包括衬底和设于衬底上的粘附力可调控层,所述粘附力可调控层用于与Micro LED或Mini LED芯片粘合,所述衬底为可透过紫外光衬底,所述粘附力可调控层主要由与衬底有良好粘附性同时给包结物提供反应位点的聚合物层、包结物层和含有光响应分子的被包结物层组成。在转移Micro LED或Mini LED芯片过程中,用所述粘附力可调控衬底与Micro LED或Mini LED芯片粘合,实现对Micro LED或Mini LED芯片转移。该衬底可以调节Micro LED或Mini LED芯片转移过程中粘附载体对芯片的粘附力,进而提高转移良率和效率。

    纳米尺寸LED芯片阵列及其制备方法

    公开(公告)号:CN114141916A

    公开(公告)日:2022-03-04

    申请号:CN202111401694.6

    申请日:2021-11-24

    申请人: 福州大学

    摘要: 本发明提出一种纳米尺寸LED芯片阵列及其制备方法,在衬底上依次外延生长N型氮化镓层、量子阱有源层以及P型氮化镓层;在P型氮化镓层上图案化制作金属对该区域P型氮化镓中的掺杂物与氢形成的络合物起一定的作用,使氢从中解吸,以激活该区域;利用离子注入在除金属激活区域以外的区域形成高阻值区域;在高阻值区域上覆盖二氧化硅;分别在金属激活的P型氮化镓区域和N型氮化镓形成P型电极和N型电极。本发明技术方案采用离子注入形成电气隔离可以有效避免传统ICP刻蚀中的侧壁损伤问题和后续金属爬坡易断裂问题,并利用金属激活进一步提高激活区域的光电性能。

    无侧壁损伤的nano-LED阵列及其制作方法

    公开(公告)号:CN114141805A

    公开(公告)日:2022-03-04

    申请号:CN202111401746.X

    申请日:2021-11-24

    申请人: 福州大学

    摘要: 本发明提出一种无侧壁损伤的nano‑LED阵列及其制作方法,通过图形化技术和电子束蒸发,在p型GaN层上制作纳米级的金属阵列,来激活其下方的p型GaN层,从而提高这些区域的载流子浓度,进而使nano‑LED正常发光。而没有金属覆盖的区域未被激活,载流子浓度很低,呈现高阻态,刚好可隔离nano‑LED器件,使每个nano‑LED可独立工作。本发明避免了通过刻蚀来隔离nano‑LED芯片所带来的侧壁损伤,增加了nano‑LED芯片的可利用面积,提高了nano‑LED的发光效率。这种通过选择性金属激活p型GaN来制作LED芯片的方法可拓展至nano尺寸,为实现超高分辨率的nano‑LED显示屏提供了一种有利途径。

    纳米尺寸LED芯片阵列及其制备方法

    公开(公告)号:CN114141916B

    公开(公告)日:2023-08-01

    申请号:CN202111401694.6

    申请日:2021-11-24

    申请人: 福州大学

    摘要: 本发明提出一种纳米尺寸LED芯片阵列及其制备方法,在衬底上依次外延生长N型氮化镓层、量子阱有源层以及P型氮化镓层;在P型氮化镓层上图案化制作金属对该区域P型氮化镓中的掺杂物与氢形成的络合物起一定的作用,使氢从中解吸,以激活该区域;利用离子注入在除金属激活区域以外的区域形成高阻值区域;在高阻值区域上覆盖二氧化硅;分别在金属激活的P型氮化镓区域和N型氮化镓形成P型电极和N型电极。本发明技术方案采用离子注入形成电气隔离可以有效避免传统ICP刻蚀中的侧壁损伤问题和后续金属爬坡易断裂问题,并利用金属激活进一步提高激活区域的光电性能。