发光装置、发光装置的制造方法和测距装置

    公开(公告)号:CN118891793A

    公开(公告)日:2024-11-01

    申请号:CN202380028135.6

    申请日:2023-02-06

    发明人: 古濑骏介

    IPC分类号: H01S5/183

    摘要: [问题]为了提供一种具有优异可靠性的发光装置。[解决方案]一种发光装置10,包括:第一基体20,其中:第一基体20具有:第一基板21;发光元件22,设置在第一基板21的第一表面S1上并且包括多层膜22L;以及结构体23,设置在第一表面S1上位于发光元件22之间的区域中;并且结构体23包括与发光元件22相同的多层膜22L,或由与第一基板21相同的材料构成。

    摄像装置、制造方法和基板分割方法

    公开(公告)号:CN107851647B

    公开(公告)日:2022-06-14

    申请号:CN201680039846.3

    申请日:2016-07-19

    IPC分类号: H01L27/146

    摘要: 本发明提供了半导体装置和半导体装置形成方法,所述半导体装置包括:第一基板;以及第二基板,所述第二基板与第一基板相邻,其中,所述第二基板的侧壁包括一个或多个切割部,所述切割部可以包括刀片切割部和隐形切割部。本发明还提供了摄像装置和摄像装置形成方法,所述摄像装置包括:第一基板;透明层;粘合剂层,所述粘合剂层位于所述第一基板与所述透明层之间;第二基板,其中,所述第一基板被布置在所述粘合剂层与所述第二基板之间;以及凹槽,所述凹槽从所述粘合剂层延伸至所述第二基板,其中,所述凹槽填充有所述粘合剂层。

    摄像装置、制造方法和基板分割方法

    公开(公告)号:CN107851647A

    公开(公告)日:2018-03-27

    申请号:CN201680039846.3

    申请日:2016-07-19

    IPC分类号: H01L27/146

    摘要: 本发明提供了半导体装置和半导体装置形成方法,所述半导体装置包括:第一基板;以及第二基板,所述第二基板与第一基板相邻,其中,所述第二基板的侧壁包括一个或多个切割部,所述切割部可以包括刀片切割部和隐形切割部。本发明还提供了摄像装置和摄像装置形成方法,所述摄像装置包括:第一基板;透明层;粘合剂层,所述粘合剂层位于所述第一基板与所述透明层之间;第二基板,其中,所述第一基板被布置在所述粘合剂层与所述第二基板之间;以及凹槽,所述凹槽从所述粘合剂层延伸至所述第二基板,其中,所述凹槽填充有所述粘合剂层。

    发光装置及其制造方法
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115039301A

    公开(公告)日:2022-09-09

    申请号:CN202180011969.7

    申请日:2021-02-01

    摘要: [问题]提供了一种发光装置及用于制造发光装置的方法,可以改善填充发光元件周围空间的膜的填充性能。[解决方案]根据本公开的发光装置设置有:基板;依次设置在基板的第一表面上的多个发光元件和多个电极;以及设置在基板的第一表面上以包围发光元件的膜。在第一表面为基板的下表面的状态下,膜的下表面的最下部设置在高于电极的下表面的位置。因此,例如,通过在将基板设置在另一基板上之前形成膜,可以改善填充发光元件周围空间的膜的填充性能。