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公开(公告)号：CN112328113B
公开(公告)日：2024-07-09
申请号：CN202011262773.9
申请日：2020-11-12
Applicant: 京东方科技集团股份有限公司 , 绵阳京东方光电科技有限公司
IPC: G06F3/041
Abstract: 一种触控面板，包括：基板以及设置在基板上的多个触控电极和多条走线；至少一条走线与至少一个触控电极连接。至少一条走线包括叠设在基板上的第一导电线和第二导电线，第一导电线和第二导电线之间设置有走线绝缘层，第二导电线通过走线绝缘层上的至少一个过孔与第一导电线连接。至少两条相邻走线的第一导电线均具有至少一个断点，使得所述至少两条相邻走线的第一导电线之间的第一短路点与对应的第二导电线隔离；或者，至少两条相邻走线的第二导电线均具有至少一个断点，使得所述至少两条相邻走线的第二导电线之间的第二短路点与对应的第一导电线隔离。
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公开(公告)号：CN114283720A
公开(公告)日：2022-04-05
申请号：CN202210002073.9
申请日：2022-01-04
Applicant: 京东方科技集团股份有限公司 , 绵阳京东方光电科技有限公司
IPC: G09G3/00
Abstract: 本公开提供了一种显示面板及其不良像素的测试方法、显示装置，属于显示技术领域。该显示面板中的测试元件组包括第一测试电路、第二测试电路和第三测试电路共三个测试电路。其中，第一测试电路和第二测试电路均与第三测试电路耦接，以控制第三测试电路生成第一测试信号，该第一测试信号能够经第二测试电路形成第二测试信号并经测试探针传输至测试设备。如此，可以基于像素电路的结构，灵活设置测试元件组包括的每个测试电路的结构，以使得测试元件组输出至测试设备的第二测试信号接近像素电路向发光元件输出的驱动信号，进而使得测试设备基于该第二测试信号可靠确定像素电路是否异常。即，采用该测试元件组测试显示面板中不良像素的可靠性较好。
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公开(公告)号：CN113970696A
公开(公告)日：2022-01-25
申请号：CN202111235772.X
申请日：2021-10-22
Applicant: 京东方科技集团股份有限公司 , 绵阳京东方光电科技有限公司
Abstract: 本公开提供了一种电性测试方法，能够提高电性测试引脚与待测试焊盘之间的导电性。所述方法包括：将测试引脚头部浸入有机液体，所述有机液体具有加热后导电的特性；将附着有有机液体的测试引脚头部扎入待测试焊盘；向所述测试引脚和待测试焊盘施加电压，电流流经所述测试引脚、所述测试引脚与待测试焊盘之间的有机液体，以及所述待测试焊盘，所述测试引脚与待测试焊盘之间的有机液体被固化，固化完成后再进行测试。采用本公开实施例方法可以降低测试引脚与待测试焊盘接触电阻，增强测试引脚与待测试焊盘之间导电性。
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公开(公告)号：CN113436562B
公开(公告)日：2023-12-19
申请号：CN202110706625.X
申请日：2021-06-24
Applicant: 京东方科技集团股份有限公司 , 绵阳京东方光电科技有限公司
IPC: G09G3/00
Abstract: 本申请公开一种显示面板、测试方法及显示装置，涉及显示技术领域，能够改善现有的显示面板的测试引脚的设置，在测试过程中测试探针较容易被磨损，导致测试探针的消耗数量较多，进而测试成本较高的问题。显示面板包括：至少两个待测电路；测试引脚，所述测试引脚与至少两个所述待测电路电连接；切换组件，所述切换组件用于控制所述测试引脚与所述待测电路的导通和断开。
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公开(公告)号：CN107727654B
公开(公告)日：2019-12-24
申请号：CN201710902942.2
申请日：2017-09-29
Applicant: 绵阳京东方光电科技有限公司 , 京东方科技集团股份有限公司
IPC: G01N21/84
Abstract: 本发明公开了一种膜层检测方法、装置及膜层检测系统，属于面板制造领域。该膜层检测方法用于检测设置在基板上的至少一层膜层，该膜层检测方法包括：采用光源从基板设置有膜层的一侧进行照射；从基板设置有膜层的一侧，采集膜层图像，该膜层图像包括被照射的至少一层膜层的图像；根据膜层图像的亮度分布，确定至少一层膜层中最上层膜层的类型。本发明通过用光源从基板设置有膜层的一侧照射待处理的基板，在图像采集组件采集膜层图像之后，基于膜层图像的亮度分布，可以确定该至少一层膜层中最上层膜层的类型，从而避免了由于错误膜层导致面板报废或者设备宕机。达到了降低产能损失，提高生产效率的效果。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN113050013B
公开(公告)日：2023-06-20
申请号：CN202110287883.9
申请日：2021-03-17
Applicant: 京东方科技集团股份有限公司 , 绵阳京东方光电科技有限公司
Abstract: 本文公开一种检测扎针测试探针接触性能的装置、方法及面板。所述检测扎针测试探针接触性能的装置，包括：信号线结构和测试结构；所述信号线结构包括一个或多个信号线区，所述测试结构包括一个或多个测试区；任意一个信号线区包括：多条信号线；任意一个测试区包括：多个测试垫和多条测试引线；信号线区与测试区一一对应；对任意一个测试区，测试垫用于接触探针，测试垫的一端与信号线的一端一一对应连接，测试垫的另一端与测试引线的第一端一一对应连接，同一个测试区内的所有测试引线的第二端相互连接。本文提供的检测扎针测试探针接触性能的装置能够供测试系统便捷地检测信号线的扎针测试中是否存在探针与测试垫的接触不良。
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公开(公告)号：CN110502151B
公开(公告)日：2023-01-17
申请号：CN201910795493.5
申请日：2019-08-27
Applicant: 京东方科技集团股份有限公司 , 绵阳京东方光电科技有限公司
IPC: G06F3/041
Abstract: 本文提供了一种触控面板、触控显示装置及触控面板的制备方法。触控面板包括：触控区和位于触控区一侧的边框区，边框区设置有控制电路，触控区包括：规则排布的多个第一电极和多个第二电极，以及用于将每一列第一电极与控制电路连接的第一引线和用于将每一行第二电极与控制电路连接的第二引线；其中，连接每一列第一电极中远离控制电路一侧的第一电极与控制电路的第一引线位于两列电极之间；所有第二引线位于触控区两侧靠近边缘的两列电极之间。本申请通过将第一引线和第二引线设置在触控区，可以减少边框宽度甚至消除边框，进而利于边框变窄或全面屏化。
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公开(公告)号：CN113050013A
公开(公告)日：2021-06-29
申请号：CN202110287883.9
申请日：2021-03-17
Applicant: 京东方科技集团股份有限公司 , 绵阳京东方光电科技有限公司
Abstract: 本文公开一种检测扎针测试探针接触性能的装置、方法及面板。所述检测扎针测试探针接触性能的装置，包括：信号线结构和测试结构；所述信号线结构包括一个或多个信号线区，所述测试结构包括一个或多个测试区；任意一个信号线区包括：多条信号线；任意一个测试区包括：多个测试垫和多条测试引线；信号线区与测试区一一对应；对任意一个测试区，测试垫用于接触探针，测试垫的一端与信号线的一端一一对应连接，测试垫的另一端与测试引线的第一端一一对应连接，同一个测试区内的所有测试引线的第二端相互连接。本文提供的检测扎针测试探针接触性能的装置能够供测试系统便捷地检测信号线的扎针测试中是否存在探针与测试垫的接触不良。
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公开(公告)号：CN112328120A
公开(公告)日：2021-02-05
申请号：CN202011348111.3
申请日：2020-11-26
Applicant: 京东方科技集团股份有限公司 , 绵阳京东方光电科技有限公司
IPC: G06F3/041
Abstract: 本申请公开了一种触控面板及触控显示装置，包括叠层设置的第一触控金属层和第二触控金属层，第一触控金属层与第二触控金属层上分别设有多根触控金属线，触控面板包括：触控区和位于触控区外围的边框区，边框区位于第一触控金属层上的触控金属线，与边框区位于第二触控金属层上的触控金属线间隔设置。根据本申请实施例提供的技术方案，通过将两层触控金属层上的触控金属线进行错位设置，第一层触控金属层和第二层触控金属层上设置的触控金属线间隔设置，使得每一层触控金属层上的触控金属线之间的间距增大，在外挂式触控传感器制备工艺过程中，即便有膜碎屑的存在，也不容易发生短路，有利于短路不良发生率的降低。
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公开(公告)号：CN109448619A
公开(公告)日：2019-03-08
申请号：CN201910001872.2
申请日：2019-01-02
Applicant: 京东方科技集团股份有限公司 , 绵阳京东方光电科技有限公司
IPC: G09G3/00 , G09G3/3208
Abstract: 本申请公开一种混色检查方法及装置，属于显示技术领域。该方法包括：获取显示面板的待检查区域的彩色图像；根据待检查区域的彩色图像，确定待检查区域的颜色的各个颜色分量值；根据待检查区域的颜色的各个颜色分量值，确定待检查区域的颜色的CIE色坐标；根据待检查区域的颜色的CIE色坐标，判断显示面板的混色是否处于目标混色范围内，当显示面板的混色未处于目标混色范围内时，根据待检查区域的颜色的CIE色坐标，确定显示面板的混色程度，该混色程度为不同基色在混合后的颜色中所占的比例。本申请可以改善显示面板的混色检查效果。本申请用于显示面板的混色检查。
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