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公开(公告)号：CN108627247B
公开(公告)日：2022-02-11
申请号：CN201810239146.X
申请日：2018-03-22
申请人： 罗伯特·博世有限公司
摘要： 本发明涉及傅里叶变换光谱仪和用于运行傅里叶变换光谱仪的方法。本发明涉及傅里叶变换光谱仪，其包括：偏振单元，用于产生第一偏振状态的至少一个第一光束；探测单元，用于探测光线；相移单元，其具有至少一个第一相移元件，第一相移元件被构造为在使用第一光束的情况下产生由彼此相移的并且彼此正交偏振的部分光线构成的第一相移光束；透镜单元，其具有至少一个第一透镜元件，被构造为使第一相移光束转向到探测单元的第一部分上；布置在相移单元与透镜单元之间的附加相移单元，用于在第一相移光束的部分光线之间（和/或在第二相移光线的部分光线之间）加载附加的与角度有关的相位差；和检偏器单元，用于使从附加相移单元射出的光线偏振。
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公开(公告)号：CN110207820A
公开(公告)日：2019-09-06
申请号：CN201910146089.5
申请日：2019-02-27
申请人： 罗伯特·博世有限公司
摘要： 本发明涉及一种用于运行光谱仪（100）的方法，其中所述光谱仪（100）具有用于照射试样（104）的光源（102）、用于检测由试样（104）反射和/或透射的光的强度的检测器（108）以及连接在所述检测器（108）之前的、能够调节的光学滤波器（106）。在所述方法中首先确定用于在检测器（108）处生成恒定的信号（110）所必需的光功率谱，其中所述光功率谱代表了光源（102）的、根据从光学滤波器（106）所透射的波长的理论光功率。接着在使用光功率谱作为调节量的情况下改变光源（102）的实际光功率，以便这样再调节实际光功率，即在检测器（108）处生成对于在光学滤波器（106）处透射的波长来说恒定的信号（110）。
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公开(公告)号：CN108496066A
公开(公告)日：2018-09-04
申请号：CN201680080692.2
申请日：2016-12-05
申请人： 罗伯特·博世有限公司
摘要： 本发明涉及一种用于光谱分析和图像检测的微型光谱仪（10），包括：-探测单元（7），用于检测光学参量；和-光学单元，包括极化器（2）、Savart元件（40）和分析器（5），所述Savart元件包括第一双折射元件（4a）和第二双折射元件（4b），其特征在于，-在极化器（2）和Savart元件（40）之间的光路中布置第一液晶元件（3a），其被设计用于将从第一液晶元件射出的辐射（103）的第四极化轴（203）调整为，使得从第一液晶元件射出的辐射（103）在微型光谱仪（10）的成像模式中在没有分裂的情况下通过第一双折射元件（4a）并且从第一液晶元件射出的辐射（103）在微型光谱仪（10）的光谱仪模式中在第一双折射元件（4a）中被分裂成第一正常射束（500b）和第一异常射束（500a），并且-其中在Savart元件（40）后方的光路中布置分析器（5），并且-在分析器（5）后方的光路中布置探测单元（7）。
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公开(公告)号：CN111189540A
公开(公告)日：2020-05-22
申请号：CN201911105933.6
申请日：2019-11-13
申请人： 罗伯特·博世有限公司
摘要： 本发明涉及一种在使用以干涉仪的方式进行频谱过滤的系统（102）和探测器（103）的情况下用于生成光（101）的频谱（S）的方法，其中借助所述系统（102）来以不同曝光时间记录多个干涉图像，其中由所述多个干涉图像来形成人工的干涉图像并且由此来确定频谱（S），本发明还涉及一种频谱仪单元（100）。
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公开(公告)号：CN108627247A
公开(公告)日：2018-10-09
申请号：CN201810239146.X
申请日：2018-03-22
申请人： 罗伯特·博世有限公司
摘要： 本发明涉及傅里叶变换光谱仪和用于运行傅里叶变换光谱仪的方法。本发明涉及傅里叶变换光谱仪，其包括：偏振单元，用于产生第一偏振状态的至少一个第一光束；探测单元，用于探测光线；相移单元，其具有至少一个第一相移元件，第一相移元件被构造为在使用第一光束的情况下产生由彼此相移的并且彼此正交偏振的部分光线构成的第一相移光束；透镜单元，其具有至少一个第一透镜元件，被构造为使第一相移光束转向到探测单元的第一部分上；布置在相移单元与透镜单元之间的附加相移单元，用于在第一相移光束的部分光线之间（和/或在第二相移光线的部分光线之间）加载附加的与角度有关的相位差；和检偏器单元，用于使从附加相移单元射出的光线偏振。
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公开(公告)号：CN111189540B
公开(公告)日：2024-07-23
申请号：CN201911105933.6
申请日：2019-11-13
申请人： 罗伯特·博世有限公司
摘要： 本发明涉及一种在使用以干涉仪的方式进行频谱过滤的系统（102）和探测器（103）的情况下用于生成光（101）的频谱（S）的方法，其中借助所述系统（102）来以不同曝光时间记录多个干涉图像，其中由所述多个干涉图像来形成人工的干涉图像并且由此来确定频谱（S），本发明还涉及一种频谱仪单元（100）。
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公开(公告)号：CN108303387B
公开(公告)日：2022-03-15
申请号：CN201810023301.4
申请日：2018-01-10
申请人： 罗伯特·博世有限公司
摘要： 本发明涉及一种用于在考虑到光谱评估至少一个单个测量的情况下分析测量区域的方法，其包括如下步骤：•以电磁射束辐射测量区域的物体，•光谱测定地测量来自测量区域的射束，其中为了分析测量区域执行至少两个单个测量，•针对第一单个测量利用第一射束分布以电磁射束辐射物体并且通过光谱测定地测量来提供第一光谱测定的探测器信号，•针对第二单个测量利用与第一射束分布不同的第二射束分布以电磁射束辐射物体并且通过光谱测定地测量来提供第二光谱测定的探测器信号，•通过比较第一光谱测定的探测器信号和第二光谱测定的探测器信号获知比较值，比较值是针对存在直接反射的指示器，并且•为了光谱评估，根据比较值选出探测器信号，用以分析测量区域。
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公开(公告)号：CN108496066B
公开(公告)日：2020-08-11
申请号：CN201680080692.2
申请日：2016-12-05
申请人： 罗伯特·博世有限公司
摘要： 本发明涉及一种用于光谱分析和图像检测的微型光谱仪（10），包括：‑探测单元（7），用于检测光学参量；和‑光学单元，包括极化器（2）、Savart元件（40）和分析器（5），所述Savart元件包括第一双折射元件（4a）和第二双折射元件（4b），其特征在于，‑在极化器（2）和Savart元件（40）之间的光路中布置第一液晶元件（3a），其被设计用于将从第一液晶元件射出的辐射（103）的第四极化轴（203）调整为，使得从第一液晶元件射出的辐射（103）在微型光谱仪（10）的成像模式中在没有分裂的情况下通过第一双折射元件（4a）并且从第一液晶元件射出的辐射（103）在微型光谱仪（10）的光谱仪模式中在第一双折射元件（4a）中被分裂成第一正常射束（500b）和第一异常射束（500a），并且‑其中在Savart元件（40）后方的光路中布置分析器（5），并且‑在分析器（5）后方的光路中布置探测单元（7）。
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