一种基于混频的相干光接收机参数测量方法、装置

    公开(公告)号:CN108449131A

    公开(公告)日:2018-08-24

    申请号:CN201810330924.6

    申请日:2018-04-16

    摘要: 本发明公开了一种基于混频的相干光接收机参数测量方法。将光载波分为两路,对其中一路进行移频操作,得到移频光载波信号,用第一微波信号对另一路光载波进行电光强度调制,得到载波抑制的光双边带信号,并将移频光载波信号和载波抑制的光双边带信号分别输入相干光接收机的两个输入端口;对相干光接收机的每一路输出信号,先将其与一个频率和所述移频操作的移频量相同的第二微波信号进行混频,然后提取出混频信号的幅度和相位信息,最后得到在该光载波波长下,所述相干光接收机每一路输出通道的幅度响应、相位响应。本发明还公开了一种基于混频的相干光接收机参数测量装置。本发明能够大幅拓展测量范围,提高测量精度和测量效率。

    一种光器件光谱响应测量方法及测量装置

    公开(公告)号:CN105738080B

    公开(公告)日:2018-01-02

    申请号:CN201610101041.9

    申请日:2016-02-24

    IPC分类号: G01M11/02

    摘要: 本发明公开了一种光器件光谱响应测量方法,属于微波光子测量技术领域。本发明利用双边带相位调制方法和双边带幅度调制方法将微波扫频信号分别调制于光载波上,分别得到双边带相位调制信号和双边带幅度调制信号;分别以双边带相位调制信号和双边带幅度调制信号作为探测信号,使探测信号通过待测光器件后进行拍频,将待测光器件的光谱响应信息转换至电域,然后利用幅相提取方法提取待测光器件的传输函数;将待测光器件在两种探测信号下的传输函数分别进行相加和相减,得到待测光器件的宽带传输函数。本发明还公开了一种光器件光谱响应测量装置。本发明具有更大的测量范围,并且可工作在任意波长。

    基于光矢量分析的光时延测量方法及装置

    公开(公告)号:CN113340571B

    公开(公告)日:2023-11-10

    申请号:CN202110596035.6

    申请日:2021-05-29

    IPC分类号: G01M11/02

    摘要: 本发明公开了一种基于光矢量分析的光时延测量方法,用微波扫频信号对频率随时间周期性变化的单频光载波进行强度调制;然后将所生成的调制光信号输入待测光链路并将反射回来的调制光信号转换为电信号;提取所述电信号的幅相信息并对其进行逆傅里叶变换,得到待测光链路的时域脉冲响应,并根据其中所包含的各反射点的时域脉冲响应计算出各反射点的光时延。本发明还公开一种基于光矢量分析的光时延测量装置。相比现有技术,本发明同时具有超远的测量距离及较高的时域分辨力和时延测量精度。

    一种基于混频的相干光接收机参数测量方法、装置

    公开(公告)号:CN108449131B

    公开(公告)日:2019-11-08

    申请号:CN201810330924.6

    申请日:2018-04-16

    摘要: 本发明公开了一种基于混频的相干光接收机参数测量方法。将光载波分为两路,对其中一路进行移频操作,得到移频光载波信号,用第一微波信号对另一路光载波进行电光强度调制,得到载波抑制的光双边带信号,并将移频光载波信号和载波抑制的光双边带信号分别输入相干光接收机的两个输入端口;对相干光接收机的每一路输出信号,先将其与一个频率和所述移频操作的移频量相同的第二微波信号进行混频,然后提取出混频信号的幅度和相位信息,最后得到在该光载波波长下,所述相干光接收机每一路输出通道的幅度响应、相位响应。本发明还公开了一种基于混频的相干光接收机参数测量装置。本发明能够大幅拓展测量范围,提高测量精度和测量效率。

    光纤长度测量方法及测量装置

    公开(公告)号:CN108801153A

    公开(公告)日:2018-11-13

    申请号:CN201810638928.0

    申请日:2018-06-20

    IPC分类号: G01B11/02

    摘要: 本发明涉及一种光纤长度测量方法,属于光学测量技术领域。该方法包括:将微波信号强度调制于连续光载波,生成调制光信号;以所述调制光信号作为探测光,将其从待测光纤的第一端注入,并从待测光纤的第一端接收待测光纤的第二端的反射光信号;将所述反射光信号转换为电信号,并从中提取基频信号,然后测量出该基频信号相对于所述微波信号的相位变化;依据所述相位变化获得待测光纤的长度。本发明还公开了一种光纤长度测量装置。相比现有技术,本发明能够实现对大范围的光纤长度进行高精度测量。

    一种光器件光谱响应测量方法及测量装置

    公开(公告)号:CN105738080A

    公开(公告)日:2016-07-06

    申请号:CN201610101041.9

    申请日:2016-02-24

    IPC分类号: G01M11/02

    CPC分类号: G01M11/02

    摘要: 本发明公开了一种光器件光谱响应测量方法,属于微波光子测量技术领域。本发明利用双边带相位调制方法和双边带幅度调制方法将微波扫频信号分别调制于光载波上,分别得到双边带相位调制信号和双边带幅度调制信号;分别以双边带相位调制信号和双边带幅度调制信号作为探测信号,使探测信号通过待测光器件后进行拍频,将待测光器件的光谱响应信息转换至电域,然后利用幅相提取方法提取待测光器件的传输函数;将待测光器件在两种探测信号下的传输函数分别进行相加和相减,得到待测光器件的宽带传输函数。本发明还公开了一种光器件光谱响应测量装置。本发明具有更大的测量范围,并且可工作在任意波长。