微波光子滤波方法及微波光子滤波装置

    公开(公告)号:CN111948837A

    公开(公告)日:2020-11-17

    申请号:CN202010856221.4

    申请日:2020-08-24

    IPC分类号: G02F1/01 G02F1/35

    摘要: 本发明公开了一种微波光子滤波方法,用频率为f的微波信号对光载波进行相位调制,生成n阶光边带的调制光信号,n为大于等于2的整数;用中心频率与光载波相差Δf、通带宽度为BW的光带通滤波器对所述调制光信号滤波,其中, fBW、fc分别为所述微波光子滤波方法滤波通带的带宽和中心频率;对滤波后的调制光信号进行光电转换,得到所述微波信号的2n-1阶谐波分量。本发明还公开了一种微波光子滤波装置。本发明利用相位调制器的非线性,能够实现非线性的奇次高阶谐波的微波光子滤波,可将微波光子滤波器的中心频率提高至W波段甚至更高频段。

    基于啁啾强度调制的光矢量分析方法及装置

    公开(公告)号:CN107634807B

    公开(公告)日:2019-06-21

    申请号:CN201710825114.3

    申请日:2017-09-14

    IPC分类号: H04B10/61 H04B10/69 G01M11/00

    摘要: 本发明公开了一种基于啁啾强度调制的光矢量分析方法。本发明以啁啾强度调制光双边带信号作为探测光通过待测光器件,并通过光电探测将光信号转换为电信号;通过改变其中双边带信号与光载波之间的相位差来获得不同啁啾强度调制状态的探测光信号,然后利用不同啁啾强度调制状态的探测光信号所得到的电信号的幅相信息与探测光信号之间的关系建立方程组,求解得到待测光器件的幅相响应。本发明还公开了一种基于啁啾强度调制的光矢量分析装置。本发明能够在实现光器件幅相响应高精度测量的同时,避免复杂且相对窄带的单边带调制或载波频移,拓展测量范围一倍,消除残余边带导致的测量误差,消除系统内存在的滤波机制,大幅度降低系统的成本与复杂度。

    一种光器件光谱响应测量方法及测量装置

    公开(公告)号:CN105738080B

    公开(公告)日:2018-01-02

    申请号:CN201610101041.9

    申请日:2016-02-24

    IPC分类号: G01M11/02

    摘要: 本发明公开了一种光器件光谱响应测量方法,属于微波光子测量技术领域。本发明利用双边带相位调制方法和双边带幅度调制方法将微波扫频信号分别调制于光载波上,分别得到双边带相位调制信号和双边带幅度调制信号;分别以双边带相位调制信号和双边带幅度调制信号作为探测信号,使探测信号通过待测光器件后进行拍频,将待测光器件的光谱响应信息转换至电域,然后利用幅相提取方法提取待测光器件的传输函数;将待测光器件在两种探测信号下的传输函数分别进行相加和相减,得到待测光器件的宽带传输函数。本发明还公开了一种光器件光谱响应测量装置。本发明具有更大的测量范围,并且可工作在任意波长。