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公开(公告)号：CN101111775A
公开(公告)日：2008-01-23
申请号：CN200680003910.9
申请日：2006-01-27
申请人： 英特尔公司
IPC分类号： G01R31/3185
CPC分类号： G01R31/318566 , G01R31/31816 , G01R31/318541 , G01R31/318572 , G11C2029/3202
摘要： 在一个实施例中，提供了一种带有系统电路、扫描输出电路和差错检测电路的设备。所述系统电路适于响应于数据输入信号和系统时钟信号生成第一输出信号。所述扫描输出电路适于响应于所述数据输入信号和所述系统时钟信号生成第二输出信号。所述差错检测电路连接至所述系统电路和所述扫描输出电路，其适于响应于所述第一输出信号和所述第二输出信号之间的相对条件生成差错信号。
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公开(公告)号：CN1537312A
公开(公告)日：2004-10-13
申请号：CN02810647.4
申请日：2002-03-08
申请人： 英特尔公司
IPC分类号： G11C29/00
CPC分类号： G11C29/028 , G11C29/02 , G11C29/50 , G11C2029/5004
摘要： 一种用于测试存储单元的装置和方法，所述方法包括：将第一和第二存储单元分别连接到第一和第二位线；通过第一和第二位线从第一和第二存储单元中读出数据；以及比较第一和第二位线的电压电平。
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公开(公告)号：CN101111775B
公开(公告)日：2011-07-06
申请号：CN200680003910.9
申请日：2006-01-27
申请人： 英特尔公司
IPC分类号： G01R31/3185
CPC分类号： G01R31/318566 , G01R31/31816 , G01R31/318541 , G01R31/318572 , G11C2029/3202
摘要： 在一个实施例中，提供了一种带有系统电路、扫描输出电路和差错检测电路的设备。所述系统电路适于响应于数据输入信号和系统时钟信号生成第一输出信号。所述扫描输出电路适于响应于所述数据输入信号和所述系统时钟信号生成第二输出信号。所述差错检测电路连接至所述系统电路和所述扫描输出电路，其适于响应于所述第一输出信号和所述第二输出信号之间的相对条件生成差错信号。
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公开(公告)号：CN100538910C
公开(公告)日：2009-09-09
申请号：CN02810647.4
申请日：2002-03-08
申请人： 英特尔公司
IPC分类号： G11C29/00
CPC分类号： G11C29/028 , G11C29/02 , G11C29/50 , G11C2029/5004
摘要： 一种用于测试存储单元的装置和方法，所述方法包括：将第一和第二存储单元分别连接到第一和第二位线；通过第一和第二位线从第一和第二存储单元中读出数据；以及比较第一和第二位线的电压电平。
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