半导体装置
    3.
    发明公开
    半导体装置 审中-实审

    公开(公告)号:CN116539071A

    公开(公告)日:2023-08-04

    申请号:CN202310040444.7

    申请日:2023-01-11

    Abstract: 这里公开的示例主要涉及具有可变形膜的半导体装置,用于测量加速度、振动或压力。示例还涉及包括该半导体装置的传感器装置。示例还涉及用于制造半导体装置和传感器装置的方法。半导体装置可以是微机电系统MEMS。一种半导体装置(100、200、300、600)可以包括:具有膜边界(12'、312')的可变形膜(12、312);对应于膜边界(12'、312')保持膜(12、312)的结构(60);至少一个电触点(51a、51b)以获得指示膜(12、312)的变形的电信号(52);和从膜(12、312)悬挂的多个质量元件(22、622、623)。

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