成像设备以及方法
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117451676A

    公开(公告)日:2024-01-26

    申请号:CN202310923204.1

    申请日:2023-07-26

    Abstract: 用于对样本成像的成像设备,包括激发单元,激发单元被配置为发射激发光,用于激发附着至样本的第一特征和样本的至少一个第二特征的荧光团。成像设备还包括检测单元,检测单元被配置为接收来自被激发的荧光团的荧光,并从接收的荧光生成至少一个荧光图像。成像设备进一步包括控制器。控制器被配置为基于图像分割确定与第一特征相对应的荧光图像的第一图像区域和与第二特征相对应的荧光图像的第二图像区域,基于第一图像区域生成第一图像和基于第二图像区域生成第二图像,和/或生成包括至少第一图像区域和第二图像区域的合成图像。

    用于在自动聚焦系统中使用的图像处理装置和方法

    公开(公告)号:CN114424102A

    公开(公告)日:2022-04-29

    申请号:CN202080061266.0

    申请日:2020-08-31

    Abstract: 本发明涉及一种用于确定自动聚焦系统(13),特别是被动式自动聚焦系统(13)中的经聚焦输出图像(OAF(xi))的图像处理装置(1)。所述图像处理装置(1)可以是观察设备的一部分并且例如是显微镜(2a)或内窥镜。为了提供更可靠的自动聚焦功能,根据本发明的装置和方法被配置为检索一组(11)输入图像(I(xi));为一组输入图像中的至少一个输入图像计算至少一个基线估计(f(xi)),所述至少一个基线估计表示具有大于预定图像特征长度尺度(flj)的长度尺度的图像结构;计算一组(31)输出图像(O(xi));基于(a)输入图像组的不同输入图像和此输入图像的至少一个基线估计和(b)用于相应的不同输入图像的至少一个基线估计中的一个计算一组输出图像的每个输出图像;将输出图像组中的一个输出图像确定为经聚焦输出图像。通过计算基线估计来识别基线,其中基线表示仅具有一定长度尺度的图像特征,去除模糊,从而更容易识别输出图像以进行自动聚焦。

    用于检查和处理显微的样本的方法和检查系统

    公开(公告)号:CN107624159B

    公开(公告)日:2020-05-12

    申请号:CN201680029004.X

    申请日:2016-05-20

    Abstract: 利用成像装置和激光显微切割系统检查和处理布置在载物片上的显微的样本的方法。利用激光显微切割系统在载物片上产生至少两个标注记号;把样本放置到同一个载物片上;利用成像装置在载物片上产生样本的包括标注记号的数字图像;确定出图像的图像区,并产生表明图像区的位置的第一位置信息数据。识别图像中的标注记号并产生表明图像中的标注记号位置的第二位置信息数据。在把第一和第二位置信息数据提供给激光显微切割系统之后,使得带有样本和标注记号的载物片成像,识别标注记号,产生表明激光显微切割系统中的标注记号位置的第三位置信息数据。使得第一、第二和第三位置信息数据相关联,并利用激光显微切割系统处理与图像区相应的样本区域。

    用于激光显微切割的方法和激光显微切割系统

    公开(公告)号:CN107110749A

    公开(公告)日:2017-08-29

    申请号:CN201680006021.1

    申请日:2016-01-19

    Abstract: 用于激光显微切割的方法包括在激光显微切割系统中以图像产生方式检测待被切割的对象的至少部分并生成第一数字对象图像。基于第一数字对象图像限定第一处理说明。在第一处理步骤中,根据第一处理说明使用激光显微切割系统的激光束处理对象。以图像产生方式检测对象的至少部分并产生第二数字对象图像。在第一处理步骤的执行期间基于第二数字对象图像限定第二处理说明。在第二处理步骤中,根据第二处理说明使用激光显微切割系统的激光束处理对象。

    用于提取显微镜样品的一部分的方法和系统

    公开(公告)号:CN116773290A

    公开(公告)日:2023-09-19

    申请号:CN202310246354.3

    申请日:2023-03-14

    Abstract: 本发明主要涉及一种方法,该方法包括:将液体覆盖物(272)施加(204)到显微镜样品(252.1、252.2)以获得经处理的显微镜样品(252.3);使用成像系统产生(210)用于所述经处理的显微镜样品(252.3)的一部分(258.2)的至少一个标记(282);从所述经处理的显微镜样品(252.3)移除(212)所述液体覆盖物(272)的至少一部分以获得未覆盖的显微镜样品(252.4);以及基于所述至少一个标记提取(216)未覆盖的显微镜样品(254.2)的一部分(258.2)以获得提取的部分(258.3)。本发明还涉及一种系统。

    用于激光显微切割的方法和激光显微切割系统

    公开(公告)号:CN107110749B

    公开(公告)日:2020-05-12

    申请号:CN201680006021.1

    申请日:2016-01-19

    Abstract: 用于激光显微切割的方法包括在激光显微切割系统中以图像产生方式检测待被切割的对象的至少部分并生成第一数字对象图像。基于第一数字对象图像限定第一处理说明。在第一处理步骤中,根据第一处理说明使用激光显微切割系统的激光束处理对象。以图像产生方式检测对象的至少部分并产生第二数字对象图像。在第一处理步骤的执行期间基于第二数字对象图像限定第二处理说明。在第二处理步骤中,根据第二处理说明使用激光显微切割系统的激光束处理对象。

    用于检查和处理显微的样本的方法和检查系统

    公开(公告)号:CN107624159A

    公开(公告)日:2018-01-23

    申请号:CN201680029004.X

    申请日:2016-05-20

    Abstract: 提出一种用来利用成像装置(20)和激光显微切割系统(10)检查和处理布置在载物片(50)上的显微的样本(52)的方法(100)。在此,利用所述激光显微切割系统(10)在所述载物片(50)上产生(101)至少两个标注记号(51);把所述样本(52)放置(102)到同一个载物片(50)上;利用所述成像装置(20)在所述载物片(50)上产生(103)所述样本(52)的数字图像(40),其中,该图像(40)也包括所述标注记号(51);确定出(104)所述图像(40)的至少一个图像区(41),并产生第一位置信息数据,所述第一位置信息数据表明了所述图像(40)中的至少一个图像区(41)的位置。此外,识别(105)所述图像(40)中的所述标注记号(51)并产生第二位置信息数据,所述第二位置信息数据表明了所述图像(40)中的所述标注记号(51)的位置。在那里,在把第一和第二位置信息数据提供(106)给所述激光显微切割系统(10)之后,使得带有所述样本(52)和所述标注记号(51)的所述载物片(50)成像(107),并识别(108)所述标注记号(51),以及产生第三位置信息数据,所述第三位置信息数据表明了所述激光显微切割系统(10)中的所述标注记号(51)的位置。使得第一、第二和第三位置信息数据相关联,并利用所述激光显微切割系统(10)处理与至少一个图像区(41)相应的至少一个样本区域(53)。用于实施该方法的机构也是本发明的主题。

    用于在自动聚焦系统中使用的图像处理装置和方法

    公开(公告)号:CN114424102B

    公开(公告)日:2024-05-07

    申请号:CN202080061266.0

    申请日:2020-08-31

    Abstract: 本发明涉及一种用于确定自动聚焦系统(13),特别是被动式自动聚焦系统(13)中的经聚焦输出图像(OAF(xi))的图像处理装置(1)。所述图像处理装置(1)可以是观察设备的一部分并且例如是显微镜(2a)或内窥镜。为了提供更可靠的自动聚焦功能,根据本发明的装置和方法被配置为检索一组(11)输入图像(I(xi));为一组输入图像中的至少一个输入图像计算至少一个基线估计(f(xi)),所述至少一个基线估计表示具有大于预定图像特征长度尺度(flj)的长度尺度的图像结构;计算一组(31)输出图像(O(xi));基于(a)输入图像组的不同输入图像和此输入图像的至少一个基线估计和(b)用于相应的不同输入图像的至少一个基线估计中的一个计算一组输出图像的每个输出图像;将输出图像组中的一个输出图像确定为经聚焦输出图像。通过计算基线估计来识别基线,其中基线表示仅具有一定长度尺度的图像特征,去除模糊,从而更容易识别输出图像以进行自动聚焦。

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