适用于卷绕系统的高反光卷材偏移量测量方法

    公开(公告)号:CN118936309A

    公开(公告)日:2024-11-12

    申请号:CN202411169875.4

    申请日:2024-08-26

    Abstract: 本发明公开了一种适用于卷绕系统的高反光卷材偏移量测量方法,通过横杆连接块和相机夹具调整工业相机的位置,使相机的视角能够覆盖被测卷材的边缘区域;根据卷材面的耀光强度旋转镜头偏振片的角度;通过工业相机和双远心镜头的固有参数计算图像中单个像素点对应的真实世界中的尺寸;建立图像的统计直方图,利用直方图定位帧边缘位置和边缘的倾斜度;最终得到偏移量信息。本发明方法可适用于收、放高反光卷材的卷绕系统,同时对阴影和环境光具有一定的鲁棒性,能极大提高卷材偏移量检测的环境适应性及测量准确性。

    一种对阴影鲁棒的透明卷材偏移量测量方法

    公开(公告)号:CN118864511A

    公开(公告)日:2024-10-29

    申请号:CN202410880746.X

    申请日:2024-07-02

    Abstract: 本发明公开了一种对阴影鲁棒的透明卷材偏移量测量方法,使用安装有双远心镜头的分焦平面偏振相机,分别拍摄在阴影条件下卷材面的初始帧图像和第i帧图像,计算初始帧和第i帧的偏振度图像,分别对初始帧和第i帧的偏振度图像进行高斯滤波和二值化,在二值图像中检测出连通区域并绘制最大连通区域的边界框,提取出初始帧和第i帧图像右侧边界框的横坐标值,横坐标值做差运算判断是否存在偏移,利用尺寸对应值计算真实偏移量的数值。本发明方法可以实现边缘信息的准确检测,具有系统成本低、标定速度快、不易漏检的优势。

    适用于卷绕系统的石墨卷材形态学异常检测方法

    公开(公告)号:CN119180783A

    公开(公告)日:2024-12-24

    申请号:CN202411169874.X

    申请日:2024-08-26

    Abstract: 本发明公开了一种适用于卷绕系统的石墨卷材形态学异常检测方法,首先调整横杆连接块和相机可调夹具的位置;在卷绕系统开启时,使用分焦平面偏振相机同时拍摄卷材不同偏振角度的强度图像;对偏振度差分图像做高斯滤波,再进行二值化,最后提取连通分量;建立形态学异常检测判定阈值,计算出连通分量的质心和边界框信息;最后通过连通分量的质心和边界框信息定义一个圆形轮廓线,基于活动轮廓模型检测的偏振度图像,输出该帧形态学异常区域的检测结果。本发明能够克服现有基于计算机成像的检测方法在面对石墨卷材时,难以提取出准确、丰富的特征点和特征区域,导致形态学异常检测不准确和漏检的问题。

    一种对耀光鲁棒的透明卷材表面缺陷检测方法

    公开(公告)号:CN119104554A

    公开(公告)日:2024-12-10

    申请号:CN202411169876.9

    申请日:2024-08-26

    Abstract: 本发明公开了一种对耀光鲁棒的透明卷材表面缺陷检测方法,首先拍摄耀光条件下卷材面的偏振马赛克图像,通过插值计算得到四个角度的偏振图像,计算强度图像和偏振相位角图像;然后对偏振相位角图像进行高斯滤波,对滤波后的图像进行二值化,在二值图像中检测出连通区域,绘制最大连通区域的边界框,获取表面耀光的区域;再用强度图像减去表面耀光的区域,对图像的剩余部分进行高斯滤波,检测出连通区域,绘制最大连通区域的边界框;当在强度图像中检测到最大连通区域的边界框时,卷绕系统停止运行,并输出表面缺陷检测结果。本发明方法具有对耀光鲁棒性强、检测稳定性高、检测速度快的优势。

    适用于金属表面抗干扰的激光位移传感器测量装置及方法

    公开(公告)号:CN119103975A

    公开(公告)日:2024-12-10

    申请号:CN202411169872.0

    申请日:2024-08-26

    Abstract: 本发明公开了一种适用于金属表面抗干扰的激光位移传感器测量装置及方法。首先建立激光位移传感器激光二极管发出光束的立体角模型,计算激光束经过扩散透镜扩散后总的立体角信息;然后建立激光位移传感器单独使用时的光路模型,计算传感器本机受光元件的立体角信息;接下来建立激光位移传感器组合使用时的光路模型,计算传感器邻机受光元件的立体角信息;最后计算激光位移传感器单独和组合使用时的阈值约束条件,利用该约束条件建立中性滤光片参数约束模型,将合适的中性滤光片放置在传感器接收端的前部。本发明能够解决在面对金属表面时激光位移传感器无响应或响应异常的问题,同时在多传感器同时应用的场景中具备一定的抗干扰能力。

    一种亚波长金属线栅偏振器件偏振矢量定标装置及方法

    公开(公告)号:CN118225392A

    公开(公告)日:2024-06-21

    申请号:CN202410250401.6

    申请日:2024-03-05

    Abstract: 本发明公开了一种亚波长金属线栅偏振器件偏振矢量定标装置及方法,包括激光发射器、光源调整镜组、基准偏振镜、磁光调控组件、金属线栅偏振器件、聚光镜组和光电转换信号处理组件;所有部件在同一水平面上或同一竖直平面内;激光发射器发出的信号光通过光源调整镜组准直匀化后,入射至基准偏振镜;基准偏振镜将激光光源转化为线偏振光,该线偏振光透过磁光调控组件后照射至亚波长金属线栅偏振器件,通过金属线栅偏振器件后照射至聚光镜组,经聚光镜组汇聚后被光电转换信号处理组件接收。本发明方法不受光源能量和使用环境的影响,定标精度高,解决了线栅偏振器件偏振矢量定标问题,定标装置结构简单、操作方便、测量过程简单易实施。

    一种基于三维轮廓线的表面粗糙度参数测量方法

    公开(公告)号:CN116295137A

    公开(公告)日:2023-06-23

    申请号:CN202310059990.5

    申请日:2023-01-19

    Abstract: 本发明公开了一种基于三维轮廓线的表面粗糙度参数测量方法,首先获取粗糙度对比样块表面四个偏振角度的红外图像,其次通过求解斯托克斯矢量计算出红外辐射的偏振参数,建立目标红外辐射偏振特性与表面法向量之间的关系,然后通过全局积分的方法解析出目标表面的三维形态,最后三维表面中提取十条剖面轮廓线并计算粗糙度Ra、Rq、Rz参数。本发明不受零部件表面特征点稀少特性的影响,具有非接触、测量结果可靠且特征提取全面的优势。

    一种基于偏振成像的零部件表面粗糙度测量方法

    公开(公告)号:CN116255934A

    公开(公告)日:2023-06-13

    申请号:CN202310060097.4

    申请日:2023-01-19

    Abstract: 本发明公开了一种基于偏振成像的零部件表面粗糙度测量方法,首先获取粗糙度对比样块表面四个偏振角度的灰度图像,根据Stokes矢量计算粗糙度模块的偏振相角图像,从中提取出待测区域并计算其像素点灰度值的标准差,依次获取不同标准粗糙度模块的标准差,建立最小二乘拟合模型,拟合出零部件表面的标准差‑粗糙度函数模型,最后计算出待测量的目标表面标准差并带入拟合函数模型即可实现粗糙度值的获取。本方法具有成本低、精度高、小型化的优势。

    一种基于偏振成像的物体表面细观痕迹方向测量方法

    公开(公告)号:CN116124790A

    公开(公告)日:2023-05-16

    申请号:CN202310058039.8

    申请日:2023-01-19

    Abstract: 本发明公开了一种基于偏振成像的物体表面细观痕迹方向测量方法,首先获取被测物体表面四个偏振角度的灰度图像,根据Stokes矢量计算物体表面的偏振相角图像,从中提取出偏振相角子图像作为待测区域,建立不同角度的测试线模块,空间滤波模块分别与偏振相角子图像做空间滤波运算,提取出不同角度测试线空间滤波结果求取标准差,最后根据空间滤波结果标准差的最小值得到痕迹方向。本发明与传统测量方法相比极大的减少了痕迹检验工作人员主观误差,同时偏振检测设备成本低、测量系统布置简单,更加适用于实际工况环境中。

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