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公开(公告)号:CN118036520A
公开(公告)日:2024-05-14
申请号:CN202410159375.6
申请日:2024-02-04
申请人: 西安微电子技术研究所
IPC分类号: G06F30/33
摘要: 本发明公开了一种SoC多功能模块验证平台及方法,属于集成电路领域,本方法对验证平台中的验证环境进行了改进,在验证环境的开发设计时,为每个功能模块配置了一个功能配置状态入口,通过不同的配置参数,可以配置不同的工作模式,在不同工作模式下进行相关测试,实现了多功能模块在同一验证平台下验证场景的独立开发,极大地实现了验证平台的复用,保证了验证环境的一致性,极大的提高了验证效率;克服了传统验证方法中,多人协同工作时经常出现的各模块验证环境构建过程的“等靠要”状态,本方法使得各验证功能模块验证环境完全实现了独立开发,实现了多人同时并行协同工作,减少了因各模块相互开发导致的验证环境的互相影响。
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公开(公告)号:CN117556752A
公开(公告)日:2024-02-13
申请号:CN202311558347.3
申请日:2023-11-21
申请人: 西安微电子技术研究所
IPC分类号: G06F30/33 , G06F30/337
摘要: 本发明公开了一种基于第三方语言的FFT、IFFT数字仿真验证方法及相关设备,属于集成电路数字仿真验证领域,本方法由第三方语言生成随机数据,并基于第三方语言构建FFT/IFFT参考模型,需要验证待测设计时,将生成的随机数据分别输入至FFT/IFFT参考模型以及待测设计中,通过参考数据和待测数据的比对结果,从而完成待测设计的数字仿真验证;采用本方法能够有效地覆盖FFT/IFFT算法模块各种运算模式计算结果的有效检查,有效解决了复杂算法缺少可以适配的VIP的问题,实现了传统验证方法与第三方语言提供的各种数学算法相结合的协同验证方法。
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公开(公告)号:CN116437072A
公开(公告)日:2023-07-14
申请号:CN202310487955.3
申请日:2023-04-28
申请人: 西安微电子技术研究所
摘要: 本发明公开了一种CMOS图像传感器晶圆级光电参数测试方法及系统,通过在探针卡上加装可控光源系统,控制光源强度,对CMOS图像传感器进行输出数据采集及转码转置,得到与象元面阵同等大小的矩阵数列,并对该矩阵阵列进行零点追踪检测,通过可控光源系统实现了CMOS图像传感器在不同曝光度下的检测,通过零点追踪检测的方式相比于逐点连续检测来说极大的减少了坏行坏列检测的时间,提升了测试效率,提高了数据处理速度;此外,本申请是在CMOS图像传感器封装前进行的晶圆级光电参数检测,相比于现有的对CMOS图像传感器封装完成后进行的检测,测试效率更高。
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公开(公告)号:CN116306461A
公开(公告)日:2023-06-23
申请号:CN202310245870.4
申请日:2023-03-14
申请人: 西安微电子技术研究所
IPC分类号: G06F30/392 , G06F30/394
摘要: 本发明公开了一种基于集成电路的多目标终点最短延迟网络布局方法及系统,首先,多目标终点识别与自动分组。其次,当所有叶节点完成分组后,需要进行缓冲器网络构建,要点在于如何保证所有分支节点连接至起点的同时,形成公共网络,减少缓冲器的数量。解决方案为先构建分组中最远的分支节点的缓冲器网络。最后,通过对目标终点的分组与缓冲器网络的构建,通过形成公共缓冲器网络,在连接所有终点基础上减少缓冲器的数量;对有阻挡或特殊延迟需求的目标节点完成单独优化,提升灵活性。本发明可广泛应用于多种设计的布局布线环节缓冲器网络搭建,典型的应用包括某芯片中模块相关最短延迟路径实现、某高性能处理器项目中存储器访问通路时序优化。
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