一种电磁脉冲干扰测试系统

    公开(公告)号:CN111257676B

    公开(公告)日:2021-04-13

    申请号:CN202010113351.9

    申请日:2020-02-24

    Abstract: 本发明公开了一种电磁脉冲干扰测试系统及方法;该系统包括:传输线脉冲测试设备、待测的数字电路以及辅助监控设备;其中,数字电路具有预先指定的至少一个待测端口、至少一个状态端口,以及每个待测端口对应的输出端口;其中,至少一个状态端口为表征数字电路的工作状态的端口;传输线脉冲测试设备,用于向每个待测端口注入电磁脉冲,并监测该待测端口对应的输出端口的泄漏电流;辅助监控设备,包括多个辅助监控单元;每个状态端口,均与多个辅助监控单元中的一个对应相连;每个连接有一状态端口的辅助监控单元,用于对所连接的状态端口的信号进行实时监控。本发明可以提高电磁脉冲干扰测试的测试效率。

    一种电磁脉冲干扰测试系统及方法

    公开(公告)号:CN111257676A

    公开(公告)日:2020-06-09

    申请号:CN202010113351.9

    申请日:2020-02-24

    Abstract: 本发明公开了一种电磁脉冲干扰测试系统及方法;该系统包括:传输线脉冲测试设备、待测的数字电路以及辅助监控设备;其中,数字电路具有预先指定的至少一个待测端口、至少一个状态端口,以及每个待测端口对应的输出端口;其中,至少一个状态端口为表征数字电路的工作状态的端口;传输线脉冲测试设备,用于向每个待测端口注入电磁脉冲,并监测该待测端口对应的输出端口的泄漏电流;辅助监控设备,包括多个辅助监控单元;每个状态端口,均与多个辅助监控单元中的一个对应相连;每个连接有一状态端口的辅助监控单元,用于对所连接的状态端口的信号进行实时监控。本发明可以提高电磁脉冲干扰测试的测试效率。

    基于张量的半导体载流子有效质量各向异性的计算方法

    公开(公告)号:CN113609662B

    公开(公告)日:2024-02-06

    申请号:CN202110858215.7

    申请日:2021-07-28

    Abstract: 本发明公开了一种基于张量的半导体载流子有效质量各向异性的计算方法,包括:根据半导体材料的能带结构确定能带极值位置;构建能带极值位置的有效质量张量矩阵;计算有效质量张量矩阵,并判断其正定性;当判断有效质量张量矩阵正定时,根据能带极值位置处 的可微性,判断有效质量张量的有效性;否则,更新能带极值位置,直至得到的有效质量张量矩阵正定;根据有效质量张量的有效性选择相应的计算方式计算能带极值位置处各个方向上的有效质量,以对半导体有效质量各向异性进行分析。本发明提供的方法减小了计算量,避免了现有张量法易出现的错误,提升了半导体载流子有效质量各向异性分析结果的准确性,可适用于全方向的有效质量计算。

    一种电磁干扰下数字电路内部瞬态分析方法

    公开(公告)号:CN113221492B

    公开(公告)日:2022-09-09

    申请号:CN202110407593.3

    申请日:2021-04-15

    Abstract: 本发明提供的一种电磁干扰下数字电路内部瞬态分析方法,通过获取待测器件的数字电路;在预设的仿真软件中构建表示数字电路内部连接关系的等效模型以及表示等效模型内部状态参数的过渡参数组;在等效模型能正确运行的情况下,对等效模型外加电磁脉冲干扰,以使等效模型的内部性能发生变化,获得在电磁脉冲干扰下的过渡参数组及瞬态输出电平;将过渡参数组加入未加电磁脉冲干扰的等效模型中,以使等效模型的内部性能发生变化,获得稳态输出电平;基于瞬态输出电平以及稳态输出电平,确定待测器件的性能。本发明能够更准确地得到电磁脉冲干扰下待测器件的状态。

    基于张量的半导体载流子有效质量各向异性的计算方法

    公开(公告)号:CN113609662A

    公开(公告)日:2021-11-05

    申请号:CN202110858215.7

    申请日:2021-07-28

    Abstract: 本发明公开了一种基于张量的半导体载流子有效质量各向异性的计算方法,包括:根据半导体材料的能带结构确定能带极值位置;构建能带极值位置的有效质量张量矩阵;计算有效质量张量矩阵,并判断其正定性;当判断有效质量张量矩阵正定时,根据能带极值位置处的可微性,判断有效质量张量的有效性;否则,更新能带极值位置,直至得到的有效质量张量矩阵正定;根据有效质量张量的有效性选择相应的计算方式计算能带极值位置处各个方向上的有效质量,以对半导体有效质量各向异性进行分析。本发明提供的方法减小了计算量,避免了现有张量法易出现的错误,提升了半导体载流子有效质量各向异性分析结果的准确性,可适用于全方向的有效质量计算。

    一种电磁干扰下数字电路内部瞬态分析方法

    公开(公告)号:CN113221492A

    公开(公告)日:2021-08-06

    申请号:CN202110407593.3

    申请日:2021-04-15

    Abstract: 本发明提供的一种电磁干扰下数字电路内部瞬态分析方法,通过获取待测器件的数字电路;在预设的仿真软件中构建表示数字电路内部连接关系的等效模型以及表示等效模型内部状态参数的过渡参数组;在等效模型能正确运行的情况下,对等效模型外加电磁脉冲干扰,以使等效模型的内部性能发生变化,获得在电磁脉冲干扰下的过渡参数组及瞬态输出电平;将过渡参数组加入未加电磁脉冲干扰的等效模型中,以使等效模型的内部性能发生变化,获得稳态输出电平;基于瞬态输出电平以及稳态输出电平,确定待测器件的性能。本发明能够更准确地得到电磁脉冲干扰下待测器件的状态。

    一种电磁脉冲干扰测试方法及系统

    公开(公告)号:CN111257677A

    公开(公告)日:2020-06-09

    申请号:CN202010113354.2

    申请日:2020-02-24

    Abstract: 本发明公开了一种电磁脉冲干扰测试方法及系统;该方法包括:利用传输线脉冲测试设备,以第一初始电压和第一电压步进,向第一数字电路输入电磁脉冲,并监测第一数字电路的泄漏电流;当第一数字电路出现泄漏电流畸变或功能异常时记录电磁脉冲的第一电压;以第二初始电压和第二电压步进,向与第一数字电路相同的第二数字电路输入电磁脉冲,并监测第二数字电路的泄漏电流;当第二数字电路出现泄漏电流畸变或功能异常时记录电磁脉冲的第二电压;若第一电压和第二电压之差小于预设阈值,将第一电压作为电磁脉冲干扰阈值;其中,第二初始电压根据第一电上下浮动而得,第二电压步进小于第一电压步进。本发明可以降低电磁脉冲干扰测试的测试成本。

    一种电磁脉冲干扰测试方法及系统

    公开(公告)号:CN111257677B

    公开(公告)日:2021-05-07

    申请号:CN202010113354.2

    申请日:2020-02-24

    Abstract: 本发明公开了一种电磁脉冲干扰测试方法及系统;该方法包括:利用传输线脉冲测试设备,以第一初始电压和第一电压步进,向第一数字电路输入电磁脉冲,并监测第一数字电路的泄漏电流;当第一数字电路出现泄漏电流畸变或功能异常时记录电磁脉冲的第一电压;以第二初始电压和第二电压步进,向与第一数字电路相同的第二数字电路输入电磁脉冲,并监测第二数字电路的泄漏电流;当第二数字电路出现泄漏电流畸变或功能异常时记录电磁脉冲的第二电压;若第一电压和第二电压之差小于预设阈值,将第一电压作为电磁脉冲干扰阈值;其中,第二初始电压根据第一电上下浮动而得,第二电压步进小于第一电压步进。本发明可以降低电磁脉冲干扰测试的测试成本。

    一种抗强电磁脉冲的低噪声放大器

    公开(公告)号:CN111293989A

    公开(公告)日:2020-06-16

    申请号:CN202010089313.4

    申请日:2020-02-12

    Abstract: 本发明公开了一种抗强电磁脉冲的低噪声放大器,包括:带通滤波电路、多级对管限幅电路以及低噪声放大电路;其中,带通滤波电路,用于对输入信号进行带通滤波,得到滤波信号;多级对管限幅电路,用于对滤波信号进行限幅,得到待放大信号;多级对管限幅电路包括:PIN二极管的I区厚度沿输入信号的行进方向依次递减的、电路连接关系呈并列连接关系的多个PIN二极管对;低噪声放大电路,用于对待放大信号进行低噪声功率放大,得到放大信号。本发明可以在保证低噪放具有较高的抗烧毁能力的前提下,减少因PIN二极管的响应时间长所造成的低噪声放大器损坏的概率。

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