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公开(公告)号:CN117673138A
公开(公告)日:2024-03-08
申请号:CN202311697067.0
申请日:2023-12-11
Applicant: 西安电子科技大学 , 西安电子科技大学芜湖研究院
IPC: H01L29/778 , H01L21/335
Abstract: 本发明涉及一种多级槽终端耐压结构的GaN HEMT器件及其制备方法,所述GaN HEMT器件包括从下至上依次层叠设置的衬底层、成核层、缓冲层、GaN沟道层、AlGaN势垒层,AlGaN势垒层的上表面设置有N个第一凹槽,N>1;源极和漏极分别设置于AlGaN势垒层上表面的两端;介质层设置于AlGaN势垒层、源极和漏极上;栅极设置于介质层上,且N个第一凹槽和N个第二凹槽位于栅极和漏极之间。本发明的GaN HEMT器件在保证器件性能的同时,进一步通过重新分配栅极靠近漏极的高电场来延缓雪崩过程,提高GaN基功率器件的工作电压。
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公开(公告)号:CN111816739B
公开(公告)日:2022-07-12
申请号:CN202010826165.X
申请日:2020-08-17
Applicant: 西安电子科技大学芜湖研究院
Abstract: 本发明涉及一种基于氧化镓衬底的高效紫外发光二极管及制备方法,其中,该发光二极管包括:自下而上依次层叠的衬底层、AlN成核层、n型GaN层、量子阱层和p型BN层;第一电极,设置在n型GaN层的上表面;第二电极,设置在p型BN层的上表面;其中,衬底层为Ga2O3材料,AlN成核层采用磁控溅射工艺制备。本发明的基于氧化镓衬底的高效紫外发光二极管,选取Ga2O3作为衬底层,Ga2O3与GaN晶格失配小,减小了材料所受应力,提高了器件的发光效率,另外,采用p型BN来提供空穴,由于Mg在BN中离化率较高,电导率也较高,从而进一步提高了器件的发光效率。
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公开(公告)号:CN111816739A
公开(公告)日:2020-10-23
申请号:CN202010826165.X
申请日:2020-08-17
Applicant: 西安电子科技大学芜湖研究院
Abstract: 本发明涉及一种基于氧化镓衬底的高效紫外发光二极管及制备方法,其中,该发光二极管包括:自下而上依次层叠的衬底层、AlN成核层、n型GaN层、量子阱层和p型BN层;第一电极,设置在n型GaN层的上表面;第二电极,设置在p型BN层的上表面;其中,衬底层为Ga2O3材料,AlN成核层采用磁控溅射工艺制备。本发明的基于氧化镓衬底的高效紫外发光二极管,选取Ga2O3作为衬底层,Ga2O3与GaN晶格失配小,减小了材料所受应力,提高了器件的发光效率,另外,采用p型BN来提供空穴,由于Mg在BN中离化率较高,电导率也较高,从而进一步提高了器件的发光效率。
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