一种确定微波部件多载波微放电最坏状态的方法

    公开(公告)号:CN105072076B

    公开(公告)日:2018-06-01

    申请号:CN201510519286.9

    申请日:2015-08-21

    IPC分类号: H04L27/26 H04B17/15 H04B17/29

    摘要: 一种确定微波部件多载波微放电最坏状态的方法,首先通过在待分析微波部件容易放电的敏感部位放置电子,将电子等效为等离子体,通过等离子体频率确定其等效介电常数,通过电磁仿真或者解析计算获得端口反射系数可检测变化量对应的电子密度;其次采用全局优化算法,以初始相位组合的向量为优化变量,获得不同相位组合多载波信号时电子数目随时间的变化曲线,采用相邻两个包络周期电子数目的相对值和单个包络周期内微放电电子密度为判据,获得每种相位的微放电阈值,通过全局优化算法的种群调整获得能够以最小单路功率激励微放电的相位组合,即多载波微放电最坏状态。

    一种抑制微波部件镀银层表面二次电子发射系数的方法

    公开(公告)号:CN103320799B

    公开(公告)日:2014-11-19

    申请号:CN201310264149.6

    申请日:2013-06-27

    IPC分类号: C23F17/00 C25F3/04 C23C14/35

    摘要: 本发明涉及一种抑制微波部件镀银层表面二次电子发射系数的方法,特别涉及一种通过电化学腐蚀方法来抑制铝合金镀银表面的二次电子发射系数的方法,属于微放电技术领域。将微波部件内表面先用酸溶液进行阳极氧化处理,在微波部件内表面形成多孔结构,然后利用化学溶液腐蚀的方法增大孔的口径,最后在微波部件内表面溅射沉积金或银等导电性好的金属,使得微波部件内表面既具有低二次电子发射系数,又具有良好的导电性能。

    一种确定气体吸附状态下的二次电子发射特性的方法

    公开(公告)号:CN103323477A

    公开(公告)日:2013-09-25

    申请号:CN201310264119.5

    申请日:2013-06-27

    IPC分类号: G01N23/22

    摘要: 本发明涉及一种确定气体吸附状态下的二次电子发射特性的方法,基于现有的电子入射到理想表面在材料内部的散射过程和电子的轨迹追踪过程,加入了功函数的变化和电子与吸附气体的各种散射过程,根据电子运动到不同的位置,例如电子处于气体吸附层厚度h内、或者电子从气体吸附层进入材料层或者电子从材料层向气体吸附层出射、或者电子处于材料内部等,采用不同的方法确定电子的能量和角度,获得二次电子发射系数,从而确定气体吸附状态下的二次电子发射特性,本发明方法为获得金属表面实际气体吸附下的二次电子发射特性提供了一种有效手段。

    一种高轨SAR长合成孔径时间海上运动目标成像处理方法

    公开(公告)号:CN118642105A

    公开(公告)日:2024-09-13

    申请号:CN202410753784.9

    申请日:2024-06-12

    IPC分类号: G01S13/90 G01S7/41

    摘要: 本发明公开了一种高轨SAR长合成孔径时间海上运动目标成像处理方法,其特征在于:步骤1,将高轨SAR长合成孔径时间进行子孔径划分,并通过子孔径成像获取子孔径序贯图像;步骤2,在子孔径序贯图像内对海面的运动目标进行检测和提取;步骤3,通过二维波数域频谱推导,分离出运动目标运动导致的散焦相位项,并进行补偿,完成运动目标二维频域重聚焦,得到重聚焦后的运动目标图像。本发明简化了舰船目标重聚焦处理算法的运算量和复杂程度;解决了高轨SAR合成孔径时间长、不同海况条件下舰船可累计时间和检测信杂噪比不同、运动目标散焦和高次相位误差补偿等难题,且大幅降低了海上运动目标检测对脉冲压缩后信噪比的要求。

    一种确定介质窗微放电二次电子数目的方法

    公开(公告)号:CN110555186A

    公开(公告)日:2019-12-10

    申请号:CN201910672840.5

    申请日:2019-07-24

    IPC分类号: G06F17/10

    摘要: 一种确定介质窗微放电二次电子数目的方法,首先对二次电子发射的能量和角度进行随机处理,根据初始直流电场和射频场确定电子与介质的碰撞能量,获得二次电子发射系数,根据二次电子产额更新介质表面的累积电荷,并更新直流电场。在微放电分析中采用多个电子进行平均处理,并考虑了直流电场的动态变化,获得动态直流场和射频场耦合作用下的介质窗微放电二次电子数目的变化过程。

    一种确定气体吸附状态下的二次电子发射特性的方法

    公开(公告)号:CN103323477B

    公开(公告)日:2014-11-19

    申请号:CN201310264119.5

    申请日:2013-06-27

    IPC分类号: G01N23/22

    摘要: 本发明涉及一种确定气体吸附状态下的二次电子发射特性的方法,基于现有的电子入射到理想表面在材料内部的散射过程和电子的轨迹追踪过程,加入了功函数的变化和电子与吸附气体的各种散射过程,根据电子运动到不同的位置,例如电子处于气体吸附层厚度h内、或者电子从气体吸附层进入材料层或者电子从材料层向气体吸附层出射、或者电子处于材料内部等,采用不同的方法确定电子的能量和角度,获得二次电子发射系数,从而确定气体吸附状态下的二次电子发射特性,本发明方法为获得金属表面实际气体吸附下的二次电子发射特性提供了一种有效手段。

    一种提升高轨SAR扫描工作模式波束覆盖的设计方法

    公开(公告)号:CN118655576A

    公开(公告)日:2024-09-17

    申请号:CN202411147547.4

    申请日:2024-08-21

    IPC分类号: G01S13/90 G06T3/4038

    摘要: 本发明公开了一种提升高轨SAR扫描工作模式波束覆盖的设计方法:步骤一:计算卫星偏航导引所需的高轨SAR的天线波束的扫描视角和扫描方位角;步骤二:利用扫描视角和扫描方位角进行偏航角度校正;步骤三:根据距离向上成像测绘带的幅宽需求,将成像测绘带划分为多个子测绘带;步骤四:根据预设的分辨率要求,计算扫描工作模式中高轨SAR在各子测绘带内一次连续成像的时间;步骤五:计算高轨SAR卫星的扫描时间;步骤六:完成扫描模式距离向上所有的子测绘带图像拼接,得到测绘带图像。本发明能够实现高轨SAR扫描子测绘带的有序拼接,能够有效避免子测绘带拼接错位。

    一种穿舱法兰介质窗微放电阈值预测方法

    公开(公告)号:CN110569564A

    公开(公告)日:2019-12-13

    申请号:CN201910764621.X

    申请日:2019-08-19

    IPC分类号: G06F17/50

    摘要: 一种穿舱法兰介质窗微放电阈值预测方法,首先设置输入和输出端口,并进行直六面体网格剖分,在真空一侧介质表面加载正的初始面电荷,并采用静电场求解方法获得所加载初始电荷的静态电场分布,将该静态电场作为偏置,在外加射频激励信号的作用下,采用PIC算法对微放电过程进行仿真,通过判断电子数目随时间的变化来判断是否发生了微放电,对输入信号的功率进行迭代,最终获得满足指定阈值精度的微放电阈值。

    一种降低圆波导双工器无源互调装置及方法

    公开(公告)号:CN109524750B

    公开(公告)日:2019-10-18

    申请号:CN201811369293.5

    申请日:2018-11-16

    IPC分类号: H01P1/208

    摘要: 本发明公开的一种降低圆波导双工器无源互调装置及方法,涉及微波无线通信领域。本发明公开的一种降低圆波导双工器无源互调装置及方法,利用介质法兰实现金属‑空气‑金属的接触,利用介质片实现金属‑非导电介质‑金属的接触,实现抑制微波部件无源互调。本发明装置包括非导电介质法兰、固定非导电介质法兰所需的金属螺钉、非导电介质片、非导电介质套、非导电介质螺钉。本发明具有结构简单、重量轻、设计成本率高、设计周期短的优点。本发明能够广泛应用于航空航天领域及地面通信领域。

    一种降低同轴滤波器无源互调装置及方法

    公开(公告)号:CN109546274A

    公开(公告)日:2019-03-29

    申请号:CN201811368226.1

    申请日:2018-11-16

    IPC分类号: H01P1/205 H01P11/00

    摘要: 本发明公开一种降低同轴滤波器无源互调装置及方法,涉及微波无线通信领域。包括调频率、调耦合螺钉、金属盖板、金属腔体、谐振杆。所述产生无源互调位置包括调频率、调耦合螺钉处、同轴谐振杆的结构与金属腔体连接处、金属腔体连接处、金属盖板与金属腔体连接处。通过非导电介质实现金属-非导电介质-金属的接触,通过增压圈实现金属盖板和金属腔体的高压接触,实现抑制同轴滤波器带来的无源互调。本发明具有结构简单、重量轻、设计周期短、设计成本低的优点。本发明能够广泛应用于航空航天领域及地面通信领域。