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公开(公告)号：CN102435708A
公开(公告)日：2012-05-02
申请号：CN201110257379.0
申请日：2011-08-26
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: G01N27/9006 , B29C65/483 , B29C65/485 , B29C65/4855 , B29C65/4875 , B29C65/5021 , B29C65/5057 , B29C65/8253 , B29C65/8269 , B29C65/8284 , B29C66/1122 , B29C66/1162 , B29C66/43 , B29C66/71 , B29C66/721 , B29C70/025 , B29C70/882 , B29K2105/06 , B29K2105/203 , B29K2307/00 , B29K2309/08 , B29K2995/0008 , H01F1/083 , H01F1/37 , H01F5/00 , B29K2021/003 , B29K2023/06 , B29K2023/12 , B29K2025/06 , B29K2027/06 , B29K2031/04 , B29K2033/12 , B29K2033/20 , B29K2067/00 , B29K2067/003 , B29K2069/00 , B29K2071/00 , B29K2077/00 , B29K2081/06
Abstract: 本发明提供驱动线圈和包含该驱动线圈的测量探头。所述驱动线圈具有从线圈中心到线圈外部边缘单调增加的电流密度。所述测量探头包含：具有从线圈中心到线圈外部边缘单调增加的电流密度的驱动线圈；和传感器。所述测量探头可用于例如，原位、无损检测方法，该方法也由本文提供。
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公开(公告)号：CN102435708B
公开(公告)日：2016-01-13
申请号：CN201110257379.0
申请日：2011-08-26
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: G01N27/9006 , B29C65/483 , B29C65/485 , B29C65/4855 , B29C65/4875 , B29C65/5021 , B29C65/5057 , B29C65/8253 , B29C65/8269 , B29C65/8284 , B29C66/1122 , B29C66/1162 , B29C66/43 , B29C66/71 , B29C66/721 , B29C70/025 , B29C70/882 , B29K2105/06 , B29K2105/203 , B29K2307/00 , B29K2309/08 , B29K2995/0008 , H01F1/083 , H01F1/37 , H01F5/00 , B29K2021/003 , B29K2023/06 , B29K2023/12 , B29K2025/06 , B29K2027/06 , B29K2031/04 , B29K2033/12 , B29K2033/20 , B29K2067/00 , B29K2067/003 , B29K2069/00 , B29K2071/00 , B29K2077/00 , B29K2081/06
Abstract: 本发明提供驱动线圈和包含该驱动线圈的测量探头。所述驱动线圈具有从线圈中心到线圈外部边缘单调增加的电流密度。所述测量探头包含：具有从线圈中心到线圈外部边缘单调增加的电流密度的驱动线圈；和传感器。所述测量探头可用于例如，原位、无损检测方法，该方法也由本文提供。
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公开(公告)号：CN101747646A
公开(公告)日：2010-06-23
申请号：CN200910225855.3
申请日：2009-11-30
Applicant: 通用电气公司
IPC: C08L101/00 , C08L63/00 , C08K3/22 , G01N27/90
CPC classification number: G01N27/9013 , B29C65/483 , B29C65/485 , B29C65/4855 , B29C65/4875 , B29C65/5021 , B29C65/5057 , B29C65/8269 , B29C65/8284 , B29C66/1122 , B29C66/1162 , B29C66/43 , B29C66/721 , B29K2105/06 , B29K2105/203 , B29K2307/00 , B29K2309/08 , B29K2995/0008 , H01F1/37
Abstract: 本发明提供复合体系、结合复合体系的制品(100)、原位非破坏性测试制品和/或复合体系的方法以及用在方法中的阵列探针。复合体系包括可固化树脂和至少一种大量可检测颗粒。
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公开(公告)号：CN102456528B
公开(公告)日：2015-04-01
申请号：CN201110355919.9
申请日：2011-10-26
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: H01J35/14 , H01J35/16 , H01J2235/1216 , H01J2235/16
Abstract: 本发明涉及用于电磁可控x射线管中的提高的瞬态响应的设备和方法。x射线管组件(14)包括真空罩(52)，其具有阴极部(56)、靶部(60)和喉道部(84)，该喉道部(84)包括不导电管(98)。该喉道部(84)具有耦合于该阴极部(56)的上游端(108)和耦合于该靶部(60)的下游端(112)。该x射线管组件(14)还包括安置在该真空罩(52)的该靶部(60)内的靶(58)，和安置在该真空罩(52)的该阴极部(56)内的阴极(54)。该阴极(54)配置成通过该喉道部(84)朝该靶(58)发射电子流(68)。
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公开(公告)号：CN102456527B
公开(公告)日：2014-06-18
申请号：CN201110354679.0
申请日：2011-10-26
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: H01J35/14 , H01J35/16 , H01J2235/1216 , H01J2235/16
Abstract: 本发明涉及用于电磁可控x射线管中的提高的瞬态响应的设备和方法。x射线管组件(14)包括真空罩(52)，其包括阴极部(56)、靶部(60)和喉道部(84)。该喉道部(84)包括磁场段(100)、上游段(110)和下游段(118)。该磁场段(100)具有第一磁化率以在磁场强度存在下产生涡流。该上游段(110)耦合于该阴极部(56)和该磁场段(100)并且具有第二磁化率以在磁场强度存在下产生涡流。该下游段(118)耦合于该磁场段(100)并且具有第三磁化率以在磁场强度存在下产生涡流。产生涡流的该第一磁化率小于产生涡流的该第二和第三磁化率。该组件(14)包括该靶部(60)内的靶(58)，和该阴极部(56)内的阴极(54)。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102549375B
公开(公告)日：2015-04-01
申请号：CN201080042902.1
申请日：2010-07-21
Applicant: 通用电气公司
Inventor： H·孙 , Y·A·普罗特尼科夫 , C·王 , S·C·纳思 , A·C·谢拉-瓦德
IPC: G01B7/06
CPC classification number: G01N27/904
Abstract: 提供一种多频涡流(MFEC)检验系统用于检验零件上的表面硬化深度。MFEC检验系统包括：发生器，其配置成生成一个或多个多频激励信号；以及涡流探头，其配置成设置在零件的一侧。涡流探头包括一个或多个驱动器和一个或多个拾取传感器。一个或多个驱动器配置成接收一个或多个多频激励信号，以便在零件中感应涡流。一个或多个拾取传感器配置成检测零件的局部区域中的感应的涡流，以便生成一个或多个多频响应信号。MFEC系统还包括处理器，处理器配置成接收一个或多个多频响应信号供处理，以便确定零件的局部区域的表面硬化深度。还提供脉冲涡流检验系统和涡流检验方法。
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公开(公告)号：CN101747646B
公开(公告)日：2014-04-23
申请号：CN200910225855.3
申请日：2009-11-30
Applicant: 通用电气公司
IPC: C08L101/00 , C08L63/00 , C08K3/22 , G01N27/90
CPC classification number: G01N27/9013 , B29C65/483 , B29C65/485 , B29C65/4855 , B29C65/4875 , B29C65/5021 , B29C65/5057 , B29C65/8269 , B29C65/8284 , B29C66/1122 , B29C66/1162 , B29C66/43 , B29C66/721 , B29K2105/06 , B29K2105/203 , B29K2307/00 , B29K2309/08 , B29K2995/0008 , H01F1/37
Abstract: 本发明提供复合体系、结合复合体系的制品(100)、原位非破坏性测试制品和/或复合体系的方法以及用在方法中的阵列探针。复合体系包括可固化树脂和至少一种大量可检测颗粒。
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公开(公告)号：CN102456528A
公开(公告)日：2012-05-16
申请号：CN201110355919.9
申请日：2011-10-26
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: H01J35/14 , H01J35/16 , H01J2235/1216 , H01J2235/16
Abstract: 本发明涉及用于电磁可控x射线管中的提高的瞬态响应的设备和方法。x射线管组件(14)包括真空罩(52)，其具有阴极部(56)、靶部(60)和喉道部(84)，该喉道部(84)包括不导电管(98)。该喉道部(84)具有耦合于该阴极部(56)的上游端(108)和耦合于该靶部(60)的下游端(112)。该x射线管组件(14)还包括安置在该真空罩(52)的该靶部(60)内的靶(58)，和安置在该真空罩(52)的该阴极部(56)内的阴极(54)。该阴极(54)配置成通过该喉道部(84)朝该靶(58)发射电子流(68)。
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公开(公告)号：CN102156138B
公开(公告)日：2015-09-16
申请号：CN201110078762.X
申请日：2011-02-08
Applicant: 通用电气公司
Abstract: 公开了使用工作在无线电或微波频率范围内的贴片天线(30)来计量管(100)内多相组分的方法(10)，包括定位贴片天线(30)并在频率范围上对其进行激励(14)；随时间测量发射和反射信号(16)；估计共振频率从基准共振频率的偏移(18)；然后，基于偏移计算组分的电容率(20)；并且计算多相组分的相组分(22)。根据具体实施例描述了本发明，并且要领会，除了明确记载的那些以外，等效、备选和修改是可能的并在随附权利要求书的范围内。
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公开(公告)号：CN102549375A
公开(公告)日：2012-07-04
申请号：CN201080042902.1
申请日：2010-07-21
Applicant: 通用电气公司
Inventor： H·孙 , Y·A·普罗特尼科夫 , C·王 , S·C·纳思 , A·C·谢拉-瓦德
IPC: G01B7/06
CPC classification number: G01N27/904
Abstract: 提供一种多频涡流(MFEC)检验系统用于检验零件上的表面硬化深度。MFEC检验系统包括：发生器，其配置成生成一个或多个多频激励信号；以及涡流探头，其配置成设置在零件的一侧。涡流探头包括一个或多个驱动器和一个或多个拾取传感器。一个或多个驱动器配置成接收一个或多个多频激励信号，以便在零件中感应涡流。一个或多个拾取传感器配置成检测零件的局部区域中的感应的涡流，以便生成一个或多个多频响应信号。MFEC系统还包括处理器，处理器配置成接收一个或多个多频响应信号供处理，以便确定零件的局部区域的表面硬化深度。还提供脉冲涡流检验系统和涡流检验方法。
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