复杂情况下多变点的设备剩余使用寿命预测方法

    公开(公告)号:CN111814331B

    公开(公告)日:2023-10-20

    申请号:CN202010652226.5

    申请日:2020-07-08

    Applicant: 重庆大学

    Abstract: 本发明涉及一种复杂情况下多变点的设备剩余使用寿命预测方法,属于设备剩余寿命预测领域,包括以下步骤:S1:确定设备退化模型,改变其漂移系数来描述多变点下的退化轨迹;S2:以退化模型为已知条件,描述变点前后的退化速率的变化,得到多变点下剩余寿命分布表达式;S3:以剩余寿命分布为已知条件,根据实时检测得到的最新变点,解决最新变点的参数估计问题;S4:以未知参数为已知条件,得到剩余寿命分布函数,对其求期望,实现多变点下设备参数独立的剩余寿命预测;S5:以多变点下设备参数独立的寿命分布为已知条件,描述参数之间的相关性,并获得多变点下设备参数相关的寿命分布。

    一种基于两阶段Wiener过程的锂离子电池RUL预测方法

    公开(公告)号:CN111753416A

    公开(公告)日:2020-10-09

    申请号:CN202010554225.7

    申请日:2020-06-17

    Applicant: 重庆大学

    Abstract: 本发明涉及一种基于两阶段Wiener过程的锂离子电池RUL预测方法,属于锂离子电池剩余使用寿命预测技术领域,具体包括:1)确定两阶段Wiener过程锂离子电池容量退化模型;2)确定考虑随机效应的两阶段Wiener过程锂离子电池容量退化模型的寿命分布;3)确定带随机漂移的两阶段Wiener过程锂离子电池剩余使用寿命的概率密度函数;4)确定两阶段Wiener过程锂离子电池容量的变点估计表达式;5)确定基于EM算法对两个阶段漂移系数的超参数辨识;6)确定基于Bayesian方法的锂离子电池容量退化模型的参数更新。

    基于遗传算法的BP神经网络的LED寿命预测方法

    公开(公告)号:CN111814401B

    公开(公告)日:2023-10-27

    申请号:CN202010659662.5

    申请日:2020-07-08

    Applicant: 重庆大学

    Abstract: 本发明涉及一种基于遗传算法的BP神经网络的LED寿命预测方法,属于可靠性工程领域,包括以下步骤;构建基于遗传算法的BP神经网络模型;建立并训练LED光通量模型;模型仿真实现;进行LED剩余寿命预测与可靠性评估。本发明实现任意应力条件下LED寿命的预测,并且相对平均误差较传统BP神经网络平均降低了很多。另外,遗传算法优化模型的训练样本包含更多公司的LED灯珠,覆盖多种不同额定工作状态的白光LED,普适性更高,为LED寿命预测提供了一种新的思路,具有较大的实用价值。

    基于遗传算法的BP神经网络的LED寿命预测方法

    公开(公告)号:CN111814401A

    公开(公告)日:2020-10-23

    申请号:CN202010659662.5

    申请日:2020-07-08

    Applicant: 重庆大学

    Abstract: 本发明涉及一种基于遗传算法的BP神经网络的LED寿命预测方法,属于可靠性工程领域,包括以下步骤;构建基于遗传算法的BP神经网络模型;建立并训练LED光通量模型;模型仿真实现;进行LED剩余寿命预测与可靠性评估。本发明实现任意应力条件下LED寿命的预测,并且相对平均误差较传统BP神经网络平均降低了很多。另外,遗传算法优化模型的训练样本包含更多公司的LED灯珠,覆盖多种不同额定工作状态的白光LED,普适性更高,为LED寿命预测提供了一种新的思路,具有较大的实用价值。

    复杂情况下多变点的设备剩余使用寿命预测方法

    公开(公告)号:CN111814331A

    公开(公告)日:2020-10-23

    申请号:CN202010652226.5

    申请日:2020-07-08

    Applicant: 重庆大学

    Abstract: 本发明涉及一种复杂情况下多变点的设备剩余使用寿命预测方法,属于设备剩余寿命预测领域,包括以下步骤:S1:确定设备退化模型,改变其漂移系数来描述多变点下的退化轨迹;S2:以退化模型为已知条件,描述变点前后的退化速率的变化,得到多变点下剩余寿命分布表达式;S3:以剩余寿命分布为已知条件,根据实时检测得到的最新变点,解决最新变点的参数估计问题;S4:以未知参数为已知条件,得到剩余寿命分布函数,对其求期望,实现多变点下设备参数独立的剩余寿命预测;S5:以多变点下设备参数独立的寿命分布为已知条件,描述参数之间的相关性,并获得多变点下设备参数相关的寿命分布。

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