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公开(公告)号：CN114838823A
公开(公告)日：2022-08-02
申请号：CN202210410648.0
申请日：2022-04-19
Applicant: 重庆川仪自动化股份有限公司
Abstract: 本发明提供一种基于扫描光栅微镜光谱仪的光谱信息重构方法、系统，该方法通过获取扫描光栅微镜光谱仪的待重构数据，根据扫描速度反馈信号、预设长度和预设时间间隔生成位置序列，根据光源特征峰波长值和各位置序列值生成各位置序列值对应的重构波长，基于各位置序列值对应的重构波长和光强信号生成扫描光栅微镜光谱仪的重构光谱信息，通过光谱信息重构方法，可以在基于扫描光栅微镜的微型近红外光谱仪系统设计中，通过对单管光电探测器光强信号和扫描光栅微镜的扫描速度反馈信号的结合，生成重构光谱信息，能够直接反映出用户需要的光谱信息，满足用户需求。
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公开(公告)号：CN114184547A
公开(公告)日：2022-03-15
申请号：CN202111434331.2
申请日：2021-11-29
Applicant: 重庆川仪自动化股份有限公司
Abstract: 一种基于双闭环的扫描光栅微镜机械摆角的控制方法，包括以下步骤：S1，在扫描光栅微镜控制系统中设定扫描光栅微镜的目标机械摆角值θset；S2，通过扫描光栅微镜控制系统采集扫描光栅微镜的电压驱动信号VO和机械摆角的电压反馈信号Vθ；S3，计算相关系数，计算S2采集的电压驱动信号VO与电压反馈信号Vθ的相关系数；S4，根据S3计算的相关系数，将电压驱动信号的频率调整至扫描光栅微镜谐振频率的误差范围内；S5，根据机械摆角的电压反馈信号Vθ计算扫描光栅微镜的实际机械摆角值θ；S6，根据扫描光栅微镜的实际机械摆角值θ与目标机械摆角值θset之间的偏差及偏差变化率，通过模糊PID控制器调整电压驱动信号的幅值。
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公开(公告)号：CN114184547B
公开(公告)日：2024-05-14
申请号：CN202111434331.2
申请日：2021-11-29
Applicant: 重庆川仪自动化股份有限公司
Abstract: 一种基于双闭环的扫描光栅微镜机械摆角的控制方法，包括以下步骤：S1，在扫描光栅微镜控制系统中设定扫描光栅微镜的目标机械摆角值θset；S2，通过扫描光栅微镜控制系统采集扫描光栅微镜的电压驱动信号VO和机械摆角的电压反馈信号Vθ；S3，计算相关系数，计算S2采集的电压驱动信号VO与电压反馈信号Vθ的相关系数；S4，根据S3计算的相关系数，将电压驱动信号的频率调整至扫描光栅微镜谐振频率的误差范围内；S5，根据机械摆角的电压反馈信号Vθ计算扫描光栅微镜的实际机械摆角值θ；S6，根据扫描光栅微镜的实际机械摆角值θ与目标机械摆角值θset之间的偏差及偏差变化率，通过模糊PID控制器调整电压驱动信号的幅值。
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公开(公告)号：CN114838823B
公开(公告)日：2025-04-04
申请号：CN202210410648.0
申请日：2022-04-19
Applicant: 重庆川仪自动化股份有限公司
Abstract: 本发明提供一种基于扫描光栅微镜光谱仪的光谱信息重构方法、系统，该方法通过获取扫描光栅微镜光谱仪的待重构数据，根据扫描速度反馈信号、预设长度和预设时间间隔生成位置序列，根据光源特征峰波长值和各位置序列值生成各位置序列值对应的重构波长，基于各位置序列值对应的重构波长和光强信号生成扫描光栅微镜光谱仪的重构光谱信息，通过光谱信息重构方法，可以在基于扫描光栅微镜的微型近红外光谱仪系统设计中，通过对单管光电探测器光强信号和扫描光栅微镜的扫描速度反馈信号的结合，生成重构光谱信息，能够直接反映出用户需要的光谱信息，满足用户需求。
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公开(公告)号：CN117705744A
公开(公告)日：2024-03-15
申请号：CN202311845087.8
申请日：2023-12-29
Applicant: 重庆川仪自动化股份有限公司
IPC: G01N21/31
Abstract: 本发明提供一种混合气体浓度检测方法、装置、设备及存储介质，该方法包括：获取待检测气体，该待检测气体为包括至少两种气体成分的混合气体，对待检测气体进行分类，以将待检测气体中的混合气体分为一类气体和二类气体，基于第一算法计算一类气体的气体浓度，并基于第二算法计算二类气体的气体浓，对计算得到的气体浓度进行去噪，以得到待检测气体中各气体成分的浓度；通过各气体的特性将混合气体中的多种气体进行分类，并基于分类的结果对不同类别的气体采用不同的计算方法，以得到各气体的浓度，并对其计算结果进行滤波降噪，以得到更加准确的浓度值，实现了对多种气体浓度的同时检测，并有效提升了气体浓度的检测准确度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114859121A
公开(公告)日：2022-08-05
申请号：CN202210366026.2
申请日：2022-04-08
Applicant: 重庆川仪自动化股份有限公司
Abstract: 本发明适用于信号检测技术领域，提供一种相位差检测电路及方法，其中，该方法包括：获取第一信号和第二信号，将第一信号转换为第三信号，将第二信号转换为第四信号；对第三信号和第四信号进行相位差检测，输出第三信号和第四信号的相位差绝对值；对第三信号和第四信号进行相位差关系检测，输出第三信号和第四信号的相位差关系，相位差关系包括超前或滞后；根据相位差绝对值和相位差关系输出目标相位差；解决了现有技术中信号相位差检测的滞后性以及未能全范围检测相位差的问题。
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公开(公告)号：CN111200909A
公开(公告)日：2020-05-26
申请号：CN202010053649.5
申请日：2020-01-17
Applicant: 重庆川仪自动化股份有限公司
Abstract: 本发明涉及一种扫描微镜的封装结构，包括底座，所述底座上端设置凹腔，一印制电路板放置在底座上端，所述印制电路板中部设置供光穿过的过孔，所述印制电路板上位于过孔的左、右侧对称设置两个安装孔，各安装孔中分别固定设置有磁铁，各磁铁的下端抵住底座凹腔腔底，一扫描微镜芯片固定在印制电路板的下端面，所述扫描微镜芯片的反射镜面位于印制电路板过孔的下方，所述印制电路板的上端设有一排线端子，一端盖盖在印制电路板的上端，将印制电路板、磁铁压住，通过螺栓将端盖、印制电路板、底座固定在一起，所述端盖上设有通光孔与印制电路板的过孔对应。其结构简单稳定，封装简单快捷，封装的一致性好，且两块磁铁的定位好。
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公开(公告)号：CN117664923A
公开(公告)日：2024-03-08
申请号：CN202311471959.9
申请日：2023-11-07
Applicant: 重庆川仪自动化股份有限公司
IPC: G01N21/49 , G01N21/59 , G06F30/20 , G06F111/10
Abstract: 本发明提供一种液体浊度检测方法，包括：获取待测液体的散射光强度值和透射光强度值；基于散射光强度确定散射光强度值所在的分段区间，基于分段区间确定拟合系数；将待测液体的散射光强度值、透射光强度值和拟合系数输入液体浊度检测模型，得到待测液体的浊度，其中，液体浊度检测模型基于多个液体浊度对应的样本散射光强度值、样本透射光强度值及拟合系数建立，分段区间、拟合系数和分段区间与拟合系数的对应关系通过对比值系数进行分段线性拟合得到，比值系数通过样本液体的浊度、散射光强度值及透射光强度值计算得到。本发明能够减少浊度检测中受到的散射系数稳定度、光程长度及液体均匀度等影响，提高液体浊度测量精度。
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公开(公告)号：CN117310281A
公开(公告)日：2023-12-29
申请号：CN202210716006.3
申请日：2022-06-22
Applicant: 重庆川仪自动化股份有限公司
IPC: G01R25/00
Abstract: 本申请提出一种电路相位差检测方法及系统，包括：获取一组同频正弦信号在预设相位范围内的相位差序列以及每个相位差的相关系数；对所述相位序列进行拟合，得到相位差与相关系数的对应关系；获取第一待测信号和第二待测信号；分别对所述第一待测信号和所述第二待测信号进行采样，得到对应的第一采样序列和第二采样序列；根据所述第一采样序列和所述第二采样序列确定所述第一待测信号和所述第二待测信号的相关系数作为第一系数；根据所述第一系数以及所述相位差与相关系数的对应关系，得到所述第一电路和所述第二电路的相位差。本申请计算量少且可保证相位差检测精度。
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公开(公告)号：CN116930099A
公开(公告)日：2023-10-24
申请号：CN202310810204.0
申请日：2023-07-03
Applicant: 重庆川仪自动化股份有限公司
Abstract: 本发明提供一种光谱仪光谱数据的温度补偿方法、装置、电子设备及介质，该方法包括获取光谱仪采集的光谱数据以及光谱数据对应的采集温度，若采集温度超过预设温度范围，根据温度补偿参数和采集温度对光谱数据进行补偿，得到补偿后的光谱数据，温度补偿参数的确定方式包括：基于光谱仪采集的标准温度下的特征波长点数据和不同测试温度下的特征波长点数据，确定不同测试温度下的波长位置平均偏移量，对不同测试温度以及不同测试温度下的波长位置平均偏移量进行拟合，得到温度补偿参数；能够在使用光谱仪时不再控制温度，通过对光谱数据进行温度补偿来修正光谱数据的测量误差，提高光谱仪的准确性和稳定性，且实现成本低、效率高、普适性强。
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