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公开(公告)号：CN108732486B
公开(公告)日：2020-05-19
申请号：CN201810567687.5
申请日：2018-06-05
申请人： 重庆理工大学
IPC分类号： G01R31/28
摘要： 本发明提出了一种基于电注入方式的IRFPA ROIC串扰测试电路以及测试方法，包括光敏像元信号输出端连接信号选择电路像元信号输入端，测试电路信号发送端连接光电转换电路信号接收端，光电转换电路信号发送端连接工作测试开关一端，工作测试开关另一端连接注入管信号接收端，注入管信号发送端连接信号选择电路测试信号接收端，信号选择电路输出端连接读出电路ROIC信号接收端，读出电路ROIC信号输出端连接计算机自动测试系统信号接收端。
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公开(公告)号：CN116188358A
公开(公告)日：2023-05-30
申请号：CN202211377977.6
申请日：2022-11-04
申请人： 重庆理工大学
摘要： 本发明公开了一种基于深度学习的钢轨表面缺陷检测方法。该方法针对钢轨缺陷边缘不明显、尺寸小、纹理干扰等问题，依次进行钢轨区域提取、改进Retinex图像增强、背景建模差分和阈值分割，得到缺陷的分割图。对于缺陷的分类，引入Res2Net和CBAM注意力机制，增大感受野和小目标位置权重，在PANet结构中去掉自下而上的路径增强结构，减少参数冗余，提高小目标的特征提取能力。实验结果表明，钢轨缺陷检测平均准确率达到92.68％，召回率达到92.33％，检测速度达到每张图片0.068s。将改进方法与主流目标检测算法Faster RCNN、SSD、YOLOv3和YOLOv4对比，结果表明改进YOLOv4模型在钢轨缺陷检测中的F1值达到0.925，明显优于其他几种主流算法，能够很好地应用于轨道缺陷检测项目中。
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公开(公告)号：CN108732486A
公开(公告)日：2018-11-02
申请号：CN201810567687.5
申请日：2018-06-05
申请人： 重庆理工大学
IPC分类号： G01R31/28
摘要： 本发明提出了一种基于电注入方式的IRFPA ROIC串扰测试电路以及测试方法，包括光敏像元信号输出端连接信号选择电路像元信号输入端，测试电路信号发送端连接光电转换电路信号接收端，光电转换电路信号发送端连接工作测试开关一端，工作测试开关另一端连接注入管信号接收端，注入管信号发送端连接信号选择电路测试信号接收端，信号选择电路输出端连接读出电路ROIC信号接收端，读出电路ROIC信号输出端连接计算机自动测试系统信号接收端。
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公开(公告)号：CN107726987A
公开(公告)日：2018-02-23
申请号：CN201710979415.1
申请日：2017-10-19
申请人： 重庆理工大学
摘要： 本发明公开了一种光学薄膜的膜厚监控方法，包括如下步骤：1)监控膜层的T或者R随膜厚增加过程中的极值点数目，得到以λ/4为基本单位的整数厚度的膜层；2)当n1·d1变化时，dR/d(n1·d1)呈周期性变化代之以对时间t进行微分；3)在预设的极值点附近选取合适数目的数据点进行直线拟合，得到最佳直线方程；由端点法确定a的初值，利用一维优化方法搜索a*，用逐次逼近方法，给定初始值a(0)，选取步长h，并逐步调整步长，直至满足：|u(a(k))-u(a(k-1))|＜ε；4)根据步骤3)确定出的最佳步长h，确定出最佳直线；根据该最佳直线，就能够精确地进行膜层淀积厚度的监控。本发明能够准确监控光学薄膜的膜厚，从而提高光学薄膜的光学性能。
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公开(公告)号：CN107726987B
公开(公告)日：2019-12-13
申请号：CN201710979415.1
申请日：2017-10-19
申请人： 重庆理工大学
摘要： 本发明公开了一种光学薄膜的膜厚监控方法，包括如下步骤：1)监控膜层的T或者R随膜厚增加过程中的极值点数目，得到以λ/4为基本单位的整数厚度的膜层；2)当n1·d1变化时，dR/d(n1·d1)呈周期性变化代之以对时间t进行微分；3)在预设的极值点附近选取合适数目的数据点进行直线拟合，得到最佳直线方程；由端点法确定a的初值，利用一维优化方法搜索a*，用逐次逼近方法，给定初始值a(0)，选取步长h，并逐步调整步长，直至满足：|u(a(k))‑u(a(k‑1))|＜ε；4)根据步骤3)确定出的最佳步长h，确定出最佳直线；根据该最佳直线，就能够精确地进行膜层淀积厚度的监控。本发明能够准确监控光学薄膜的膜厚，从而提高光学薄膜的光学性能。
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