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公开(公告)号:CN117238739A
公开(公告)日:2023-12-15
申请号:CN202311191221.7
申请日:2017-07-31
Applicant: ASML荷兰有限公司
IPC: H01J37/063 , H01J37/26 , H01J9/02
Abstract: 公开了电子发射器和制造电子发射器的方法。根据某些实施例,一种电子发射器包括尖端,其具有直径在约(0.05‑10)微米的范围内的平面区域。电子发射器尖端被配置为释放场发射电子。电子发射器进一步包括涂覆在尖端上的功函数降低材料。
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公开(公告)号:CN109791862A
公开(公告)日:2019-05-21
申请号:CN201780056388.9
申请日:2017-07-31
Applicant: ASML荷兰有限公司
IPC: H01J9/02 , H01J1/14 , H01J1/304 , H01J37/06 , H01J37/065 , H01J37/073
Abstract: 公开了电子发射器和制造电子发射器的方法。根据某些实施例,一种电子发射器包括尖端,其具有直径在约(0.05-10)微米的范围内的平面区域。电子发射器尖端被配置为释放场发射电子。电子发射器进一步包括涂覆在尖端上的功函数降低材料。
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公开(公告)号:CN117501402A
公开(公告)日:2024-02-02
申请号:CN202280042746.1
申请日:2022-05-30
Applicant: ASML荷兰有限公司
IPC: H01J37/24
Abstract: 提供了用于使用反馈回路来调整束电流的装置、系统和方法。在一些实施例中,系统104可以包括:第一阳极孔120b,被配置为在样品170的检查期间测量发射束161的电流,其中该第一阳极孔被定位在被配置为支持小于3×10‑10托的真空压力的环境中;以及控制器,包括被配置为使该系统执行以下操作的电路装置:当所测量的电流与设定点电流之间的差异超过阈值时生成反馈信号,并且在该样品的检查期间基于该反馈信号调整提取器电压源312的电压,使得发射束的调整后的电流与该设定点电流之间的差异低于该阈值。
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公开(公告)号:CN117133616A
公开(公告)日:2023-11-28
申请号:CN202311086210.2
申请日:2017-07-31
Applicant: ASML荷兰有限公司
IPC: H01J37/063 , H01J37/26 , H01J9/02
Abstract: 公开了电子发射器和制造电子发射器的方法。根据某些实施例,一种电子发射器包括尖端,其具有直径在约(0.05‑10)微米的范围内的平面区域。电子发射器尖端被配置为释放场发射电子。电子发射器进一步包括涂覆在尖端上的功函数降低材料。
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