光刻设备和位置测量方法

    公开(公告)号:CN1758140B

    公开(公告)日:2010-09-15

    申请号:CN200510113781.6

    申请日:2005-10-08

    IPC分类号: G03F7/00 G03F9/00 G01B9/02

    CPC分类号: G03F7/70775 G03F7/70858

    摘要: 在光刻设备中,利用物体位置测量系统来测量物体在环境空间中的位置,所述物体位置测量系统会受到环境空间中压力变化的影响,可以利用精确测量环境空间中的压力来校正所述位置测量结果5。可以设置参考压力容积,所述参考压力容积包括连接到环境空间的具有预定的流动特性的流体连接。测量参考压力容积中的压力和环境空间中环境压力之间的压力差。将参考压力容积中的绝对压力加到所述压力差上,以便测定环境空间中的压力变化。或者,把压力差对一定时间进行积分,用以测定参考压力容积中的压力变化,并将参考压力容积中的这种压力变化加到压力差上,以测定环境空间中的压力变化。流体连接也可以是能够打开和关闭的阀门。

    光刻设备和位置测量方法

    公开(公告)号:CN1758140A

    公开(公告)日:2006-04-12

    申请号:CN200510113781.6

    申请日:2005-10-08

    IPC分类号: G03F7/00 G03F9/00 G01B9/02

    CPC分类号: G03F7/70775 G03F7/70858

    摘要: 在光刻设备中,利用物体位置测量系统来测量物体在环境空间中的位置,所述物体位置测量系统会受到环境空间中压力变化的影响,可以利用精确测量环境空间中的压力来校正所述位置测量结果5。可以设置参考压力容积,所述参考压力容积包括连接到环境空间的具有预定的流动特性的流体连接。测量参考压力容积中的压力和环境空间中环境压力之间的压力差。将参考压力容积中的绝对压力加到所述压力差上,以便测定环境空间中的压力变化。或者,把压力差对一定时间进行积分,用以测定参考压力容积中的压力变化,并将参考压力容积中的这种压力变化加到压力差上,以测定环境空间中的压力变化。流体连接也可以是能够打开和关闭的阀门。