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公开(公告)号：CN112262311B
公开(公告)日：2024-10-11
申请号：CN201980034016.5
申请日：2019-02-01
申请人： CKD株式会社
IPC分类号： G01N21/85
摘要： 提供一种检查装置和PTP包装机，可谋求利用分光分析的检查所导致的检查精度的降低的抑制。检查装置(22)包括：照明装置(52)，该照明装置(52)可向容器膜(3)照射近红外光，该容器膜(3)由在袋部(2)中接纳有片剂(5)形成；遮光板(54)，该遮光板(54)设置于上述照明装置(52)和容器膜(3)之间，遮挡上述近红外光向上述容器膜(3)的入射；透孔(54a)，该透孔(54a)设置于上述遮光板(54)中，允许上述近红外光的通过；摄像装置(53)，该摄像装置(53)可对从透孔(54a)照射了近红外光的片剂(5)所反射的反射光进行分光，对其进行摄像，检查装置(45)根据通过该摄像装置(53)获得的分光图像数据，获得片剂(5)的光谱数据，据此，针对片剂(5)进行异常品种混入检查。
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公开(公告)号：CN114834668B
公开(公告)日：2024-08-16
申请号：CN202210031129.3
申请日：2022-01-12
申请人： CKD株式会社
摘要： 本申请涉及PTP片及PTP包装机，提供可更可靠地抑制遍及底壁部的大范围产生白浊的情况，并且可有效地防止袋部的高度增大的PTP片。PTP片的容器膜(3)包括用于接纳片剂(5)的袋部(2)。片剂(5)呈至少外面(5b)呈向外侧凸出的弯曲形状，规定剖面中的片剂(5)的外面(5b)的外形线为具有恒定的曲率半径(CRt)的圆弧形状。袋部(2)的底壁部(2b)中的位于片剂(5)侧的内面包括可支承片剂(5)的支承区域(p1)与通过支承区域(p1)而包围的中央区域(p2)。在规定剖面中，支承区域(p1)的外形线为具有恒定的曲率半径(CRp1)的圆弧形状，中央区域(p2)的外形线为具有恒定的曲率半径(CRp2)的圆弧形状。另外，以满足CRt≥CRp2>CRp1的方式构成。
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公开(公告)号：CN113966457B
公开(公告)日：2024-06-11
申请号：CN202080043038.0
申请日：2020-04-21
申请人： CKD株式会社
IPC分类号： G01B11/25
摘要： 本发明提供一种在进行利用相移法的三维测量时能够实现测量的高速化的三维测量装置以及三维测量方法。基板检查装置(1)包括：照明装置(4)，从斜上方对印刷基板(2)照射规定的光图案；相机(5)，对印刷基板(2)上的被照射了光图案的部分进行拍摄；以及控制装置(6)，其对它们进行控制。控制装置(6)使所照射的光图案的相位进行4次变化，并且在这些相位不同的各光图案下进行拍摄，获取4种图像数据。并且构成为，在基于这4种图像数据通过相移法进行三维测量时，从图像数据上的规定的坐标位置的4个亮度值中，提取未过曝光且未欠曝光的两个以上且小于4个的亮度值，并基于该亮度值执行规定的坐标位置的高度测量。
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公开(公告)号：CN113711020B
公开(公告)日：2024-05-28
申请号：CN202080029343.4
申请日：2020-03-17
申请人： CKD株式会社
摘要： 提供一种可谋求检查精度的提升等的检查装置、包装机及包装体的检查方法。X射线检查装置45具备：对所搬送的PTP薄膜25照射X射线的X射线照射装置51；拍摄被照射该X射线的PTP薄膜25的X射线传感器相机53。且将根据X射线传感器相机53所取得的X射线穿透画像的坐标系统，依据X射线照射装置51、PTP薄膜25及X射线传感器相机53的位置关系，转换成PTP薄膜25的坐标系统，再基于该转换的X射线穿透画像，执行有关PTP薄膜25的检查。
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公开(公告)号：CN113767263B
公开(公告)日：2024-05-07
申请号：CN202080032457.4
申请日：2020-04-07
申请人： CKD株式会社
摘要： 提供能够实现测量精度的提高等的三维测量装置以及三维测量方法。基板检查装置(10)包括具有照射装置(13)、投影装置(14)以及相机(15)的测量头(12)，首先，从照射装置(13)向印刷基板(1)上的检查范围照射狭缝光，测量该检查范围的高度。接着，基于该检查范围的高度求出该检查范围所包含的各焊膏的测量基准面的高度，并且确定在对焦状态下拍摄各焊膏的高度方向整个区域所需的需要对焦范围。接着，基于各焊膏的需要对焦范围和相机(15)的景深进行测量头(12)的高度位置和在该高度位置作为测量对象的焊膏的关联。然后，使测量头(12)相对于在此确定的规定的高度位置依次移动，对在该高度位置作为测量对象的焊膏(5)执行焊料测量。
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公开(公告)号：CN110775374B
公开(公告)日：2021-10-22
申请号：CN201910559355.7
申请日：2019-06-26
申请人： CKD株式会社
摘要： 本发明的课题在于提供一种检查装置和PTP包装机、以及PTP片的制造方法。可更加适合地进行涉及设置在PTP片上的刻印的检查。刻印检查装置(31)包括：照明装置(52)，其可从容器膜的外面侧越过该容器膜，对PTP膜(9)的罩面膜照射光；摄像装置(53)，其可从容器膜的外面侧越过该容器膜，对照射了该光的上述罩面膜进行摄像，照射到PTP膜(9)的光相对容器膜的平坦部的外面的入射角度(α)设定在下述的规定的大入射角度，在该大入射角度为，射入容器膜的光中的从刻印而反射、从容器膜而射出的光基本射入摄像装置(53)，并且从罩面膜的普通部而反射，从容器膜而射出的光基本不射入摄像机构(53)的入射角度。由此，获得与罩面膜的普通部相比较，刻印明亮地显示的图像数据，进行刻印的检测和检查。
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公开(公告)号：CN108700409B
公开(公告)日：2021-07-27
申请号：CN201680081606.X
申请日：2016-08-31
申请人： CKD株式会社
摘要： 提供一种当进行三维测量时能够提高测量精度等的三维测量装置。基板检查装置(10)包括移动印刷基板(1)的输送机(13)、向印刷基板(1)照射预定光的照明装置(14)、用于拍摄被照射了该光的印刷基板(1)的相机(15)。相机(15)包括设置为能够在上下方向上变位的拍摄元件和使印刷基板(1)的像成像在其上的双侧远心光学系统。并且，在进行以三维测量为目的的与印刷基板(1)的预定区域有关的拍摄的前一阶段，进行该预定区域的高度测量等的同时，基于其结果进行拍摄元件(17)的高度调整等。
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公开(公告)号：CN108139208B
公开(公告)日：2020-03-27
申请号：CN201680060278.5
申请日：2016-06-01
申请人： CKD株式会社
摘要： 提供三维测量装置，当利用相移法进行三维测量时，能够显著地提高测量精度。基板检查装置(1)包括：照明装置(4)，从斜上方向印刷基板(2)的表面投影预定的条纹图案；相机(5)，拍摄印刷基板(2)上的投影了条纹图案的部分；以及控制装置(6)，实施基板检查装置(1)内的各种控制和图像处理、运算处理。并且，将光栅板(4b)移动到预定位置，使其暂时停止，并且在包含该光栅板(4b)的停止期间和该停止期间开始前的光栅板(4b)的移动期间的一部分的预定期间分多次拍摄投影到印刷基板(2)的条纹图案，针对各像素将该拍摄的一连串的图像数据的各像素的亮度值相加，算出其平均值。
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公开(公告)号：CN110775374A
公开(公告)日：2020-02-11
申请号：CN201910559355.7
申请日：2019-06-26
申请人： CKD株式会社
摘要： 本发明的课题在于提供一种检查装置和PTP包装机、以及PTP片的制造方法。可更加适合地进行涉及设置在PTP片上的刻印的检查。刻印检查装置(31)包括：照明装置(52)，其可从容器膜的外面侧越过该容器膜，对PTP膜(9)的罩面膜照射光；摄像装置(53)，其可从容器膜的外面侧越过该容器膜，对照射了该光的上述罩面膜进行摄像，照射到PTP膜(9)的光相对容器膜的平坦部的外面的入射角度(α)设定在下述的规定的大入射角度，在该大入射角度为，射入容器膜的光中的从刻印而反射、从容器膜而射出的光基本射入摄像装置(53)，并且从罩面膜的普通部而反射，从容器膜而射出的光基本不射入摄像机构(53)的入射角度。由此，获得与罩面膜的普通部相比较，刻印明亮地显示的图像数据，进行刻印的检测和检查。
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公开(公告)号：CN110775321A
公开(公告)日：2020-02-11
申请号：CN201910670821.9
申请日：2019-07-24
申请人： CKD株式会社
摘要： 本发明的课题在于提供可谋求印刷部的外观质量的降低的抑制的PTP片的制造方法。PTP片(1)的制造工序包括在容器膜(3)的袋部(2)中填充片剂(5)的填充步骤。在填充步骤中，通过印刷装置(61)，在片剂(5)的外面侧和内面侧中的仅仅一者上形成印刷部(5J)，以在形成有印刷部(5J)的一侧的面与袋部(2)面对的方式填充片剂(5)。片剂(5)和袋部(2)处于印刷部(5J)和袋部(2)不接触的关系。由于袋部(2)没有因通常的振动等的原因而变形，故根据上述关系，可更加确实地避免印刷部(5J)和袋部(2)的接触。一方面，由于在具有变形的担心的罩面膜侧没有形成印刷部(5J)，故可防止伴随与罩面膜的接触的印刷部(5J)的蹭擦。
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