薄膜晶体管的制造方法

    公开(公告)号:CN1461048A

    公开(公告)日:2003-12-10

    申请号:CN03137819.6

    申请日:2003-05-21

    IPC分类号: H01L21/336 H01L29/786

    CPC分类号: H01L29/66757 H01L29/4908

    摘要: 本发明涉及薄膜晶体管的制造方法。在透明绝缘基片(1)上形成由多晶硅构成的半导体膜(5)和第1栅极氧化膜(6)后,使半导体膜(5)和第1栅极氧化膜(6)成为岛状图案,形成岛状部分,第1栅极氧化膜(6)和半导体膜(5)侧端面不齐,第1栅极氧化膜(6)的端部从半导体膜(5)的侧端面的位置稍微突出形成屋檐状的伸出部分(8)。一面从形成这个半导体膜(5)和第1栅极氧化膜(6)的透明绝缘基片(1)上方例如在30[sec]的时间内滴下浓度为1[%]的氢氟酸水溶液,一面以200[rpm]的旋转速数旋转透明绝缘基片(1),进行旋转清洗。因此,能够在清洗同时除去伸出部分(8)。通过确实地除去伸出部分提高成品率。

    薄膜晶体管的制造方法

    公开(公告)号:CN1212654C

    公开(公告)日:2005-07-27

    申请号:CN03137819.6

    申请日:2003-05-21

    IPC分类号: H01L21/336 H01L29/786

    CPC分类号: H01L29/66757 H01L29/4908

    摘要: 本发明涉及薄膜晶体管的制造方法。在透明绝缘基片(1)上形成由多晶硅构成的半导体膜(5)和第1栅极氧化膜(6)后,使半导体膜(5)和第1栅极氧化膜(6)成为岛状图案,形成岛状部分,第1栅极氧化膜(6)和半导体膜(5)侧端面不齐,第1栅极氧化膜(6)的端部从半导体膜(5)的侧端面的位置稍微突出形成屋檐状的伸出部分(8)。一面从形成这个半导体膜(5)和第1栅极氧化膜(6)的透明绝缘基片(1)上方例如在30[sec]的时间内滴下浓度为1[%]的氢氟酸水溶液,一面以200[rpm]的旋转速数旋转透明绝缘基片(1),进行旋转清洗。因此,能够在清洗同时除去伸出部分(8)。通过确实地除去伸出部分提高成品率。