乳房X射线摄影装置
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN108685587A

    公开(公告)日:2018-10-23

    申请号:CN201810190185.5

    申请日:2018-03-08

    发明人: 西由浩

    IPC分类号: A61B6/02 A61B6/10

    摘要: 本发明提供在移动放射线源而进行拍摄的乳房X射线摄影装置中设置保护受检者的保护部件时,能够抑制装置大型化的乳房X射线摄影装置。乳房X射线摄影装置(10)具备:放射线源(29),对受检者的乳房照射放射线;支承部(22),将放射线源支承为能够以轴(23)为中心旋转,向对乳房的放射线的入射角度彼此不同的多个拍摄位置移动放射线源;护面罩(32),从由放射线源照射的放射线中保护受检者;及至少一对臂(36),一端以能够旋转的方式与护面罩连结,另一端以能够旋转的方式与相对于放射线源的旋转维持静止状态的保持部(18)连结,在一端与另一端之间具有弯曲部(37),能够以连结一端与另一端的旋转轴(35)为中心旋转。

    处置差分相衬成像中的未对准

    公开(公告)号:CN104582575B

    公开(公告)日:2017-12-19

    申请号:CN201380044199.1

    申请日:2013-08-09

    IPC分类号: A61B6/00 G01N23/20 G03F9/00

    摘要: 本发明涉及处置差分相衬成像中的未对准。为了提供对用于差分相衬成像的X射线成像系统中的未对准的经改进的处置,提供了一种用于差分相衬成像的X射线成像系统(10),所述X射线成像系统(10)包括差分相衬设置(12),所述差分相衬设置(12)具有:X射线源(14)、X射线探测器(16)和光栅布置,所述光栅布置包括源光栅(18)、相位光栅(20)和分析器光栅(22)。所述源光栅被布置在所述X射线源与所述相位光栅之间,并且所述分析器光栅被布置在所述相位光栅与所述探测器之间。另外,所述系统包括处理单元(24)和测量系统(26),所述测量系统(26)用于确定所述光栅中的至少一个的未对准。所述X射线源和所述源光栅被提供为刚性X射线源单元(28)。所述相位光栅、所述分析器光栅和所述探测器被提供为刚性X射线探测单元(30)。所述测量系统是光学测量系统,所述光学测量系统被配置为确定包括所述X射线源单元的所述差分相衬设置与所述X射线探测单元之间的未对准。另外,所述处理单元被配置为基于所确定的未对准来提供校正信号(34)。

    具有移动调节机构的乳房X射线摄影扫描系统

    公开(公告)号:CN107427273A

    公开(公告)日:2017-12-01

    申请号:CN201680013540.0

    申请日:2016-01-04

    IPC分类号: A61B6/02 A61B6/00

    摘要: 本发明涉及乳房X射线摄影术,例如断层合成乳房X射线摄影术。为了提供具有改进质量的乳房X射线摄影成像,提供了一种用于断层合成乳房X射线摄影术的乳房X射线摄影成像系统(10),其包括:X射线源(12)、X射线探测器(14)、支撑结构(22)、和具有乳房支撑表面(20)的乳房支撑件(18)。X射线源和X射线探测器安装在朝上延伸的扫描臂(24)上;X射线源被安装在扫描臂上、位于乳房支撑件的上方,且X射线探测器安装在乳房支撑件的下方。扫描臂可移动地安装至支撑结构以执行绕旋转轴(26)的旋转运动,该旋转轴位于乳房支撑件的下方。在旋转运动期间,扫描臂绕旋转轴旋转,使得X射线源和X射线探测器执行扫描运动,且在乳房支撑件上的对象被从不同的角度方向进行辐射。设置运动调节机构(34),其在扫描期间致使X射线探测器沿着跟随乳房支撑表面的适应性轨迹(36)移动。在一示例中,该适应性轨迹与乳房支撑表面对准。

    压缩元件挠曲的基于图像的确定

    公开(公告)号:CN103796592B

    公开(公告)日:2017-10-27

    申请号:CN201280043291.1

    申请日:2012-08-31

    IPC分类号: A61B6/04

    摘要: 本发明涉及X射线成像技术以及图像后处理和分析。公开了一种X射线成像系统元件(3)、一种X射线成像系统(2)、系统元件在X射线成像系统中的使用以及确定压缩元件的挠曲的方法(40)。所述X射线成像系统元件(3)包括两个压缩元件(8a、8b),它们能够相对于彼此移动。对象(10)可以被引入并且能够被压缩到所述第一压缩元件和所述第二压缩元件之间。所述压缩元件中的至少一个适于在将对象压缩到所述压缩元件之间时改变其几何形状和/或相对于另一压缩元件的对准。在所述压缩元件中的一个上提供至少部分X射线不透明的标记元件(24),所述标记元件适于允许检测相应的压缩元件(8a、8b)的几何形状的改变。