公开(公告)号：CN105371879B

公开(公告)日：2017-12-15

申请号：CN201510477260.2

申请日：2015-08-06

申请人： 株式会社拓普康

发明人： 弥延聪

IPC分类号： G01D5/26 ,  G01D5/30

CPC分类号： G01C1/02 ,  G01D5/24438 ,  G01D5/34715 ,  G01D5/3473 ,  G01D5/34776

摘要： 本发明涉及绝对式编码器，上述绝对式编码器具备：发光机构，用于从出射面照射检测光(L)；以及受光机构，利用受光区域接收从出射面射出并通过了刻度盘的刻度区域的检测光(L)。发光机构和受光机构设定成使从出射面经过刻度区域朝向受光区域的照射轴线相对于刻度盘的旋转轴线方向倾斜的位置关系。

公开(公告)号：CN103518120B

公开(公告)日：2016-05-04

申请号：CN201280022191.0

申请日：2012-08-10

申请人： 日立金属株式会社

发明人： 冈田泰行 ,  阿部泰典

IPC分类号： G01D5/245

CPC分类号： G01R33/09 ,  G01B7/003 ,  G01D5/24438 ,  G01D5/2451

摘要： 提供一种在与磁介质之间隔开空隙、能够提高移动量的检测精度的编码器。磁介质在上述相对移动方向上以预先确定的间距λm被充磁，磁传感器具备多个磁阻效应元件，该多个磁阻效应元件的电阻值根据所配置的场所的磁场而变化，以配置该磁阻效应元件的位置为基准位置，除了该基准位置的磁阻效应元件以外，作为高次谐波降低图案的磁阻效应元件分别被配置在如下位置：设P（n）为第n个素数，使用N＞3的自然数N，从上述基准位置向上述相对移动方向的至少一侧离开λm／（2·P（n））（其中N≥n＞1）的位置；以及从偏离λm／（2·P（L））（其中1＜L＜N）的位置进一步偏离λm／（2·P（L＋1））的位置。

公开(公告)号：CN104848877A

公开(公告)日：2015-08-19

申请号：CN201510087380.1

申请日：2015-02-25

申请人： 赫克斯冈技术中心

发明人： U·沃金格 ,  海因茨·利普纳 ,  克努特·西尔克斯

IPC分类号： G01D5/00 ,  G01D5/24 ,  G01D5/30 ,  G01D3/036

CPC分类号： G01D18/00 ,  G01B11/14 ,  G01D5/14 ,  G01D5/24438 ,  G01D5/24452 ,  G01D5/2449 ,  G01D5/34723 ,  G01D5/34746

摘要： 一种具有校准功能的线性编码器(100)，该线性编码器具有位置编码标记(3c)的质量具体化装置(3)，具有校准装置的读取端头(1)，以及控制与分析单元(2)，以及校准方法，该校准方法用于利用所述读取端头(1)来校准由码元(20)制成的位置编码(3c)。所述读取端头(1)具有传感器单元(4)，该传感器单元具有至少两个检测基准点(R1、R2)，其检测距离以高精度建立至少一个标准(s、s1、s2、s3)。在所述校准方法的范围中，借助于所述标准(s、s1、s2、s3)准备针对码元(20)的校准位置值(K20b、K20c、K27b、K27c、K28b、K28c)，其以高精度确定，并且存储在所述控制与分析单元(2)中。

公开(公告)号：CN104819731A

公开(公告)日：2015-08-05

申请号：CN201510038444.9

申请日：2015-01-26

申请人： 株式会社三丰

发明人： 辻胜三郎 ,  前田不二雄

IPC分类号： G01D5/12

CPC分类号： G01D5/34746 ,  G01D5/20 ,  G01D5/24 ,  G01D5/24438 ,  G01D5/34753

摘要： 线性编码器，其包括板状的刻度尺和沿着刻度尺的长度方向移动的头部。刻度尺具有形成在其表面且沿着其长度方向配置的刻度。头部包括读取部，读取部通过读取形成于刻度尺的刻度来检测头部相对于刻度尺的相对移动的量。头部包括均具有沿着刻度尺的宽度方向延伸的转动轴线的四个轴承。各轴承均以与刻度尺的表面抵接的方式配设于头部，以用作使刻度尺和头部之间保持间隔的间隔件。将刻度尺用作介于读取部和刻度之间的板状构件。

公开(公告)号：CN102341674B

公开(公告)日：2015-05-20

申请号：CN201080010455.1

申请日：2010-03-01

申请人： RLS梅里那技术公司 ,  瑞尼斯豪公司

发明人： 格雷戈尔·多尔萨克

IPC分类号： G01D5/244 ,  G01D5/36

CPC分类号： G01D5/24438 ,  G01D5/2448 ,  G01D5/36

摘要： 描述了一种用于位置编码器的扫描装置(150)，其包括用于产生多个传感器信号(S)的多个传感器元件(16；H)。还提供求和单元(34)，用于产生至少第一求和信号(Sin)和第二求和信号(Cos)，所述求和信号提供关于扫描装置与关联标尺(14；152)的相对对准的信息。所述第一求和信号(Sin)由多个传感器信号(S)的第一子集产生，所述第二求和信号(Cos)由多个传感器信号(S)的第二子集产生。所述多个传感器元件(16；H)相对彼此大致均匀地间隔开，并且关联标尺(14)的每一周期(p)设置N个传感器元件，其中N是整数并且是3和4的倍数。以这种方式，抑制了第三谐波对于求和信号(Sin/Cos)的影响。

公开(公告)号：CN104165645A

公开(公告)日：2014-11-26

申请号：CN201410316913.4

申请日：2014-05-16

申请人： 株式会社三丰

发明人： 木村彰秀

IPC分类号： G01D5/36

CPC分类号： G01D5/34715 ,  G01D5/24438 ,  G01D5/366 ,  G01D5/38

摘要： 参考信号产生电路从参考点检测图案的读取结果产生参考信号。第一光接收元件阵列包括输出第一信号的第一光接收元件以及设置在第一光接收元件的第一方向上并且输出第二信号的第二光接收元件。第二光接收元件阵列包括输出第三信号的第三光接收元件以及设置在第三光接收元件的第一方向上并输出第四信号的第四光接收元件。第二光接收元件阵列设置在第一光接收元件阵列的第二方向上。参考信号产生电路输出参考信号，所述参考信号在第一和第二信号的电平变得相等的时段开始并在第三和第四信号的电平变得相等的时段结束。

公开(公告)号：CN102317743A

公开(公告)日：2012-01-11

申请号：CN201080007342.6

申请日：2010-02-05

申请人： 阿尔卑斯电气株式会社

发明人： 竹谷广明 ,  竹谷努 ,  朝比奈宏行

IPC分类号： G01D5/245 ,  G01D5/244

CPC分类号： G01D5/24438 ,  G01D5/145

摘要： 本发明的目的在于提供一种能够稳定地进行高精度的旋转检测的旋转检测装置。所述旋转检测装置具有：具备凸部(6)的齿轮状磁性体(2)，该凸部(6)在外周侧面沿旋转方向隔开间隔而向离开旋转中心的方向突出；位于齿轮状磁性体(2)的凹凸部(8)的上方的磁铁(3)；位于凹凸部(8)的下方的磁传感器(4)。磁铁(3)被沿着与齿轮状磁性体(2)的半径方向平行的方向(X方向)磁化。齿轮状磁性体(2)旋转时，磁传感器(4)及磁铁(3)与凸部(6)及凹部(7)交替对置。此时，能够根据所述磁传感器(4)的输出来进行旋转检测，该磁传感器(4)的输出因在齿轮状磁性体(2)的凸部(6)的检测时与所述齿轮状磁性体(2)的凹部(7)的检测时作用在磁传感器(4)上的磁场变化而变动。

公开(公告)号：CN104236606B

公开(公告)日：2018-05-25

申请号：CN201410360863.X

申请日：2014-05-16

申请人： 株式会社三丰

发明人： 木村彰秀

IPC分类号： G01D5/36

CPC分类号： G01D5/347 ,  G01D5/24438 ,  G01D5/366 ,  G01D5/38

摘要： 基准点检测光接收单元通过第一到第五光接收元件从基准点检测图案接收光。该第一到第五光接收元件布置在第一方向上并分别地输出第一到第五信号。基准信号发生电路输出一基准信号，该基准信号在其中通过将第一与第二信号相加而得到的信号的电平与通过将第三与第四信号相加而得到的信号的电平变为相等的周期处开始，以及在通过将该第二与第三信号相加而得到的信号与通过将该第四与第五信号相加而得到的信号的电平变为相等的周期处结束。

公开(公告)号：CN104583727B

公开(公告)日：2018-01-02

申请号：CN201380044101.2

申请日：2013-08-23

申请人： 迈来芯技术股份有限公司

发明人： C·肖特 ,  S·休伯

IPC分类号： G01D5/14

CPC分类号： G01D5/145 ,  G01D5/24438

摘要： 用于测量转子(2)相对于定子(3)的角位置(α)的布置(1)，该布置包括安装在转子(2)上的多极磁体(5)以及安装在定子(3)上的传感器(6)，且该传感器(6)包括有被组织成两个组群(S,T)或四个组群(S,T,U,V)的、用于测量磁场分量(Br,Bt,Bz)的多个传感器元件(HH,VH)。用于计算角位置(α)的方法包括得到每一组群中的各元件的信号的和、这两个和的比、以及反正切函数。替换地，该方法可包括得到信号的和、和的差值、差值的比以及反正切函数。集成传感器(6)以及这样的布置(1)或传感器(6)在汽车环境中的使用。

公开(公告)号：CN104848877B

公开(公告)日：2017-11-21

申请号：CN201510087380.1

申请日：2015-02-25

申请人： 赫克斯冈技术中心

发明人： U·沃金格 ,  海因茨·利普纳 ,  克努特·西尔克斯

IPC分类号： G01D5/00 ,  G01D5/24 ,  G01D5/30 ,  G01D3/036

CPC分类号： G01D18/00 ,  G01B11/14 ,  G01D5/14 ,  G01D5/24438 ,  G01D5/24452 ,  G01D5/2449 ,  G01D5/34723 ,  G01D5/34746

摘要： 一种具有校准功能的线性编码器(100)，该线性编码器具有位置编码标记(3c)的质量具体化装置(3)，具有校准装置的读取端头(1)，以及控制与分析单元(2)，以及校准方法，该校准方法用于利用所述读取端头(1)来校准由码元(20)制成的位置编码(3c)。所述读取端头(1)具有传感器单元(4)，该传感器单元具有至少两个检测基准点(R1、R2)，其检测距离以高精度建立至少一个标准(s、s1、s2、s3)。在所述校准方法的范围中，借助于所述标准(s、s1、s2、s3)准备针对码元(20)的校准位置值(K20b、K20c、K27b、K27c、K28b、K28c)，其以高精度确定，并且存储在所述控制与分析单元(2)中。