公开(公告)号：CN103580758A

公开(公告)日：2014-02-12

申请号：CN201310259817.6

申请日：2013-06-26

申请人： 富士通株式会社

发明人： 中岛久雄 ,  星田刚司

IPC分类号： H04B10/58 ,  H04B10/69 ,  H04B10/2569 ,  H04B10/2525

CPC分类号： H04B10/07 ,  G01M11/336 ,  G01M11/337 ,  H04B10/07951

摘要： 本发明提供了一种用于监视光传输线的偏振相关特性的光传输系统和方法。该方法包括：通过光传送器控制与所传送的信号相对应的电场信息信号，扫描光信号的光频；通过光传送器控制与第一所传送的信号相对应的第一电场信息信号和与第二所传送的信号相对应的第二电场信息信号的混合，针对光信号的各个频率提供不同偏振态；当光传送器扫描光信号的频率时，通过光接收器基于与不同偏振态相对应的所接收的电场信息项来计算光传送器与光接收器之间的光传输线的偏振相关特性，针对光信号的各个频率获得与不同的频率相对应的偏振相关特性；以及，采用光接收器基于偏振相关特性来获得光传输线的偏振态的统计信息。

公开(公告)号：CN107923816A

公开(公告)日：2018-04-17

申请号：CN201680050174.6

申请日：2016-12-21

申请人： 住友电气工业株式会社

发明人： 林哲也

IPC分类号： G01M11/02 ,  G02B6/02

CPC分类号： G01M11/337 ,  G01M11/33 ,  G02B6/02 ,  G02B6/02014 ,  G02B6/02042 ,  G02B6/02266 ,  G02B6/2808 ,  G02B6/42

摘要： 当前实施例涉及一种包括实现MDL测量而不增大处理负载的结构的MDL测量方法等。当前实施例针对N(≥2)个空间模式按次序执行将预定强度的光输入至任意空间模式的光输入操作和测量包括所述任意空间模式的N个空间模式中的每一个的输出光强的强度测量操作，以产生涉及作为测量目标的光纤中的传输损耗的传输矩阵，并且通过利用产生的传输矩阵的各个组分值至少确定每单位光纤长度的MDL的线性值。

公开(公告)号：CN106768877A

公开(公告)日：2017-05-31

申请号：CN201611073448.1

申请日：2016-11-29

申请人： 哈尔滨工程大学

发明人： 杨军 ,  杨喆 ,  张浩亮 ,  彭峰 ,  苑勇贵 ,  苑立波

IPC分类号： G01M11/02

CPC分类号： G01M11/35 ,  G01M11/331 ,  G01M11/337

摘要： 本发明提供的是一种用于光学相干域偏振计的大动态范围标定方法。使用OCDP测量系统中焊点处的偏振串音形成的干涉峰作为传递载体，通过由被标准仪器检定后的一阶偏振串音所构成的峰值更低的高阶串音把标准尺度扩大，将标准传递进待测系统。通过指定各焊点处保偏光纤之间的对轴角度，使焊点间一、二、三阶偏振串音的峰值均匀分布在0～‑120dB的范围内，实现光学相干域偏振系统的在线标定。此方法突破了传统方法的标定极限，实现了动态范围超过100dB的系统的在线标定，其优点是结构简单、易于实现、标定精度高。

公开(公告)号：CN1791791A

公开(公告)日：2006-06-21

申请号：CN200480013286.1

申请日：2004-03-18

申请人： 索尔实验室公司

发明人： D·R·安德森 ,  S·辛格

IPC分类号： G01M11/00 ,  G01N21/21

CPC分类号： G01M11/337

摘要： 一种单次扫频的偏振相关损耗测量，它通过使测试光源的偏振态随测试光源在扫过一光波长范围时光波长变化而在庞加莱球上旋转。在四个不同取向的偏振态测量被测光学元件的输入端和输出端的偏振态和光功率，该测量以及对应于偏振态的已知波长提供一组用于计算光学元件的偏振相关损耗的测量数据。用偏振扫频模块(全无源或有源配置)产生随测试光源光波长变化而变化的偏振态。偏振扫频模块包含扫频波长光源(12)以及有源偏振控制器或无源光学元件，可使偏振态随光波长变化在庞加莱球上旋转。无源元件可以是偏振保持光纤(14，16)或者是分光器/复用器对，在偏振保持光纤(PMF)的场合，各偏振保持光纤本征态相互之间和偏振保持光纤本征态和光源(12)偏振态之间交角最好为约45°，各PMF(14，16)具有不同光程(L，√2)；在分光器/复用器对的场合，在每对中分光器和复用器之间有不同光程长度，每对中光程长度差值是不同的。其相对取向和光程长度选择成使得偏振态在庞加莱球上旋转。

公开(公告)号：CN1459037A

公开(公告)日：2003-11-26

申请号：CN02800671.2

申请日：2002-02-07

申请人： 图南系统株式会社

发明人： 高年完 ,  李峰玩 ,  金正元

IPC分类号： G02B5/30

CPC分类号： G01M11/337 ,  G02B6/105

摘要： 本发明公开了一种测量光学设备插入损耗变化量的装置和方法，该损耗取决于入射光的偏振状态，即偏振依赖损耗。周期地受全部偏振状态控制的入射光通过偏振扰频器经过试验光学设备，该扰频器包括压电元件式光纤双折射调制器，同时光辐射探测器测量通过的光的强度，其中被平均以进行双折射调制的测量强度值具有恒定周期，于是由该周期的最大功率与最小功率之比而计算出偏振依赖损耗。利用双折射调制器缩短了测量时间，减少了外界干扰对入射试验光学元件内的入射光的影响或外界干扰的出现几率，从而可以精确测量偏振依赖损耗。

公开(公告)号：CN105915288A

公开(公告)日：2016-08-31

申请号：CN201610394035.7

申请日：2016-06-06

申请人： 同济大学

发明人： 周俊鹤 ,  郑国增 ,  张允旺

IPC分类号： H04B10/2507 ,  G01M11/00

CPC分类号： H04B10/2572 ,  G01M11/337

摘要： 本发明涉及一种基于拉曼放大效应的偏振相关损耗补偿系统。其通过一定探测手段，得到现有信号的偏振相关损耗。该探测可以基于数字信号处理算法，也可以基于光学参数的测量。将得到的偏振相关损耗转换为斯托克斯向量。在传输光纤的输入端加入一个偏振的拉曼泵浦，该泵浦的偏振方向(斯托克斯向量)通过偏振控制器控制，和偏振相关损耗的偏振方向(斯托克斯向量)一致。调节泵浦的功率使得产生的偏振相关增益恰好补偿偏振相关损耗。该方法具有以下几个特点：装置简单、损耗低、成本低、可以直接在传输过程中补偿。

公开(公告)号：CN103580758B

公开(公告)日：2016-06-01

申请号：CN201310259817.6

申请日：2013-06-26

申请人： 富士通株式会社

发明人： 中岛久雄 ,  星田刚司

IPC分类号： H04B10/58 ,  H04B10/69 ,  H04B10/2569 ,  H04B10/2525

CPC分类号： H04B10/07 ,  G01M11/336 ,  G01M11/337 ,  H04B10/07951

摘要： 本发明提供了一种用于监视光传输线的偏振相关特性的光传输系统和方法。该方法包括：通过光传送器控制与所传送的信号相对应的电场信息信号，扫描光信号的光频；通过光传送器控制与第一所传送的信号相对应的第一电场信息信号和与第二所传送的信号相对应的第二电场信息信号的混合，针对光信号的各个频率提供不同偏振态；当光传送器扫描光信号的频率时，通过光接收器基于与不同偏振态相对应的所接收的电场信息项来计算光传送器与光接收器之间的光传输线的偏振相关特性，针对光信号的各个频率获得与不同的频率相对应的偏振相关特性；以及，采用光接收器基于偏振相关特性来获得光传输线的偏振态的统计信息。

公开(公告)号：CN1272608C

公开(公告)日：2006-08-30

申请号：CN03110572.6

申请日：2003-04-10

申请人： 索尔实验室公司

发明人： E·克劳斯 ,  A·班德默

IPC分类号： G01J4/04 ,  G01J4/00

CPC分类号： G01M11/337 ,  G01J4/04 ,  G01M11/336

摘要： 具有至少四个检波器的类型的偏振仪的高精度校准涉及使用输入光信号(校准偏振)的四个已知偏振态和至少一个其它偏振态。到偏振仪的所有输入偏振态具有统一的光信号归一化功率和统一的偏振度。用至少一个可变的校正参数产生四个校准偏振的斯托克斯矩阵，并且校正矩阵用斯托克斯矩阵和由偏振计测定的相应检波器电流矩阵确定。产生作为由偏振计测定的偏振态的偏振度的函数的优化判据。迭代变化校正参数，以便使优化判据最小化，使得偏振仪被校准以便对任何输入偏振态产生统一的功率和偏振度。

公开(公告)号：CN1348543A

公开(公告)日：2002-05-08

申请号：CN00806621.3

申请日：2000-04-07

申请人： 康宁股份有限公司

发明人： M·A·马罗 ,  W·E·施米特 ,  M·A·萨马 ,  G·E·威廉斯

IPC分类号： G01M11/00

CPC分类号： G01M11/3181 ,  G01M11/337

摘要： 所揭示的测量偏振依赖损失的装置的特征在于一前一后组合起来并且取向使得测量系统PDL噪声降低至忽略不计水平的几个光纤光学耦合器。通过匹配耦合器的PDL并且矢量化减去偏振的相反相位,实际上消除了测量系统的PDL。因此PDL噪声水平降低至零附近并且被测试光学器件(DUT)的PDL可以精确测量。由于系统测量了工作于反射模式或前向传输模式的光学器件的PDL,所以以较少花费实现和提供了多功能。这样,它提供了对两种类型器件的PDL测量的解决方案。

公开(公告)号：CN1851437A

公开(公告)日：2006-10-25

申请号：CN200510115075.5

申请日：2005-11-25

申请人： 安捷伦科技有限公司

发明人： 波格丹·沙弗兰耶切

IPC分类号： G01M11/00

CPC分类号： G01M11/337 ,  G01J9/04 ,  G01J2009/0261

摘要： 一种用于描述被测设备的特征的方法包括使多个光信号传播经过被测设备，并且将多个光信号与参考光信号合并。多个光信号被与参考光信号混频，并且来自多个光信号与参考光信号的混频的多个光信号之间的相对扰动被确定。在另一个实施例中，调制后的光信号被从本地振荡器提供，并且调制后的光信号被与输入光信号合并。调制后的光信号被与输入信号混频，以提供混频后的信号，并且输入光信号的至少一个偏振分辨的参数被从混频后的信号中抽取出来。