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公开(公告)号：CN109387356A
公开(公告)日：2019-02-26
申请号：CN201811010587.9
申请日：2018-08-31
申请人： 中国电子科技集团公司第五十五研究所
IPC分类号： G01M11/02
CPC分类号： G01M11/331
摘要： 本发明涉及一种光波导传输损耗测量方法，包括如下步骤：1）宽谱光源输出耦合到第一条光波导中，光波导传输后，通过光波导芯片耦合输出到高精度光谱仪中，光谱仪测得第一条F-P谐振器干涉条纹；2）宽谱光源输出耦合到第二条不同长度的光波导中，光波导传输后，通过光波导芯片耦合输出到高精度光谱仪中，光谱仪测得第二条F-P谐振器干涉条纹；3）根据两条F-P谐振器干涉条纹，利用光波导传输损耗与干涉条纹的关系式计算光波导的传输损耗。优点：通过测量两段不同长度光波导的F-P腔谐振条纹计算光波导传输损耗，无需知道波导端面或者光栅的反射率绝对值，即可计算光波导准确的传输损耗。并可同时满足端面耦合波导与垂直光栅耦合光波导的传输损耗测量。
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公开(公告)号：CN107976300A
公开(公告)日：2018-05-01
申请号：CN201711129172.9
申请日：2017-11-15
申请人： 苏州润桐专利运营有限公司
发明人： 卢平
IPC分类号： G01M11/02
CPC分类号： G01M11/331
摘要： 本发明公开了一种基于保偏光纤拍长测量装置的测量方法，其特征在于，包括宽谱光源、光纤起偏器、频谱仪和计算机，宽谱光源经过光纤起偏器进入待测高双折射保偏光纤，待测高双折射保偏光纤信号输出端连接有检偏器，待测高双折射保偏光纤和检偏器共同组成了一个马赫曾德干涉仪，马赫曾德干涉仪信号输出端有电光调制器,电光调制器上的光载微波信号经过色散光纤后入射到高速光电探测器上，高速光电探测器将光信号装换成微波信号并通过低噪放放大，低噪放输出端连接微波功分器；本发明具有处理量大、方便实用等特点。
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公开(公告)号：CN106768877A
公开(公告)日：2017-05-31
申请号：CN201611073448.1
申请日：2016-11-29
申请人： 哈尔滨工程大学
IPC分类号： G01M11/02
CPC分类号： G01M11/35 , G01M11/331 , G01M11/337
摘要： 本发明提供的是一种用于光学相干域偏振计的大动态范围标定方法。使用OCDP测量系统中焊点处的偏振串音形成的干涉峰作为传递载体，通过由被标准仪器检定后的一阶偏振串音所构成的峰值更低的高阶串音把标准尺度扩大，将标准传递进待测系统。通过指定各焊点处保偏光纤之间的对轴角度，使焊点间一、二、三阶偏振串音的峰值均匀分布在0～‑120dB的范围内，实现光学相干域偏振系统的在线标定。此方法突破了传统方法的标定极限，实现了动态范围超过100dB的系统的在线标定，其优点是结构简单、易于实现、标定精度高。
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公开(公告)号：CN102639966A
公开(公告)日：2012-08-15
申请号：CN201080032395.3
申请日：2010-05-27
申请人： 希里克萨有限公司
发明人： 马哈茂德·法哈蒂罗山 , 汤姆·理查德·帕克 , 谢尔盖·沙塔林
IPC分类号： G01D5/353
CPC分类号： G01H9/004 , E21B47/0002 , E21B47/101 , G01D5/35303 , G01D5/35306 , G01D5/35325 , G01D5/35335 , G01D5/35358 , G01D5/35364 , G01D5/35377 , G01D5/35383 , G01F1/66 , G01F1/661 , G01M11/331 , G01V1/40
摘要： 描述了一种用于光纤系统的干涉仪装置及其使用方法。干涉仪包括光耦合器和光纤，光纤限定第一光路和第二光路。在第一光路和第二光路中传播的光被反射回光耦合器以产生干涉信号。第一、第二和第三干涉信号分量被引导朝向相应的第一、第二和第三光电探测器。第三光电探测器通过非互易的光学器件连接到光耦合器，并被配置成测量朝向输入光纤被引导回来的第三干涉信号分量的强度。也描述了在监测声扰动的应用中使用的方法以及校准方法。
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公开(公告)号：CN106716112B
公开(公告)日：2019-08-06
申请号：CN201580052315.3
申请日：2015-09-29
申请人： 统一半导体公司
CPC分类号： G01B11/2441 , G01B9/02034 , G01B2210/56 , G01M11/331 , G01N21/8806 , G01N21/9501 , G01N21/9503 , H01L22/12
摘要： 本发明涉及一种用于检验用于电学、光学或光电学的晶片的方法，其包括：使晶片绕与所述晶片的主表面垂直的对称轴转动；从与干涉装置(30)耦接的光源(20)发射两条类准直入射光束，以在两条光束之间的交叉处形成包含干涉条纹的测量空间，缺陷通过所述测量空间的时间特征取决于缺陷在所述测量空间中通过的位置处的条纹间距的值，所述干涉装置(30)和所述晶片相对于彼此布置为使得所述测量空间在所述晶片的区域中延伸；收集由所述晶片的所述区域散射的光的至少一部分；捕获所收集的光并发射电信号；在所述信号中检测所述所收集的光的强度变化中的频率分量；从所述缺陷通过的位置处的所述条纹间距的值，确定所述缺陷在径向方向和/或所述晶片的厚度中的位置。
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公开(公告)号：CN102713528B
公开(公告)日：2016-05-04
申请号：CN201080033359.9
申请日：2010-05-27
申请人： 希里克萨有限公司
发明人： 马哈茂德·法哈蒂罗山 , 汤姆·理查德·帕克 , 谢尔盖·沙塔林
IPC分类号： G01D5/353
CPC分类号： G01H9/004 , E21B47/0002 , E21B47/101 , G01D5/35303 , G01D5/35306 , G01D5/35325 , G01D5/35335 , G01D5/35358 , G01D5/35364 , G01D5/35377 , G01D5/35383 , G01F1/66 , G01F1/661 , G01M11/331 , G01V1/40
摘要： 本发明提供了用于快速定量测量沿着一段光纤传输、反射和/或散射的光场的扰动的新颖的装置及方法。本发明可以用于点传感器以及分布式传感器或两者的结合。特别地，这种技术可以应用于分布式传感器，同时显著地提高速度和灵敏度以允许检测沿一段光纤的任何地方的声波扰动，同时达到良好的空间分辨率。本发明在较广范围的声学感测和成像应用中提供了独特的优势。典型的用途是用于监测油井和气井，以用于诸如分布式流量计量和/或成像；地震成像，监测长电缆和管道；在大型容器内部成像以及安全应用。
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公开(公告)号：CN102713528A
公开(公告)日：2012-10-03
申请号：CN201080033359.9
申请日：2010-05-27
申请人： 希里克萨有限公司
发明人： 马哈茂德·法哈蒂罗山 , 汤姆·理查德·帕克 , 谢尔盖·沙塔林
IPC分类号： G01D5/353
CPC分类号： G01H9/004 , E21B47/0002 , E21B47/101 , G01D5/35303 , G01D5/35306 , G01D5/35325 , G01D5/35335 , G01D5/35358 , G01D5/35364 , G01D5/35377 , G01D5/35383 , G01F1/66 , G01F1/661 , G01M11/331 , G01V1/40
摘要： 本发明提供了用于快速定量测量沿着一段光纤传输、反射和/或散射的光场的扰动的新颖的装置及方法。本发明可以用于点传感器以及分布式传感器或两者的结合。特别地，这种技术可以应用于分布式传感器，同时显著地提高速度和灵敏度以允许检测沿一段光纤的任何地方的声波扰动，同时达到良好的空间分辨率。本发明在较广范围的声学感测和成像应用中提供了独特的优势。典型的用途是用于监测油井和气井，以用于诸如分布式流量计量和/或成像；地震成像，监测长电缆和管道；在大型容器内部成像以及安全应用。
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公开(公告)号：CN101144751B
公开(公告)日：2011-02-23
申请号：CN200710152124.1
申请日：2007-09-17
申请人： 安科特纳有限责任公司
发明人： 文森特·勒科奇
CPC分类号： G01M11/336 , G01M11/331
摘要： 本发明公开了一种用于测量受试器件(DUT)内偏振模色散(PMD)的装置，包括偏振光源，用于经DUT发射测试光束；以及PMD分析仪，它采用多种已知技术中的一种，如固定分析仪-傅立叶变换(FA-FT)或干涉仪式，以计算DUT引起的PMD。在光源与PMD分析仪之间布置有由多个双折射元件组成的无源消偏器，以生成多个对应于双折射元件所施加时延的载波频率。DUT的PMD成分存在于每个载波周围，可以对多个PMD测量值取平均来获得更为精确且可再现的PMD测量值。
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公开(公告)号：CN1196793A
公开(公告)日：1998-10-21
申请号：CN96194853.1
申请日：1996-05-17
申请人： 阿尔卡特尔电信电缆公司
发明人： 特里·L·沃特斯
IPC分类号： G01J4/04
CPC分类号： G01M11/336 , G01M11/331
摘要： 提出一种高分辨率测量光纤偏振模色散的方法,该方法包括的步骤有:提供带光源的偏振模色散测量仪;提供待测光纤;与待测光纤串接一人造体,此人造体有稳定的已知偏振模色散值;使光源射出的光通过人造体及待测光纤;利用已从偏振模色散零值位移的偏振模色散测量仪,测量位移的偏振模色散值;从测得已位移的偏振模色散值,确定光纤的偏振模色散。
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公开(公告)号：CN106441353A
公开(公告)日：2017-02-22
申请号：CN201610532372.8
申请日：2016-07-07
申请人： 哈尔滨工程大学
CPC分类号： G01C25/00 , G01M11/02 , G01M11/331
摘要： 本发明属于光纤测量技术领域，具体涉及到一种可用于在线监测光纤陀螺环的缠绕质量的光纤陀螺环偏振耦合的对称性评估装置。一种光纤陀螺环偏振耦合的对称性评估装置，包括光源装置10、测试装置11、第一光程相关器12A、第二光程相关器12B、差分探测装置13、光电信号转换与信号记录装置14，测试装置11中包括待测器件110、与待测器件110两端相连接的第1环行器113A和第2环行器113B、第1起偏器111A和第1检偏器111B、第2起偏器112A和第2检偏器112B。本发明能够同时实现光纤陀螺环的缺陷点的偏振耦合信息的正向和反向测量，抑制了光纤陀螺环对称点色散影响不一致性带来的测量误差，该结构简单有效。
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