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公开(公告)号：CN109141260A
公开(公告)日：2019-01-04
申请号：CN201811228419.7
申请日：2018-10-22
Applicant: 中国科学院电子学研究所
CPC classification number: G01B11/06 , G01N15/088 , G01N2015/0846 , G01N2015/086
Abstract: 一种多孔膜厚度与孔隙率二维分布测定方法，包括：获得包含透明基底/缓冲膜/待测多孔膜的共振芯片；以宽带线偏振平行光为入射光，利用高光谱成像装置获取共振芯片的一实测共振图像和至少一组实测共振光谱；确定第一实测共振图像每一像素区域的至少两个实测共振波长；分别在至少两个实测共振波长所对应的测试条件下，通过仿真拟合求取表征每一像素区域处待测多孔膜的孔隙率和厚度关系的至少两个函数；求取同时满足该至少两个函数的孔隙率和厚度，即为每一像素区域位置处待测多孔膜的孔隙率和厚度。本发明具有原位实时、测量精度高、无破坏性等特点。
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公开(公告)号：CN108918384A
公开(公告)日：2018-11-30
申请号：CN201810789112.8
申请日：2018-07-18
Applicant: 重庆大学
IPC: G01N15/08
CPC classification number: G01N15/0806 , G01N15/08 , G01N15/0826 , G01N2015/0846
Abstract: 本发明公开了一种雨水入渗下土柱渗流侵蚀实验装置以及一种土—水分离实验方案。雨水入渗下土柱渗流侵蚀实验装置包括，实验装置支架、上游水头控制系统、刚性壁渗流室、侵蚀混合流体收集系统，实验装置支架包括可调节高度的底板、顶板、中间活动板，上游水头控制系统用于控制土柱承受的类降雨强度以及监测土柱承受的水力梯度，刚性壁渗流室是装置的核心部分，用以容纳土柱试样完成渗流侵蚀过程，侵蚀流体混合收集系统用以收集阶段内的侵蚀混合流体；土—水分离实验方案，包括检测侵蚀混合流体中粘土颗粒浓度、砂粒砾石混合颗粒质量、侵蚀流体质量。本发明能够有效实现雨水入渗条件下土柱的内部侵蚀实验和分析。
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公开(公告)号：CN107993261A
公开(公告)日：2018-05-04
申请号：CN201711066592.7
申请日：2017-11-02
Applicant: 中国科学院地质与地球物理研究所
CPC classification number: G06T7/62 , G01N15/088 , G01N2015/0846 , G06Q50/02 , G06T7/11
Abstract: 本发明涉及石油天然气地质勘探技术，涉及一种基于三维岩心扫描图像的孔隙和孔喉识别方法，所述孔隙和孔喉识别方法为从三维岩心扫描图像中分割出孔隙空间，从所述孔隙空间对孔隙和孔喉进行分割实现对孔隙和孔喉的识别；所述孔喉为连通两个所述孔隙的通道。这一发明可以克服现有技术中无法精确且高效地分割孔隙和孔喉，能够对孔隙和孔喉特征进行定量分析，可以更好地评价储层储油储气能力、孔隙内的油和气的赋存状态、运移能力。
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公开(公告)号：CN107270822A
公开(公告)日：2017-10-20
申请号：CN201710558888.4
申请日：2017-07-10
Applicant: 中国科学院电子学研究所
CPC classification number: G01B11/06 , G01N15/08 , G01N15/088 , G01N2015/0846 , G01N2015/086 , G01N2015/0866
Abstract: 本公开提供了一种测定多孔薄膜厚度和孔隙率的方法，其对测得的至少两个测试共振光谱进行仿真拟合，得到多孔薄膜厚度d与其孔隙率P的至少两个P-d函数关系，最后由这至少两个P-d函数关系曲线的交点得到待测多孔薄膜的厚度及孔隙率。本公开不仅实现了直接对多孔薄膜的厚度进行测量，还可同时获得多孔薄膜的孔隙率，具有简便易行、成本低廉、无破坏性等特点，具有较好的应用前景。
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公开(公告)号：CN106716114A
公开(公告)日：2017-05-24
申请号：CN201580042263.1
申请日：2015-09-11
Applicant: 数岩科技(厦门)股份有限公司
Inventor： 斯万·罗特
CPC classification number: G06T7/0004 , G01N15/08 , G01N15/0806 , G01N15/088 , G01N23/046 , G01N2015/0846 , G01N2223/616 , G01N2223/649 , G06K9/4638 , G06T7/97 , G06T2207/10012 , G06T2207/10081 , G06T2207/30181
Abstract: 基于计算机执行的多孔介质特征计算方法，该方法包含以下几步：第一步，获取第一个尺度上的多孔介质第一组图像；从第一组图像中提取第一组孔隙网络模型；基于第一组孔隙网络模型进行孔网渗流模拟得到多孔介质的第一组一系列性质；第二步，在第二个尺度上获取比第一个尺度更大的第二组多孔介质图像；从第二组图像中提取第二组孔隙网络模型；基于第二组孔隙网络模型和第一组孔隙网络中的一系列性质进行孔网渗流模拟得到多孔介质的第二组一系列性质。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103678756B
公开(公告)日：2017-04-19
申请号：CN201310407385.9
申请日：2013-09-09
Applicant: 波音公司
Inventor： K·L·弗格森
IPC: G06F17/50
CPC classification number: G01N15/088 , G01N2001/2893 , G01N2015/0846
Abstract: 一种用于建立非破坏性检查（106）孔隙率标准的方法和装置。在一个说明性实施例中，为多个样本（112）中的每个样本使用不同技术，以形成多个样本（112），使得多个样本（112）中的每个样本具有与多个样本（112）中的其它样本不同的孔隙率。多个样本中的每个样本与选择的部件类型（104）具有相同的选择的特性组。使用从利用计算断层摄影系统（132）产生的每个样本的三维图像（136）中提取的体积数据（148），为每个样本识别孔隙率水平。基于为多个样本（112）中的每个样本识别的孔隙率水平，由多个样本（112）为选择的孔隙率水平组（156）建立标准组（102）。标准组（102）经配置从而用于执行选择的部件类型（104）的部件（108）的非破坏性检查（106）。
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公开(公告)号：CN105823715A
公开(公告)日：2016-08-03
申请号：CN201610157800.3
申请日：2016-03-18
Applicant: 山东大学
IPC: G01N15/08
CPC classification number: G01N15/08 , G01N2015/0846
Abstract: 本发明公开了基于同位素示踪技术的岩体渗流路径观测装置及其使用方法，包括设有渗孔的岩体试样，在岩体试样的一端设有进水口，另一端设有出水口，岩体试样从进水口到出水口方向流通有与液体混合的放射性同位素示踪剂，在岩体试样的一侧设有支架，支架上设有升降装置，升降装置上设有用于追踪放射性同位素释放的射线的探测器。本发明更贴近实际应用，所得出的一种基于同位素示踪技术的岩体渗流路径观测装置结构简单，操作方便，可以较准确地描述岩体中地下水的渗流路径。
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公开(公告)号：CN103678756A
公开(公告)日：2014-03-26
申请号：CN201310407385.9
申请日：2013-09-09
Applicant: 波音公司
Inventor： K·L·弗格森
IPC: G06F17/50
CPC classification number: G01N15/088 , G01N2001/2893 , G01N2015/0846
Abstract: 一种用于建立非破坏性检查（106）孔隙率标准的方法和装置。在一个说明性实施例中，为多个样本（112）中的每个样本使用不同技术，以形成多个样本（112），使得多个样本（112）中的每个样本具有与多个样本（112）中的其它样本不同的孔隙率。多个样本中的每个样本与选择的部件类型（104）具有相同的选择的特性组。使用从利用计算断层摄影系统（132）产生的每个样本的三维图像（136）中提取的体积数据（148），为每个样本识别孔隙率水平。基于为多个样本（112）中的每个样本识别的孔隙率水平，由多个样本（112）为选择的孔隙率水平组（156）建立标准组（102）。标准组（102）经配置从而用于执行选择的部件类型（104）的部件（108）的非破坏性检查（106）。
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公开(公告)号：CN103154711A
公开(公告)日：2013-06-12
申请号：CN201180045346.8
申请日：2011-09-26
Applicant: 陶氏环球技术有限责任公司
IPC: G01N21/956 , B01D46/24
CPC classification number: G01N21/53 , B01D46/42 , G01N21/954 , G01N21/95692 , G01N2015/0846 , G01N2015/086
Abstract: 一种用于分析基体或含有基体设备的孔径的系统，其中所述基体适于分离流体，具有至少两个表面，彼此隔绝的第一表面和第二表面，其中所述基体或含有该基体的设备具有用于流过该基体的流体的出口，所述系统包含：a)颗粒发生器(15)，其能够产生尺寸可控的颗粒；b)用于产生基体第一和第二表面之间的压力差的系统(18)；c)光源(24)，其与基体或含基体设备的出口分置，其适于照射从基体或者含基体设备的出口离开的颗粒；d)从颗粒发生器到基体的第一表面的封闭流路；e)基体或设备支架(11)，其适于将基体或设备保持在系统中的适当位置；以及f)一个或多个参考图像。还描述了利用该系统识别基体孔径的方法。
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公开(公告)号：CN101437597B
公开(公告)日：2012-05-23
申请号：CN200780015922.8
申请日：2007-03-23
Applicant: 康宁股份有限公司
Inventor： P·M·加佳诺 , B·R·拉加 , W·P·拉滋蒂维斯杰 , J·C·斯彼卡尔特 , D·J·沃斯
CPC classification number: G01N21/53 , B01D46/0086 , B01D46/2418 , B01D46/42 , B01D2273/26 , B01D2279/30 , F01N11/00 , G01N21/95692 , G01N2015/0846 , Y02T10/47
Abstract: 用于检测蜂房式主体(100)中的缺陷的装置和方法。在操作中，在蜂房式主体(100)的出口端面(104)处穿过蜂房壁和/或塞子中的缺陷(如果有任何的话)形成微粒，并且通过诸如筛子之类可渗透部件(28)，在那里对它们进行照射。把可渗透部件(28)设置在出口端(104)的附近，并且最好与出口端(104)接触。可渗透部件的使用提高了信噪比，以致能够更容易地检测缺陷。可渗透部件(28)最好包括防反射表面。
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