-
公开(公告)号：CN109564240A
公开(公告)日：2019-04-02
申请号：CN201780048266.5
申请日：2017-08-08
Applicant: 积水化学工业株式会社
Abstract: 本发明提供一种导通检测装置用部件和具备该导通检测装置用部件的导通检测装置，其中，不易发生导电部的裂缝和空隙，即使反复进行导通检测，导通性能也不易劣化，并且不易在与检测对象部件接触的部分留下接触痕迹。本发明的导通检测装置用部件，其具备：基体13、通孔11和导电部12，其中，多个通孔11配置于基体13，导电部12收纳于通孔11内。导电部12含有导电性粒子2。导电性粒子2包括基材粒子21以及配置于基材粒子21表面上的导电层22。导电层22在其外表面上具有多个突起23。
-
公开(公告)号：CN109061445A
公开(公告)日：2018-12-21
申请号：CN201811081858.X
申请日：2018-09-17
Applicant: 扬州晶新微电子有限公司
Inventor： 金文峰
CPC classification number: G01R31/28 , G06F11/2268 , G06F11/2273
Abstract: 本发明属于半导体芯片自动测试系统之测试、结果数据的自动保存技术领域，具体涉及一种数据自动保存的芯片测试电路、测试系统及测试方法。本专利的有益效果是：采用单片机ATmega32、光耦合器、电阻、发光二极管等少许元器件构成，以提取测试探针的信号灯逻辑信号，从光耦隔离后送入计算机，根据逻辑信号的时序，用C语言编写软件，当信号灯GREEN(绿)灯亮时，进行正常测试，当测试系统完成一片所有的管芯测试时，绿灯熄灭，RED(红)灯亮，电路装置发出中断信号，计算机自动保存整晶圆片管芯的测试数据。既消除了人工操作的失误几率，也大大提高了生产效率。
-
公开(公告)号：CN108731827A
公开(公告)日：2018-11-02
申请号：CN201710257415.0
申请日：2017-04-19
Applicant: 深圳市中兴微电子技术有限公司
Inventor： 李丛丛
IPC: G01K1/02
Abstract: 本发明公开了一种芯片表面温度测量系统及方法，所述系统包括：可编程逻辑阵列模块，用于通过动态模拟配置芯片工作状态，并用于接收测量获得的芯片表面温度数值；芯片插座模块，用于放置待测芯片，所述芯片插座模块与所述可编程逻辑阵列模块通过具有多种插口的连接模块连接；温度传感模块，用于测量各个工作状态下的待测芯片表面温度，并将测量获得的芯片表面温度数值发送给所述可编程逻辑阵列模块；供电模块，分别与所述可编程逻辑阵列模块以及芯片插座模块连接，为电路提供电源，所述供电模块支持脉冲宽度调制技术，用于在待测芯片表面温度高于预设值时，通过可编程逻辑阵列模块控制供电模块降低功耗来降低待测芯片温度。
-
公开(公告)号：CN106019127B
公开(公告)日：2018-08-17
申请号：CN201610644422.1
申请日：2016-08-08
Applicant: 意力(广州)电子科技有限公司
Inventor： 肖敏毅
IPC: G01R31/28
CPC classification number: G01R31/28
Abstract: 本发明涉及触摸屏技术领域，公开了一种基于磁性开关的半成品触摸屏测试机，包括内部设有断短路测试模块和电容测试模块的工作机箱、位于工作机箱上的测试板和测试平台以及磁性开关，磁性开关包括作为公共端的第一连接端、作为常开端的第二连接端和作为常闭端的第三连接端，其中第一连接端与测试板电性连接，第二连接端与断短路测试模块电性连接，第三连接端与电容测试模块电性连接，测试平台用于放置待测产品，测试平台与测试板对接设置，以使待测产品与测试板电性连接。该基于磁性开关的半成品触摸屏测试机采用磁性开关代替传统的探针作为连接器，能够减少测试机的维修频率、降低维修成本。
-
公开(公告)号：CN108318801A
公开(公告)日：2018-07-24
申请号：CN201810040265.2
申请日：2018-01-16
Applicant: 上海捷良电子科技有限公司
CPC classification number: G01R31/2818 , G01R1/04 , G01R1/0408 , G01R1/0425 , G01R31/28 , G01R31/2808
Abstract: 一种智能锁测试夹具，工作平台由顶盖和盒体组成，盒体为顶面开口的长方形盒体，盒体内设置有控制电路、6V蓄电池，顶盖的顶部从左向右依次设置有BP检测工位、SUB检测工位、MAIN检测工位、指纹检测工位、KB检测工位；所有工位的上压板、下压板分别与盒体内的控制电路及6V蓄电池连接，上压板、下压板之间设置有需要测试的电路板。本发明结构设计合理，使用一块6V蓄电池作为电源，对需要测试的电路板进行供电和检测，从而判断被测试电路板的功能是否正常；能快速的判定被测电路板功能及其他指标是否达到设计要求；能对需要测试的几块电路板同时进行测试，节省了测试时间，推广应用具有良好的经济和社会效益。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108140590A
公开(公告)日：2018-06-08
申请号：CN201680058149.2
申请日：2016-07-11
Applicant: 东京毅力科创株式会社
Inventor： 山田浩史
Abstract: 本发明提供一种能够适当地承接卡盘上端部件的晶片检查方法。在进行了晶片W的检查之后，当对准器(32)要承接卡盘上端部件(29)时，通过调整卡盘基座(49)的倾斜来调整卡盘上端部件(29)和卡盘基座(49)的距离，使得被保持的卡盘上端部件(29)和卡盘基座(49)的距离即各卡盘上端部件高度成为对各保持前卡盘上端部件高度一律加上0μm～200μm中的任意值而得到的高度。
-
公开(公告)号：CN108020769A
公开(公告)日：2018-05-11
申请号：CN201610976506.5
申请日：2016-10-28
Applicant: 深圳市中兴微电子技术有限公司
IPC: G01R31/28
CPC classification number: G01R31/28 , G01R31/2851
Abstract: 本发明实施例公开了一种集成电路测试的方法，包括：从集成电路M个待检测节点中选择N个节点；M和N均为大于0的整数；实时采集所选择的N个节点的数据，分析后得出集成电路的测试结果；或者，通过预设的检测方式检测每个选择的节点的数据，得到对应节点的检测结果，在任意一个节点的检测结果为异常时，控制采集对应节点的数据，分析异常节点的检测结果和数据，确定所述集成电路的故障状态。本发明实施例还公开了一种集成电路测试的装置。
-
公开(公告)号：CN107966647A
公开(公告)日：2018-04-27
申请号：CN201711195151.7
申请日：2017-11-24
Applicant: 国网山东省电力公司滨州市沾化区供电公司
Abstract: 本发明公开了一种电力检修报警装置，包括机体，所述机体的下端四角处均设有行走轮，所述机体的上侧设有监控台，所述监控台的表面设有显示屏，所述监控台的表面还设有若干指示灯模块和键控模块，所述监控台的表面还设有报警模块，所述机体的一侧设有若干L型的钩挂装置，所述机体的一侧还插若干设有连接线，每个所述连接线远离机体的一端分别设有采集装置和电路检测装置，所述采集装置的内部分别设有温度采集模块和湿度采集模块，所述电路采集装置的内部设有电路检测模块。本发明可以有效的采集和判断机房内是否出现异常，并且还可以提升工作人员对异常情况进行处理，避免了危及到维护人员的人身安全和设备的安全。
-
公开(公告)号：CN107870297A
公开(公告)日：2018-04-03
申请号：CN201711089008.X
申请日：2017-11-08
Applicant: 周晓东
Inventor： 周晓东
IPC: G01R31/28
CPC classification number: G01R31/28
Abstract: 本发明涉及LED生产设备，尤其是一种LED线路板检测装置。本发明中的一种LED线路板检测装置，包括工作台和压板，工作台上设有用于固定LED线路板的定位工装，定位工装中部设有LED线路板的定位凹槽，定位凹槽在LED线路板测试点对应设有测试探针，测试探针与恒流电路和控制器相连，压板可滑动的安装在工作台上，磁性元件与霍尔接近开关接触后恒流电路处于导通状态，磁性元件离开霍尔接近开关后恒流电路处于断开状态。自动控制恒流电路开关，结构简单，使用方便。
-
公开(公告)号：CN105807212B
公开(公告)日：2018-03-13
申请号：CN201610361795.8
申请日：2016-05-26
Applicant: 深圳市华星光电技术有限公司
Inventor： 黄笑宇
Abstract: 本发明公开一种电路板测试装置，用于对印刷电路板进行弯曲测试，包括：基架；承载平台，位于基架上表面，承载平台包括承载曲面，承载曲面的中部与上表面形成第一间距，承载曲面的两侧与上表面形成第二间距，第二间距大于第一间距；及间隔设置的多个支撑组件，每个支撑组件均包括支撑杆和驱动件，驱动件固定在基架上，支撑杆穿过承载曲面，支撑杆的一端用于连接印刷电路板，支撑杆的另一端连接驱动件，驱动件驱动支撑杆在垂直于上表面的方向上移动，以通过多个支撑杆产生不同的位移，使得印刷电路板与承载曲面贴合，以使印刷电路板弯曲变形。本发明所述电路板测试装置的测试效率高。本发明还公开一种电路板测试方法。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
248
records
(took 0.019 seconds)
