质谱测定法中的多离子注入

    公开(公告)号:CN103094052B

    公开(公告)日:2016-06-15

    申请号:CN201310011734.5

    申请日:2006-05-31

    IPC分类号: H01J49/42 H01J49/00

    摘要: 本发明涉及在质量分析的至少一个阶段中包括离子捕获的质谱测定法。尤其,虽然并非专有地,本发明涉及分析前体离子和碎片离子的串联质谱测定法。提供了一种质谱测定方法,该方法包括下列相继的步骤:在离子存储器中积累待分析的一种类型的离子的样品;在离子存储器中积累待分析的另一种类型的离子的样品;以及对经组合的离子样品进行质量分析;其中该方法包括基于各类型的离子的以前测量结果来积累一种类型的离子的样品和/或另一种类型的离子的样品以达到离子的目标数量。

    一种低压下产生分析用离子的方法和装置

    公开(公告)号:CN103295873B

    公开(公告)日:2016-11-02

    申请号:CN201210052257.2

    申请日:2012-03-01

    发明人: 张小强 孙文剑

    IPC分类号: H01J49/16

    摘要: 本发明涉及一种产生分析用离子的方法和装置,特别是在较低气压下通过多种方式产生离子并将该多种离子源复合使用的电离方法和装置。该方法和装置中将电喷雾离子源和其它解吸/电离装置(如激光解吸离子源)放置于同一真空腔体中,对该真空腔体内的样品分子分别独立作用或者共同作用,电离产生的离子通过离子聚焦装置被送入离子分析器以待分析。

    质量分析装置及质量分析方法

    公开(公告)号:CN103222031B

    公开(公告)日:2015-11-25

    申请号:CN201180054884.3

    申请日:2011-11-17

    摘要: 本发明提供一种质量分析装置及质量分析方法,该装置具备碰撞室(9),在线形多极电极(a、b)间叠加施加交流电压(RF3)与直流电压(DC31)来生成碎片离子,对按每一线形多极电极(a、b)分割的前级电极(7a、7b)与后级电极(8a、8b)间施加直流电压(DC32)使碎片离子加速;质量分析部(11),根据质荷比对碎片离子进行质量分离;控制部(14),按与碎片离子的质荷比无关地使碰撞室(9)内的碎片离子的速度相等的方式,基于由质量分析部(11)选择的碎片离子的质荷比决定直流电压(DC32)。由质量分析部(11)选择的质荷比越大,控制部(14)使第2直流电压(DC32)越大。由此即使为解决串扰而在分子离子的行进方向生成直流电场也能拓宽质量窗口。

    质量分析装置及质量分析方法

    公开(公告)号:CN103222031A

    公开(公告)日:2013-07-24

    申请号:CN201180054884.3

    申请日:2011-11-17

    摘要: 本发明提供一种质量分析装置及质量分析方法,该装置具备碰撞室(9),在线形多极电极(a、b)间叠加施加交流电压(RF3)与直流电压(DC31)来生成碎片离子,对按每一线形多极电极(a、b)分割的前级电极(7a、7b)与后级电极(8a、8b)间施加直流电压(DC32)使碎片离子加速;质量分析部(11),根据质荷比对碎片离子进行质量分离;控制部(14),按与碎片离子的质荷比无关地使碰撞室(9)内的碎片离子的速度相等的方式,基于由质量分析部(11)选择的碎片离子的质荷比决定直流电压(DC32)。由质量分析部(11)选择的质荷比越大,控制部(14)使第2直流电压(DC32)越大。由此即使为解决串扰而在分子离子的行进方向生成直流电场也能拓宽质量窗口。