公开(公告)号：CN117122283A

公开(公告)日：2023-11-28

申请号：CN202311065279.7

申请日：2023-08-23

申请人： 浙江大学嘉兴研究院 ,  浙江大学

发明人： 李鹏 ,  高磊 ,  姚霖

IPC分类号： A61B5/00 ,  G02B23/26 ,  G02B23/24 ,  G01B9/02091

摘要： 本发明公开了一种双透镜大焦深散光矫正OCT探头。透明套管伸入待测样品内部，扭力线圈和成像窗口均位于透明套管内，扭力线圈同轴连接在成像窗口的开口端，球透镜设置在成像窗口内部，光纤单元的后部设置在扭力线圈内，光纤单元的前部穿过扭力线圈后伸入到成像窗口中，且光纤单元和球透镜连接，光纤单元主要由无芯光纤、梯度折射率光纤、多模光纤和单模光纤从前到后依次熔接组成，无芯光纤的前端熔接有球透镜。本发明制作工艺简单，有利于探头的微型化，本发明基于双透镜结构，在相同成像距离的情况下可以提高探头的横向分辨率，便于调整探头的数值孔径，工作距离覆盖范围更广，通过设计柱面成像窗口，优化了导管的像散问题。

公开(公告)号：CN116858377A

公开(公告)日：2023-10-10

申请号：CN202310696735.1

申请日：2023-06-13

申请人： 大连理工大学

发明人： 张鹏飞 ,  董荣耀 ,  马艳红

IPC分类号： G01J3/28 ,  G01J3/45 ,  G01B9/02091 ,  G01B9/02055

摘要： 本发明涉及一种基于系统性能指标的光谱仪标定方法，具体是基于系统性能指标如轴向分辨率和灵敏度下降的光谱仪标定方法，通过对轴向分辨率和灵敏度下降结果的分析，确定光谱仪的标定参数。在标定过程中，通过不断改变光谱仪的标定参数，可以观察频域OCT(Spectral Domain Optical Coherence Tomography，SD‑OCT)系统的性能表现，并实时调整参数。通过评估不同标定参数设置下的频域OCT系统性能，可以实现系统性能的优化。这种基于轴向分辨率和灵敏度下降的光谱仪标定方法在频域OCT成像领域具有广阔的应用前景。

公开(公告)号：CN111163681B

公开(公告)日：2023-08-22

申请号：CN201880062994.6

申请日：2018-10-02

申请人： 爱尔康公司

发明人： M·阿尔-贾兹

IPC分类号： G01B9/02091 ,  G01B9/02015

摘要： 披露了用于测量眼睛的光学像差的技术。一种示例性方法包括将所述眼睛定位在光学相干断层成像(OCT)干涉仪设备的测量臂附近的测量位置，使得来自所述测量臂的源光进入到所述眼睛前段中；以及检测干涉图样，所述干涉图样是由从所述眼睛反射的光和从所述OCT干涉仪设备的参考臂反射的光的组合产生的。基于所述干涉图样来计算所述眼睛前段中的参考表面与所述眼睛中的测量表面之间的光学延迟，所述参考表面是角膜或晶状体的前表面，其中，所述计算包括基于所述检测到的干涉图样来测量所述参考表面与所述测量表面之间的光学相移。

公开(公告)号：CN111610150B

公开(公告)日：2023-05-05

申请号：CN202010366785.X

申请日：2020-04-30

申请人： 南京理工大学

发明人： 朱越 ,  高万荣

IPC分类号： G01N21/23 ,  G01B9/02091

摘要： 本发明公开了一种全场结构光相干编码断层成像装置及方法。装置包括结构化科勒照明系统、分光棱镜、第一显微物镜、第二显微物镜、参考镜、压电陶瓷、样品、三轴位移平台、成像透镜、面阵相机。方法为：所述结构光科勒照明系统发出的会聚光由分光棱镜分成完全相同的两束光，分别入射至一对完全相同的第一显微物镜、第二显微物镜的后焦面，在参考镜和样品表面形成视场和光强可调节的均匀结构照明；所述样品设置于三轴位移平台上，从样品返回的样品光与参考镜返回的参考光在分光棱镜处发生干涉，干涉光经过成像透镜聚焦到面阵相机上。本发明具有并行成像分辨率高、照明模式易编程、算法易移植、测量时间短、样品类别不受限等优点。

公开(公告)号：CN115420192A

公开(公告)日：2022-12-02

申请号：CN202211388096.4

申请日：2022-11-08

申请人： 深圳英美达医疗技术有限公司

发明人： 余华亮 ,  安世龙 ,  李学铭 ,  白晓淞

IPC分类号： G01B9/02091 ,  G01B9/02004 ,  G01B9/02055 ,  A61B5/00 ,  A61B3/10

摘要： 本发明公开了一种定量检测OCT系统灵敏度的测量装置及其测量方法,其中，包括：基座、导管固定轴、圆周旋转器件、距离调节器件、角度调节器件、固定座和调节杆件，导管固定轴上穿插有成像导管；所述成像导管的端部伸出至所述导管固定轴的前方，用于侧向射出光束；圆周旋转器、距离调节器件和角度调节器件协同调整固定座上设置的平面反射镜，测试过程可以克服成像导管的出射光随机性，使平面反射镜对准所述成像导管的出光光路，并且使平面反射镜转动至与所述成像导管的出光方向垂直的位置；调节杆件上设置衰减器，令衰减器移动至平面反射镜与所述成像导管之间，得到平面反射镜反射的镜面信号的最大信噪比，提高OCT系统灵敏度测量的准确度。

公开(公告)号：CN110603423B

公开(公告)日：2022-09-20

申请号：CN201880028164.1

申请日：2018-03-12

申请人： FOGALE 纳米技术公司

发明人： 阿兰·库特维尔 ,  克里斯蒂安·尼尔 ,  查兰库马尔·戈达瓦拉蒂

IPC分类号： G01B9/02 ,  G01B9/02055 ,  G01B9/02056 ,  G01B9/0209 ,  G01B9/02091 ,  G01B11/06 ,  A61B5/00 ,  A61B5/107 ,  G01N21/47

摘要： 本发明涉及一种用于确定关于物体(13)的界面的结构和/或位置的信息的低相干干涉仪设备或装置(100、200)，该设备或装置包括：多色光源(11)；用于产生测量光束和参考光束的光学系统；用于在测量光束和参考光束之间引入可变光学时延的延迟线(14)；用于将测量光束和参考光束组合并且产生表示所得干涉信号的光功率谱密度的光谱信号的光学检测器(15)；控制和处理模块(16)，所述控制和处理模块布置用于：对于多个光学时延采集多个光谱信号，对于每个光谱信号确定在所谓的光谱测量范围内的干涉光束之间的光学延迟信息，根据光学时延来分析在所述光学延迟中的演变，并且将根据不同光谱信号确定的一个或更多个光学延迟分配给一条或更多条所谓的界面曲线(521、522、523、524)，所述界面曲线对应于具有正的、负的、零或几乎为零的斜率的直线，所述界面曲线取决于所述光谱信号的采集的相应的光学时延，并由此推断关于物体(13)的界面的结构和/或位置的信息。

公开(公告)号：CN112513562B

公开(公告)日：2022-08-23

申请号：CN201980050647.6

申请日：2019-06-06

申请人： 普雷茨特两合公司

发明人： M·斯特雷贝尔

IPC分类号： G01B9/02091 ,  B23K26/03 ,  G01B11/02

摘要： 本发明涉及一种用于确定用于激光加工系统(100)的加工头(101)与工件之间(1)的距离的测量装置，加工头(101)设置用于借助激光束(10)加工工件(1)。测量设备包括一个光学相干断层仪(120)，光学相干断层仪设置用于测量加工头(101)和工件(1)之间的距离，其中，由测量光源在光学相干断层仪(120)中产生并从工件(1)反射的测量光(13)与具有两个或更多的参考级的参考臂(200，300)中反射的测量光干涉。两个或更多的参考级包括第一参考级(210)，第一参考级设置成，在第一参考级(210)中反射的测量经过第一光学路径长度，以及第二参考级(220)，第二参考级设置成，在第二参考级(220)中反射的测量光经过与第一光学路径长度不同的第二光学路径长度，其中，从工件(1)反射的测量光与第一参考级(210)的反射测量光以及与第二参考级(220)的反射测量光干涉。

公开(公告)号：CN113164038B

公开(公告)日：2024-09-17

申请号：CN201980079275.X

申请日：2019-11-22

申请人： 徕卡显微系统股份有限公司

发明人： 罗伯特·H·哈特 ,  彼得·斯特罗贝尔

IPC分类号： A61B3/10 ,  G01B9/02 ,  G01B9/02091 ,  G01J3/02 ,  G01J3/18 ,  G01J3/28 ,  G01J3/45 ,  A61B5/00

摘要： 提供一种光谱仪系统，该光谱仪系统包括探测器阵列(320)；耦合到探测器阵列的成像透镜组件(327)，该成像透镜组件包括正光功率的第一元件(336)，接着是负光功率的第二元件(333)以及被分成两个相对的相同单体的正光功率元件(325)；耦合到成像透镜组件的色散元件(345)；以及耦合到色散元件的定焦准直器(353)组件。

公开(公告)号：CN118482634A

公开(公告)日：2024-08-13

申请号：CN202310103416.5

申请日：2023-02-10

申请人： 上海超光微医疗科技有限公司

发明人： 陈红芩 ,  符钰棋 ,  崔小飞 ,  穆罕默德·纳西尔·古尔扎里 ,  陈士行 ,  陈默扬 ,  王鹏

IPC分类号： G01B9/02091 ,  G01B9/02055

摘要： 本发明公开了一种多普勒光学相干层析成像方法及成像装置，成像方法包括：对待测样品进行扫描，得到包含样品信息的干涉谱信号；对干涉谱信号进行第一信号处理，得到表征样品深度层析信息的复数信号；提取复数信号的相位成分，按照相邻采集时间间隔的相位信息逐一进行差分处理，得到随时间变化且包含待测样品的多普勒相位差分部分；将多普勒相位差分部分和振幅部分重构为重建复层析信号；对重建复层析信号进行第二信号处理，得到重建复频谱函数；对重建复频谱函数进行第三信号处理，得到全深度层析图像和多普勒图像。本发明可以得到更加准确的速度灵敏度、更宽的速度探测范围和更高的信噪比，对多普勒OCT技术在临床的进一步应用具有重要意义。

公开(公告)号：CN117881940A

公开(公告)日：2024-04-12

申请号：CN202280036390.0

申请日：2022-04-29

申请人： 海德堡工程有限责任公司

发明人： 安德里亚斯·弗里茨 ,  丽莎·库茨纳 ,  迈克尔·施滕德尔

IPC分类号： G01B9/02056 ,  G01B9/02091

摘要： 本发明涉及一种用于执行光学相干断层扫描的干涉仪，该干涉仪至少具有布置或可布置成空间上彼此分开的第一部件(13)和第二部件(14)，这两个部件(13、14)通过至少一根导光光纤(8)彼此光学上连接，鉴于发明目的，该干涉仪具有通过至少一根光纤光学上连接又可彼此相对移动的部件，这些部件及其光纤对运动和温度变化引起的偏振变化敏感度最低，其特征在于，导光光纤(8)设计为偏振光纤，其优选传播具有设定的第一偏振态或偏振模的第一光波而阻碍传播与第一光波相比具有不同偏振态或偏振模的第二光波。