一种基于晶界完整度的耐热钢焊接接头组织损伤评估方法

    公开(公告)号:CN118961784A

    公开(公告)日:2024-11-15

    申请号:CN202411096587.0

    申请日:2024-08-12

    IPC分类号: G01N23/2251 G01N23/2202

    摘要: 一种基于晶界完整度的耐热钢焊接接头组织损伤评估方法,首先,制备耐热钢焊接接头细晶热影响区标准金相样,接着,扫描电镜拍摄M张,测量每张图像中所有晶界长度总和Li,和所有晶界上析出相周长pi‑1,…,pi‑m,若晶界上有空洞,测量所有晶界上所有空洞的周长hi‑1,…,hi‑n;各图像中组织损伤参数Si=[f1(pi‑1+…+pi‑m)+f2(hi‑1+…+hi‑n)]/Li,f1为析出相类损伤调和因子,f2为空洞类损伤调和因子;依据M张图像计算平均组织损伤参数S服役时长=(S1+…+SM)/M;原始态耐热钢焊接接头做高温大应力蠕变试验,计算不同断裂时长下平均组织损伤参数STD,得出组织损伤参数阈值Sth,比较S服役时长与Sth进行安全预警。

    夹杂物析出物精细化检测用金相试样及其制备方法、多指标表征方法

    公开(公告)号:CN118937377A

    公开(公告)日:2024-11-12

    申请号:CN202411078729.0

    申请日:2024-08-07

    摘要: 本发明提供一种夹杂物析出物精细化检测用金相试样的制备方法,包括以下步骤:以材料的物理性能为基础,构建不同物理性能下的司特尔金相制样图;将司特尔金相制样图划分成多个磨抛区域,构建与各个磨抛区域一一对应的磨抛方法;选定高品质钢试样,确定高品质钢试样进行磨抛加工的磨抛工序;将高品质钢试样切割成一定尺寸的试块;将试块装夹在磨抛机上,根据设置好的磨抛工序对试块进行磨抛加工;对磨抛加工后的试块进行抛光,超声清洗,清理磨抛试块表面多余的抛光剂和污渍,风干后,获得试样。本发明的有益效果是:构建对2μm以下的夹杂物或析出物检测进行精细化制样方法及表征方法,弥补了现有2μm以下的夹杂物或析出物检测制样的空白。

    一种检测铝合金熔体精炼夹杂物的方法

    公开(公告)号:CN118883604A

    公开(公告)日:2024-11-01

    申请号:CN202410962863.0

    申请日:2024-07-18

    摘要: 本文提出了一种检测铝合金熔体精炼夹杂物的方法,包括以下步骤:S1、按照标准尺寸样式获取待检测的铝合金样品;S2、设置阶梯式抛光工艺,对待检测的铝合金样品的表面进行抛光,其中阶梯式抛光工艺为机械法抛光处理;S3、对铝合金样品进行精细抛光;S4、精细抛光完成后,将铝合金样品浸泡在碱性处理溶液中,控制温度后进行深度浸泡,完成后放置于酸性处理溶液中浸泡;S5、完成两次浸泡后的铝合金样品,用酒精冲洗干净;S6、进行第一次电子显微镜成像,观测铝合金样品表面的夹杂物形态,并进行记录。精确的杂质分析对改进合金性能有着重要作用,此方法能够迅速反映合金样品的质量,从而加速材料的研发进程。

    一种膜电极中催化层一致性的检测方法及其应用

    公开(公告)号:CN118883602A

    公开(公告)日:2024-11-01

    申请号:CN202411062074.8

    申请日:2024-08-05

    IPC分类号: G01N23/223 G01N23/2202

    摘要: 本发明提供一种膜电极中催化层一致性的检测方法及其应用。所述检测方法包括以下步骤:(1)将催化剂、离聚物和溶剂混合,得到催化层浆料,然后将所述催化层浆料涂覆在载体上,干燥后形成催化层;(2)对所述催化层的不同位置中的Pt含量和S含量进行检测,得到不同位置下的Pt含量、S含量以及α,所述α为S含量和Pt含量的比值;(3)计算不同位置下所述Pt含量的相对偏差δpt、所述S含量的相对偏差δs以及所述α的相对偏差δα,用于表征膜电极中催化层的一致性。本发明提供的检测方法可以准确无误地表征得到膜电极中催化层的一致性。

    一种评定绕组绝缘振动防护效果的方法与装置

    公开(公告)号:CN118837397A

    公开(公告)日:2024-10-25

    申请号:CN202410925355.5

    申请日:2024-07-11

    摘要: 本发明公开了一种评定绕组绝缘振动防护效果的方法与装置,包括以下步骤:根据绕组的实际大小和节距来对绕组进行定位并夹紧;将径向激振器和轴向激振器调节至合适位置;调节径向激振器和轴向激振器的激振频率、激振幅值和激振时间进行振动模拟;更换不同绝缘耐磨工艺的绕组,重复上述过程;在激振后的绕组上提取绝缘样品;将绝缘样品置于扫描电子显微镜下进行观测;对比各绝缘样品的裂纹扩展情况,评估最佳的绕组绝缘耐磨工艺。本发明能够准确评定绕组绝缘的振动防护效果,提供快速、经济且可靠的解决方案,以确保电力设备的安全可靠运行,并为电力设备的维护和优化提供科学依据和技术支持,降低维护成本,延长设备使用寿命。

    荧光X射线分析装置
    10.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118777351A

    公开(公告)日:2024-10-15

    申请号:CN202410398082.3

    申请日:2024-04-03

    发明人: 森久祐司

    IPC分类号: G01N23/223 G01N23/2202

    摘要: 本发明提供一种荧光X射线分析装置。荧光X射线分析装置具备试样台、第一壳体、X射线管、检测器以及真空调整机构。试样台用于配置试样。第一壳体设置于试样台的用于配置试样的一侧的第一面,与试样台一起形成试样室。检测器检测通过将从X射线管射出的初级X射线照射到试样室内的试样而从试样射出的荧光X射线。真空调整机构用于设定试样室的真空度。真空调整机构被设定为:使在试样为液体的情况下的试样的分析中的试样室的真空度成为相比于试样为固体的情况而言低的真空度。