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公开(公告)号:CN116486841A
公开(公告)日:2023-07-25
申请号:CN202310485201.4
申请日:2023-04-28
申请人: 清华大学
IPC分类号: G11B7/0065 , G11B7/1353 , G11B7/1376 , G11B7/0033 , G06N3/0464 , G06N3/045 , G06N3/08
摘要: 本公开涉及一种全息数据存储系统,包括:照明子系统,用于确定具有预设偏振态的准直平面波;物光臂,用于根据纯相位型全息图,对准直平面波进行调制,得到物光波,并控制物光波入射至全息聚合物,其中,纯相位型全息图通过对待存储的复振幅信息进行编码得到;参考光臂,用于根据准直平面波,确定参考光波,并控制参考光波入射至全息聚合物;全息聚合物,用于记录参考光波与物光波干涉产生的干涉条纹,以对复振幅信息进行存储;以及基于深度学习网络的读取子系统。通过本公开实施例,无需构建复杂的复振幅编码光路,即可实现对复振幅信息的存储,从而实现高速、大容量、高密度的光学存储;并结合深度学习网络,对复振幅信息进行快速解码及读取。
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公开(公告)号:CN113223564B
公开(公告)日:2022-10-18
申请号:CN202110318315.0
申请日:2021-03-25
申请人: 苏州盤谷信息光学有限公司
IPC分类号: G11B33/14 , G11B7/1353 , G11B7/1372 , G11B7/24044
摘要: 本发明属于全息光存储技术领域,公开全息存储用温度补偿方法及温度补偿装置,所述温度补偿方法包括步骤:全息存储媒体的材料因温度变化发生形变后,对激光波长进行调整,使得所述激光波长由λ调整为λ1;对入射光方向进行调整,使得入射光的入射角由θB调整为θB1;使得λ1与θB1重新满足全息存储媒体在材料皱缩状态下的布拉格条件,实现补偿因温度变化导致全息存储媒体的材料变形引起的布拉格失配;可有效保证信息再现不受环境温度影响,大大提高全息存储方式的实用性。
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公开(公告)号:CN114974319A
公开(公告)日:2022-08-30
申请号:CN202110220717.7
申请日:2021-02-26
申请人: 广东紫晶信息存储技术股份有限公司
IPC分类号: G11B7/0065 , G11B7/08 , G11B7/1353
摘要: 本发明提供全息记录和再现方法以及装置,包括:在存储介质的第一方向上的若干个不同位置分别记录相同的全息图,并用一束参考光在所述若干个位置分别再现相同的全息图,对分别再现的若干个相同的全息图进行叠加。本发明提供的全息记录和再现方法通过将若干个相同的全息图进行微小位移后记录下来,再现若干个相同的全息图后并将其进行叠加,由于若干个相同的全息图在进行微小位移后产生的散斑噪声会完全不同,因此可以通过叠加若干个再现的相同的全息图(即相加若干个再现的全息图并求平均)以有效减少散斑噪声对该同一全息图的影响,可以使最后再现并叠加后的数据页的比特误码率降低约两个数量级,在全息图的信息读取上正确率大大提高。
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公开(公告)号:CN111816221B
公开(公告)日:2021-06-04
申请号:CN202010678045.X
申请日:2020-07-15
申请人: 谭小地
发明人: 谭小地
IPC分类号: G11B7/0065 , G11B7/007 , G11B7/08 , G11B7/1353 , G11B7/1372 , G11B7/24044
摘要: 本发明属于信息数据存储技术领域,公开了覆盖平移复用式全息数据存储方法和存储装置,所述存储方法包括将信息光和参考光进行会聚,形成会聚的光束;通过会聚光束的会聚点在记录载体上进行全息数据记录;当会聚光束在记录载体上记录完成一个全息数据图后,将会聚光束在记录载体上的所述会聚点的位置进行平移,平移的偏移量小于所述全息数据图的尺寸,然后再进行下一个所述全息数据图的记录;其通过会聚光束在记录载体上记录完成一个全息数据图后,将会聚光束在记录载体上的所述会聚点的位置进行平移,平移的偏移量小于所述全息数据图的尺寸,进行覆盖式的平移以实现记录载体的多重复用,实现大幅度提高数据存储密度的效果。
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公开(公告)号:CN111243629A
公开(公告)日:2020-06-05
申请号:CN202010070683.3
申请日:2020-01-21
申请人: 广东紫晶信息存储技术股份有限公司
IPC分类号: G11B7/0065 , G11B7/1353 , G11B7/1362
摘要: 本发明公开了一种反射式的全息存储方法及装置,在全息存储介质的背面渡有反射层,利用反射层形成新的参考光,从而获得全息图的相位共轭再现光。本专利可以将记录装置和读取装置设在介质同侧,使得系统更加紧凑,降低了设计难度并增加了系统稳定性,并可以通过使再现光与共轭再现光相干叠加来提升信号强度,从而增加信噪比。
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公开(公告)号:CN104851434B
公开(公告)日:2017-09-22
申请号:CN201510253752.3
申请日:2015-05-19
申请人: 青岛泰谷光电工程技术有限公司
IPC分类号: G11B7/0065 , G11B7/1353 , G11B7/26
摘要: 本发明涉及一种全像光发射模块,包含光源模块与光形控制模块。光源模块用以提供讯号光与参考光,其中讯号光与参考光之偏振态互相正交。光形控制模块用以接收来自光源模块的讯号光与参考光。讯号光与参考光经由光形控制模块调制后射出,其中自光形控制模块射出的参考光被讯号光包围并位于讯号光中间,且讯号光与参考光部分重叠。
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公开(公告)号:CN103946921B
公开(公告)日:2016-09-28
申请号:CN201280056054.9
申请日:2012-10-24
申请人: 三菱电机株式会社
IPC分类号: G11B7/133 , G11B7/1353
CPC分类号: G11B7/1353 , G11B7/0903 , G11B7/094 , G11B7/133 , G11B2007/0013
摘要: 光学头装置具有使来自光盘(OD)的返回光束透射衍射而射出透射衍射光束的衍射光学元件(21)、和光检测器(22)。衍射光学元件(21)包含具有0次衍射作用和±1次衍射作用的主衍射区域(210)、和具有0次衍射作用和±1次衍射作用的副衍射区域(211A、211B)。光检测器(22)包含接收透射衍射光束的0次光成分的主受光部(23)、和接收透射衍射光束的+1次光成分和-1次光成分中的一方的第1副受光部(24)。第1副受光部(24)具有在规定方向上排列的多个受光面。
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公开(公告)号:CN103443857B
公开(公告)日:2016-07-06
申请号:CN201280008900.X
申请日:2012-02-10
申请人: 柯尼卡美能达株式会社
IPC分类号: G11B7/1374 , G11B7/1353 , G02B19/00
CPC分类号: G11B7/1374 , G02B19/0076 , G11B7/1353
摘要: 本发明提供一种即使为高NA物镜,也能够良好地测定安装在光拾取装置时的倾斜度且能够高精度地装配光拾取装置的高NA物镜及具备该高NA物镜的光拾取装置。该物镜具有:形成于光源侧的第一光学面、以面向第一光学面且曲率半径大于第一光学面的方式形成的第二光学面、从光轴方向观察位于第二光学面外侧且与光轴大致垂直的平面即端面,像侧数值孔径(NA)为0.7以上、0.9以下,作为从光轴方向观察通过光轴及端面的直线,将端面范围内的直线的距离设为A(mm),从光轴至端面最外周部的直线的距离设为B(mm)时,满足以下式(1)即0.12
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公开(公告)号:CN103514908B
公开(公告)日:2016-04-27
申请号:CN201310157886.6
申请日:2013-05-02
申请人: 日立民用电子株式会社
发明人: 中村悠介
IPC分类号: G11B7/1353
CPC分类号: G11B7/0065 , G11B7/00772 , G11B7/128 , G11B7/1369 , G11B7/13925
摘要: 为了获得能够提高再现质量的再现光与振荡光的波前偏差检测方法和补偿方法,本发明提供一种使用光对光记录介质进行信息的记录和再现的光信息记录再现装置,其特征为包括:振荡光生成部,其生成与来自上述光记录介质的再现光叠加而发生干涉的振荡光;振荡光调制部,其在上述振荡光与上述再现光之间附加规定的相位差;光检测部,其检测上述振荡光与上述再现光叠加而生成的干涉光;波前偏差检测部,其从上述光检测部的输出检测上述振荡光与上述再现光的波前偏差量;和补偿量计算部,其根据上述波前偏差量计算波前补偿量,根据上述波前补偿量控制由上述振荡光调制部附加的相位差。
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公开(公告)号:CN103456327B
公开(公告)日:2016-04-20
申请号:CN201310211725.0
申请日:2013-05-31
申请人: 日立视听媒体股份有限公司
发明人: 山崎和良
IPC分类号: G11B7/1353 , G11B7/1376
CPC分类号: G11B7/0065 , G11B7/00772 , G11B7/083 , G11B7/08564 , G11B7/131
摘要: 本发明提供全息图用光拾取装置、光信息记录再现装置和光信息记录再现方法,在双光束角度复用方式中可实现高速再现、并且能够检测出用以获得最佳再现信号的角度误差信号。光拾取装置(100)包括:改变参考光入射到光信息记录介质(200)的角度的电流计镜(38),检测在对记录介质(200)照射参考光时来自再现对象区域的衍射光作为再现信号的摄像元件(41),和检测在对记录介质(200)照射参考光时从多个已记录区域产生的衍射光的光检测器(50)。光检测器(50)中配置有多个受光部,根据从各受光部获得的多个信号的差分信号,生成表示参考光入射角度的偏差的角度误差信号,控制电流计镜(38)的角度。
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