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    Verfahren und Vorrichtung zur Erkennung von Fehlern in transparentem Material
    92.
    发明公开
    Verfahren und Vorrichtung zur Erkennung von Fehlern in transparentem Material 有权

    公开(公告)号：EP1477793A3

    公开(公告)日：2004-11-24

    申请号：EP04003014.0

    申请日：2004-02-11

    申请人： SCHOTT AG ,  Lasor AG

    发明人： Gerstner, Klaus, Dr. ,  Ottermann, Clemens, Dr. ,  Zimmermann, Thomas ,  Droste, Josef

    IPC分类号： G01N21/89 ,  G01B11/30

    CPC分类号： G01N21/896 ,  G01N2021/1772 ,  G01N2021/8845 ,  G01N2021/8962

    摘要： Die Erfindung betriff ein Verfahren zur Erkennung von Fehlern in transparentem Material, bei dem mit einer ersten Strahlungsquelle ein definiertes Teilvolumen des Materials bestrahlt wird, und bei dem mit einer zweiten Strahlungsquelle derart Licht in das Material eingekoppelt wird, dass der Lichtweg im besagten Teilvolumen ausschließlich im Inneren des Materials verläuft und bei dem ein Fehler im Teilvolumen dadurch erkannt wird, dass a) sowohl vom Fehler gestreutes Licht, oder b) die vom Fehler hervorgerufene Absorption im Hellfeld, und/oder c) die vom Fehler hervorgerufene Ablenkung des Lichts der ersten Strahlungsquelle detektiert wird. Weiterhin betrifft die Erfindung eine Vorrichtung zur Erkennung von Fehlern in transparentem Material, mit einer ersten Strahlungsquelle zur Beleuchtung eines definierten Teilvolumens des transparenten Materials, mit einem Detektor zur Erfassung des vom besagten Teilvolumens herrührenden Lichts, und mit einer zweiten Strahlungsquelle, die derart zum Material angeordnet ist, dass im besagten Teilvolumen der zugehörige Lichtweg ausschließlich im Inneren des Materials verläuft.

    摘要翻译： 检测透明材料中的故障包括用第一辐射源照射确定的透明材料的部分体积，将第二辐射源的光耦合到透明材料中，以及从部分体积的故障和/或光的偏转中检测散射光和明场的吸收 的第一辐射源通过部分体积的故障来检测部分体积中的故障的存在。 检测透明材料中的缺陷包括用第一辐射源照射确定的部分体积的透明材料; 将第二辐射源的光耦合到透明材料中，使得部分体积中的光的光路仅在透明材料的内部扩展; 并且通过部分体积的故障在部分体积中检测来自故障的散射光和亮场吸收，和/或第一辐射源的光的偏转，以检测透明材料的部分体积中的故障的存在。 还包括用于执行上述方法的装置的独立权利要求，该装置包括用于照射透明材料（3）的确定部分体积（2）的第一辐射源，用于来自部分体积的光的检测器（4） 以及相对于透明材料布置的第二辐射源（5），使得相关联的光路仅在透明材料的内部扩展。

    METHOD AND APPARATUS FOR NON DESTRUCTIVE TESTING
    94.
    发明公开
    METHOD AND APPARATUS FOR NON DESTRUCTIVE TESTING 有权
    方法和设备进行破坏性试验

    公开(公告)号：EP1167964A1

    公开(公告)日：2002-01-02

    申请号：EP99912069.4

    申请日：1999-03-31

    申请人： Hitachi, Ltd.

    发明人： ASANO, Toshio, Hitachi, Ltd. ,  SAKAI, Kaoru, Hitachi, Ltd. ,  TAGUCHI, Tetsuo, Hitachi, Ltd. ,  TANAKA, Isao, Hitachi, Ltd.

    IPC分类号： G01N27/84 ,  G01N21/91

    CPC分类号： G01N21/91 ,  G01N21/8806 ,  G01N27/84 ,  G01N2021/8845 ,  G01N2021/8918

    摘要： By using an image signal acquired by picking up a sample to be inspected by a color video camera, penetrant inspection and magnetic-particle inspection which are non-destructive inspections are carried out so that deficiency candidates including a pseudo deficiency are automatically detected and are displayed on a screen. A real deficiency can be detected from the deficiency candidates displayed on. the screen. As image data is stored in memory means, information of a deficiency can be repeatedly reproduced on the screen. In the penetrant inspection, the chromaticity at each position on an image is acquired, a deficiency candidate is extracted based on the chrominance, and the deficiency is distinguished from a pseudo deficiency based on the differential value of the chrominance. A polarization filter is used to eliminate regular reflection originated from illumination in the penetrant inspection, and an ultraviolet-rays cutting filter is attached to the camera to prevent noise in the magnetic-particle inspection. Equipped with both a white illuminating lamp and an ultraviolet illuminating lamp, both inspections can be carried out with a single probe.

    Method of reading optical image of inspected surface and image reading system employable therein
    96.
    发明公开
    Method of reading optical image of inspected surface and image reading system employable therein 失效
    一种用于读取被检查表面的光学图像，并且可用于图像读取装置的方法。

    公开(公告)号：EP0459489A2

    公开(公告)日：1991-12-04

    申请号：EP91108874.8

    申请日：1991-05-29

    申请人： Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd.

    发明人： Uemura, Haruo, c/o Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd ,  Hoki, Tetsuo, c/o Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd

    IPC分类号： G01N21/88 ,  G01R31/308

    CPC分类号： G01N21/956 ,  G01N2021/8845 ,  G01N2021/95638 ,  G01N2021/95653 ,  G01R31/309

    摘要： A set of red light sources (111-113) are provided above a printed board (20). One (111) of the light sources is located in the angular aperture of an imaging lens system (140). The red light is applied to the printed board and reflected on a wiring pattern (22) provided thereon. Another light source (120) is provided under the printed board, and emits infrared light to the back surface of the printed board. The infrared light passes through a through hole (25) formed in the printed board and then enters the imaging lens system together with the red light reflected. Compound light consisting of the red light and the infrared light passes through the imaging lens system and is then split into red light and infrared light at a cold mirror (150). The respective lights are detected by image sensors (161, 162), to thereby obtain respective images of the wiring pattern and the through hole.

    摘要翻译： 印刷电路板（20）的上方设置了一组红色光源（111-113）。 的光源中的一个（111）位于成像透镜系统（140）的孔径角。 的红色光被施加到印刷电路板和反射（22）上设置在其上的布线图案。 另一光源（120）的印刷电路板的下方，并发射红外光到印刷电路板的背面。 的红外光穿过所述印刷电路板形成的通孔（25），然后一起进入成像透镜系统与红光反射。 化合物的光由...组成的红光和红外光穿过成像透镜系统，然后分裂成红光和红外光在冷镜（150）。 的respectivement光由图像传感器（161，162）检测到的，从而得到布线图案和通孔的respectivement图像。

    Method for inspection of printed circuit board assembly by arithmetic comparison of several pictures in different colours
    97.
    发明公开
    Method for inspection of printed circuit board assembly by arithmetic comparison of several pictures in different colours 失效
    一种用于印刷电路板的方法通过在不同颜色的多个图像的数学比较的装置的检查方法。

    公开(公告)号：EP0231941A2

    公开(公告)日：1987-08-12

    申请号：EP87101522.8

    申请日：1987-02-05

    申请人： OMRON TATEISI ELECTRONICS CO.

    发明人： Kobayashi, Shigeki Omron Tateisi Electronics Co. ,  Tateisi, Yoshio Omron Tateisi Electronics Co. ,  Yagawa, Toshio Omron Tateisi Electronics Co. ,  Utsunomiya, Shunji Omron Tateisi Electronics Co. ,  Takahara, Hideaki Omron Tateisi Electronics Co.

    IPC分类号： G06F7/02 ,  G01N21/88 ,  G01N21/91 ,  G01N21/84 ,  G01R31/28

    CPC分类号： G01N21/956 ,  G01N2021/8845 ,  G01N2021/8887 ,  G01N2021/95615 ,  G01N2021/95638 ,  G01N2201/102 ,  G01R31/2806 ,  G01R31/309

    摘要： An apparatus for automatic inspection of printed circuit board assemblies inspects for the correct presence, positioning, and orientation of component parts mounted on a base printed circuit board. In this method for inspection of printed circuit board assemblies, an arithmetic comparison operation is conducted on several color pictures of different colors taken of the base printed circuit board mounted with the component parts; and a distinction is made between parts of the base printed circuit board not occupied by the component parts, and the component parts. Optionally, one of the base printed circuit board and the component parts is tinted in a color of a category selected from the group consisting of the green category, the red category, and the yellow category. The arithmetic comparison operation may be division, or may be subtraction. The base printed circuit board may be coated with a preflux mixed with a fluorescent agent, which may be green; or may be coated with a bonding agent mixed with a fluorescent agent, which again may be green. Illumination may be provided by a light source whose wave length varies from visible blue to ultraviolet. The color pictures may be taken by a color TV camera.

    摘要翻译： 用于印刷电路板组件的自动检查的装置检查为正确的存在，定位，并安装在底座的印刷电路板的部件的方位。 在该方法中为印刷电路板组件的检查，在比较算术手术中进行上所采取的基印刷电路板的不同颜色的几个彩图安装有零部件; 和区分不是由组成部件所占据的基印刷电路板的部分，和组成部件之间进行比较。 任选地，该基体的印刷电路板和所述部件中的一个在选自绿色类，红色类，和黄色类中选择的类别的颜色着色。 算术比较手术可能是部门，也可以是减法。 基底印刷电路板可以涂覆有与荧光剂混合预焊剂，其可以是绿色; 或者可以涂覆有粘接剂与荧光剂，其也可以是绿色的混合。 照明可以通过一个光源，光源的波长从可见光蓝光到紫外光而异来提供。 颜色的图片可以通过一台彩色电视摄像机拍摄下来。