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    Integrierter Schaltungsmodul für ein elektronisches Gerät mit einer Steckeinrichtung
    81.
    发明公开
    Integrierter Schaltungsmodul für ein elektronisches Gerät mit einer Steckeinrichtung 失效
    Integrierter Schaltungsmodulfürein elektronischesGerätmit einer Steckeinrichtung。

    公开(公告)号：EP0072492A2

    公开(公告)日：1983-02-23

    申请号：EP82107037.2

    申请日：1982-08-04

    申请人： Hewlett-Packard Company

    发明人： Wright, Allen Joel

    IPC分类号： H01L23/56 ,  H01L23/32 ,  H01L23/48

    CPC分类号： H01L23/4985 ,  H01L23/32 ,  H01L23/60 ,  H01L2924/0002 ,  H01L2924/00

    摘要： Ein integrieter Schaltungsmodul enthält einen integrierten Schaltkreis, der innerhalb eines Behältnisses mit einem flexiblen Flachbandkabel bzw. einer flexiblen Schaltungsplatine verbunden ist. Durch Federkraft werden die Leiterbahnen der flexiblen Schaltungsplatine gegen eine leitfähige Fläche in dem Behältnis gedrückt, so daß die leiterbahnen kurzgeschlossen werden und das Potential aller Kontaktleitungen des integrierten Schaltkreises gleichmäßig bei einer elektrostatischen Entladung angehoben wird. Durch eine Öffnung in dem Behältnis kann eine Steckeinrichtung eingesetzt werden, um die Kurzschlußverbindung aufzutrennen und den integrierten Schaltkreis mit dem elektronischen Gerät zu verbinden. Der Schutz wird automatisch wiederhergestellt, wenn die Steckeinrichtung herausgezogen wird.

    摘要翻译： 集成电路模块包含集成开关电路，其连接到壳体内的柔性带状电缆或柔性电路板。 弹簧力将柔性电路板的导体轨道压靠在壳体中的导电表面上，使得导体轨迹短路，并且在静电放电的情况下集成电路的所有接触引线的电位均匀地升高 。 插入式设备通过壳体中的开口插入以断开短路连接并将集成电路连接到电子设备。 如果插拔设备被拉出，保护将自动恢复。

    Elektroneneinfangdetektor
    82.
    发明公开
    Elektroneneinfangdetektor 失效
    电子捕获。

    公开(公告)号：EP0015495A1

    公开(公告)日：1980-09-17

    申请号：EP80100970.5

    申请日：1980-02-27

    申请人： Hewlett-Packard Company

    发明人： Sullivan, James J. ,  Kruger, William P. ,  McManigill, Douglas ,  Neukermans, Armand P.

    IPC分类号： G01N27/62 ,  G01N31/08

    CPC分类号： G01N27/626 ,  G01N30/70

    摘要： Ein Elektroneneinfangdetektor mit einer thermion' sehen Quelle, beispielsweise einem Heizfaden (12) gibt Elektronen für die Reaktion in einer Quellenkammer (6) ab. Diese enthält eine Öffnung zu einer Detektionskammer (8) mit einem Kollektor (22). In die Quellenkammer wird Schutzgas und in die Detektionskammer wird Probengas eingeführt, und in der Detektionskammer ist eine Entlüftungsöffnung vorgesehen.

    摘要翻译： 与热离子源的电子捕获检测器，例如一个灯丝（12），用于从源室中的反应的电子（6）。 这包括一个开口，以检测腔室（8），具有集电极（22）。 在源室是惰性气体，并在检测室样品气体被引入并且在检测室中的Entlüftungsoffnung设置。

    Method for manufacturing a measuring probe
    85.
    发明公开
    Method for manufacturing a measuring probe 失效
    Herstellungsverfahren einer Messonde。

    公开(公告)号：EP0279004A1

    公开(公告)日：1988-08-24

    申请号：EP87102263.8

    申请日：1987-02-17

    申请人： Hewlett-Packard GmbH

    发明人： Günther, Martin ,  Rupp, Lothar

    IPC分类号： A61B5/00 ,  G01N21/64 ,  G01N21/85 ,  G01N21/77

    CPC分类号： G01N21/7703 ,  A61B5/14539 ,  A61B5/1459

    摘要： Probes, preferably optical probes for the invasive measurement of blood parameters consist of a plurality of sensors (or at least one sensor and a stabilizing core, or at least one single sensor) (11,17), each of these sensors (11,17) having a diffusion zone with a selective membrane (15) and all together surrounded by a stabilizing sheath (18); this sheath (18) is to be fastened on the sensor(s) (11,17) by a glue (22). A method is described for manufacturing such probes. This method includes the steps of covering the selective membrane (15) by a hardenable and soluble cover material (21), in particular a silicate, then fastening said sheath (18) on the sensors (11,17) by glue (22) - which cannot reach the selective membranes (15) as they are just covered by the cover material (21) - and then dissolving said cover material (21). This method guarantees that the selective membranes (15) are free of glue (22) after the manufacturing process.

    摘要翻译： 探针，优选用于侵入性测量血液参数的光学探针包括多个传感器（或至少一个传感器和稳定核心，或至少一个单个传感器）（11,17），这些传感器中的每一个（11,17 ）具有带有选择性膜（15）的扩散区并且一起被稳定护套（18）包围; 该护套（18）通过胶水（22）固定在传感器（11,17）上。 描述了制造这种探针的方法。 该方法包括以下步骤：通过可硬化和可溶的覆盖材料（21），特别是硅酸盐覆盖选择性膜（15），然后通过胶（22）将所述护套（18）紧固在传感器（11,17）上 - 由于它们刚好被覆盖材料21覆盖，所以不能到达选择膜15，然后溶解所述覆盖材料21。 该方法确保在制造过程之后选择性膜（15）不含胶（22）。

    Method for generating representations of 3-dimensional objects and system performing this method
    87.
    发明公开
    Method for generating representations of 3-dimensional objects and system performing this method 失效
    一种用于产生三维对象的表示法，并且该处理执行系统。

    公开(公告)号：EP0248919A1

    公开(公告)日：1987-12-16

    申请号：EP86107786.5

    申请日：1986-06-07

    申请人： Hewlett-Packard GmbH

    发明人： Diebel, Heinz, Dipl. Ing. ,  Peterhoff, Ralf, Dipl. Ing. ,  Thümling, Evelyn, Dipl. Inform.

    IPC分类号： G06F15/72

    CPC分类号： G06T17/10

    摘要： A computer aided design system comprises a processor which has access to different instruction memories. In a 2D mode of operation, the processor executes only the information stored in a 2D instruction memory, said instructions only referring to 2D geometry. If the processor receives a command related to 3D geometry, control is transferred to a transformation instruction memory which converts 2D geometry into 3D geometry and performs a topology check. Then (or upon entering of a 3D command) control is transferred to a 3D instruction memory which performs the necessary steps in 3D. The invention also relates to the method of system performance which allows easier and faster processing of geometric information.

    摘要翻译： 计算机辅助设计系统包括访问不同的指令存储器。 在操作的2D模式下，处理器执行仅存储在一个2D指令存储器中的信息，所述指令只参照2D几何形状。 如果处理器接收与3D几何形状的指令，控制被转移到的变换指令存储器哪个2D几何转换为3D几何并执行拓扑检查。 然后（或在进入3D命令）控制被转移到一个3D指令存储器，其执行在三维的必要步骤。 因此，本发明涉及的系统的性能，其允许的几何信息更容易和更快的处理方法。

    Circuit for measuring characteristics of a device under test
    90.
    发明公开
    Circuit for measuring characteristics of a device under test 失效
    Schaltung zur Messung derKenngrösseneiner getesteten Anordnung。

    公开(公告)号：EP0192981A1

    公开(公告)日：1986-09-03

    申请号：EP86101126.0

    申请日：1986-01-29

    申请人： Hewlett-Packard Company

    发明人： Toshio, Tamamura

    IPC分类号： G01R31/28

    CPC分类号： G01R31/2834

    摘要： The apparatus for measuring characteristics of a device under test (DUT) comprises a first signal generator (30, 11), which may be a crystal oscillator, for generating an input signal having a period Tforthe DUT (12), and a second signal generator (30, 25) for generating a sampling signal having a period t = nT + T/m, where n and m are integers. The sampling signal controls a first (13) and a second (15) sampler for sampling the output signal from the DUT (12) and the input signal to the DUT (12), respectively. The sample amplitudes are converted to digital by A/D converters (14, 16) and evaluated by a microprocessor (17) to obtain the characteristics of the DUT (12). The second signal generator may include a fractional N oscillator (25) for high accuracy and resolution and may additionally include a phase-locked loop circuit (21, 22, 23) coupled to the fractional N oscillator (25) to reduce phase noise and jitter thereof (Figure 2).

    摘要翻译： 用于测量被测器件（DUT）的特性的设备包括可以是晶体振荡器的第一信号发生器（30,11），用于产生具有用于DUT（12）的周期T的输入信号，以及第二信号发生器 信号发生器（30,25），用于产生具有周期t = nT + T / m的采样信号，其中n和m是整数。 采样信号控制第一（13）和第二（15）采样器，用于分别从DUT（12）和DUT（12）的输入信号采样输出信号。 样本幅度由A / D转换器（14,16）转换为数字，并由微处理器（17）进行评估，以获得DUT（12）的特性。 第二信号发生器可以包括用于高精度和分辨率的分数N个振荡器（25），并且还可以包括耦合到分数N个振荡器（25）的锁相环电路（21,22,23），以减少相位噪声和抖动 它们。