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公开(公告)号：EP3816573A1
公开(公告)日：2021-05-05
申请号：EP19206861.7
申请日：2019-11-04
发明人： Hänggli, Markus , Hess, Hanspeter
摘要： Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung und ein Verfahren zur Bestimmung einer Schichtdicke in einer Mehrschichtfolie (10). Damit die Grenzflächen der einzelnen Schichten (10a, 10b, 10c) im Innern der Folie mit dem FD-OCT gut detektiert werden können, wird die Folie mit Immersionsfluid (50) zwischen zwei optischen Kontaktblöcken (11, 12) so eingebettet, dass keine Reflexionen an der Oberfläche der Folie entstehen, welche die Reflexionen an den inneren Grenzflächen übersteuern. Die Vorrichtung verwendet Kontaktblöcke in Form von Rollen (110, 120). Die Ein- und Auskopplung der Strahlung erfolgt axial über die erste Rolle (110) und einen Spiegel (4), welcher die Strahlung aus dem Innern dieser Rolle auf die zu messende Folie (10) lenkt.
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公开(公告)号：EP1969304B1
公开(公告)日：2009-06-03
申请号：EP06792356.5
申请日：2006-10-02
CPC分类号： G01B7/087 , B29C47/0021 , B29C47/0026 , B29C47/0057 , B29C47/0059 , B29C47/009 , B29C47/065 , B29C47/92 , B29C2791/007 , B29C2947/92152 , B29C2947/92209 , B29C2947/92428 , B29C2947/92647 , B29C2947/92904 , B29K2023/06 , B29K2023/086 , B29K2023/12 , B29K2077/00
摘要： The invention relates to a method for determining the thickness of multi-layer films (13) comprising layers consisting of various non-conductive materials. According to said method, the thickness of the multi-layer film (13) is measured by a first sensor (17) and a second sensor (16) and optionally additional sensors. The first sensor (17) measures the profile of the total thickness in a short cycle with a duration of approximately 1-2 minutes, but with a large measuring error margin. The second sensor (16) measures the profile of the total thickness with a small measuring error margin but in a long cycle with a duration of approximately 10 to 30 minutes. A correction profile for the first sensor (17) can be calculated by comparing the two thickness profiles. Provided that this correction profile remains constant throughout the long cycle, it can be applied to all thickness profiles of the sensor (17) until a new, more accurate thickness profile is made available by the second sensor, permitting the calculation of a new correction profile.
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公开(公告)号：EP1780500A1
公开(公告)日：2007-05-02
申请号：EP06405336.6
申请日：2006-08-08
发明人： Keller, Albert c/o Hch. Kündig & Cie. AG , Hänggli, Markus c/o Hch. Kündig & Cie. AG , Weber, Philipp c/o Hch. Kündig & Cie. AG , Stuker, Peter c/o Hch. Kündig & Cie. AG
CPC分类号： G01B7/087 , B29C47/0021 , B29C47/0026 , B29C47/0057 , B29C47/0059 , B29C47/009 , B29C47/065 , B29C47/92 , B29C2791/007 , B29C2947/92152 , B29C2947/92209 , B29C2947/92428 , B29C2947/92647 , B29C2947/92904 , B29K2023/06 , B29K2023/086 , B29K2023/12 , B29K2077/00
摘要： Bei dem Verfahren zum Bestimmen der Dicke von Mehrschichtfolien 13 mit Schichten aus verschiedenen nichtleitenden Werkstoffen wird die Dicke der Mehrschichtfolie 13 mit einem ersten Sensor 17 und einem zweiten Sensor 16 und eventuell weiteren Sensoren gemessen. Der erste Sensor 17 misst mit einer kurzen Zykluszeit von ca 1-2 Minuten das Profil der Gesamtdicke, jedoch mit einem grossen Messfehler. Der zweite Sensor 16 misst das Profil der Gesamtdicke mit einem kleinen Messfehler, jedoch mit einer langen Zykluszeit von ca. 10 bis 30 Minuten.
Durch den Vergleich der beiden Dickenprofile kann für den ersten Sensor 17 ein Korrekturprofil berechnet werden. Unter der Voraussetzung, dass dieses Korrekturprofil über die lange Zykluszeit stabil bleibt, können alle Dickenprofrle des Sensors 17 mit diesem Korrekturprofil verrechnet werden, bis wieder ein neues genaueres Dickenprofil vom zweiten Sensor zur Verfügung steht und somit ein neues Korrekturprofil berechnet werden kann.摘要翻译： 测量包括不同非导电材料层的多层膜的总厚度或单个厚度包括使用根据不同测量原理操作的两个传感器的测量值来确定至少一个传感器的校正，并从 来自一个传感器的测量值和该传感器的校正至少一个后续测量。 还包括一个独立的权利要求，用于通过使用第二传感器来校正在包括具有第一传感器的不同非导电材料层的多层膜上进行的一系列厚度测量，所述第二传感器为同一材料的相同厚度提供不同的读数， 从两个传感器到计算机，其根据不同的读数确定正确的厚度，并从正确的厚度与由两个传感器测量的值的比率计算校正轮廓，并且使用校正轮廓来校正一个或多个后续的系列 的测量。
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公开(公告)号：EP1982140A1
公开(公告)日：2008-10-22
申请号：EP06806158.9
申请日：2006-10-02
发明人： KELLER, Albert , HÄNGGLI, Markus , WEBER, Philipp , STUKER, Peter
CPC分类号： G01B7/087 , B29C47/0021 , B29C47/0026 , B29C47/0057 , B29C47/0059 , B29C47/009 , B29C47/065 , B29C47/92 , B29C2791/007 , B29C2947/92152 , B29C2947/92209 , B29C2947/92428 , B29C2947/92647 , B29C2947/92904 , B29K2023/06 , B29K2023/086 , B29K2023/12 , B29K2077/00
摘要： The invention relates to a method for determining the thickness of multi-layer films (13) comprising layers consisting of various non-conductive materials. According to said method, the thickness of the multi-layer film (13) is measured by a first sensor (17) and a second sensor (16) and optionally additional sensors, whereby all the sensors take a measurement at the same location under the same conditions if possible. The first sensor (17) and the second (16) or additional sensors generate different measured values for layers of the multi-layer film (13) of the same thickness consisting of the same material (13). The measured signals of the sensors (16, 17) are fed to a computer (18), which determines the total thickness of the multi-layer film (13) and/or the thickness of the individual layers of the multi-layer film (13) from the different measured values of the first sensor (17) and the second (16) or additional sensors.
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5.发明授权Positioniersystem mit Druckmessung in der Luftschicht zwischen Messkopf und Messgut 失效与在传感器和材料之间的空气层压力测量定位系统将被测量
公开(公告)号：EP0801290B1
公开(公告)日：2004-01-07
申请号：EP97810193.9
申请日：1997-04-04
发明人： Stuker, Peter
CPC分类号： G01B13/00
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6.发明公开Positioniersystem mit Druckmessung in der Luftschicht zwischen Messkopf und Messgut 失效位于德国Luftschicht zwischen Messkopf und Messgut的定位系统公司
公开(公告)号：EP0801290A2
公开(公告)日：1997-10-15
申请号：EP97810193.9
申请日：1997-04-04
发明人： Stuker, Peter
CPC分类号： G01B13/00
摘要： Die Aufgabe, eine Mess-Sonde (5) sehr nahe, aber berührungsfrei an einem sich bewegenden Messgut (9) zu positionieren ( 0
摘要翻译： 测量系统允许厚度测量头（5）经由传感器（1）相对于测量的箔片（9）定位，该传感器测量与测量头和表面之间的间隙（12）的空气压力或压力变化 的箔，其中空气喷射到其中。 由传感器提供的信号被馈送到用于计算测量头和箔之间的相对间距的评估电路，用于位置调节电路。
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公开(公告)号：EP1969304A1
公开(公告)日：2008-09-17
申请号：EP06792356.5
申请日：2006-10-02
CPC分类号： G01B7/087 , B29C47/0021 , B29C47/0026 , B29C47/0057 , B29C47/0059 , B29C47/009 , B29C47/065 , B29C47/92 , B29C2791/007 , B29C2947/92152 , B29C2947/92209 , B29C2947/92428 , B29C2947/92647 , B29C2947/92904 , B29K2023/06 , B29K2023/086 , B29K2023/12 , B29K2077/00
摘要： The invention relates to a method for determining the thickness of multi-layer films (13) comprising layers consisting of various non-conductive materials. According to said method, the thickness of the multi-layer film (13) is measured by a first sensor (17) and a second sensor (16) and optionally additional sensors. The first sensor (17) measures the profile of the total thickness in a short cycle with a duration of approximately 1-2 minutes, but with a large measuring error margin. The second sensor (16) measures the profile of the total thickness with a small measuring error margin but in a long cycle with a duration of approximately 10 to 30 minutes. A correction profile for the first sensor (17) can be calculated by comparing the two thickness profiles. Provided that this correction profile remains constant throughout the long cycle, it can be applied to all thickness profiles of the sensor (17) until a new, more accurate thickness profile is made available by the second sensor, permitting the calculation of a new correction profile.
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公开(公告)号：EP1780498A1
公开(公告)日：2007-05-02
申请号：EP05405613.0
申请日：2005-10-28
发明人： Keller, Albert , Hänggli, Markus , Weber, Philipp , Stuker, Peter
CPC分类号： G01B7/087 , B29C47/0021 , B29C47/0026 , B29C47/0057 , B29C47/0059 , B29C47/065 , B29C47/92 , B29C2947/92152 , B29C2947/92428 , B29C2947/92647 , B29C2947/92904
摘要： Bei dem Verfahren zum Bestimmen der Dicke von Mehrschichtfolien (13) mit Schichten aus verschiedenen nichtleitenden Werkstoffen wird die Dicke der Mehrschichtfolie (13) mit einem ersten Sensor (17) und einem zweiten Sensor (16) und eventuell weiteren Sensoren gemessen. Der erste Sensor (17) und der oder die weiteren Sensoren (16) erzeugen für Schichten gleicher Dicke aus gleichem Werkstoff der Mehrschichtfolie (13) unterschiedliche Messwerte. Die Messsignale der Sensoren (16, 17) werden einem Rechner (18) zugeführt, der aus den unterschiedlichen Messwerten des ersten Sensors (17) und des oder der weiteren Sensoren (16) die gesamte Dicke der Mehrschichtfolie (13) und/oder die Dicke einzelner Schichten der Mehrschlchffolie (13) bestimmt.
摘要翻译： 在用于确定具有不同非导电材料层的多层膜（13）的厚度的方法中，多层膜（13）的厚度利用第一传感器（17）和第二传感器（16）以及可能的其他传感器来测量。 第一传感器（17）和一个或多个其他传感器（16）针对由多层膜（13）的相同材料制成的相同厚度的层产生不同的测量值。 传感器（16,17）的测量信号被馈送到计算机（18），计算机根据第一传感器（17）和一个或多个传感器（16）的不同测量值确定多层膜（13）的总厚度和/或厚度 Mehrschlchffolie（13）的各层确定。
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9.发明授权
公开(公告)号：EP3330677B1
公开(公告)日：2019-08-28
申请号：EP16202172.9
申请日：2016-12-05
发明人： Pfenninger, Thomas
IPC分类号： G01D11/24
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10.发明公开
公开(公告)号：EP3330677A1
公开(公告)日：2018-06-06
申请号：EP16202172.9
申请日：2016-12-05
发明人： Pfenninger, Thomas
CPC分类号： G01D11/245 , B29C48/92
摘要： Die Erfindung betrifft eine Schutzabdeckung (4) zum Schutz eines Sensors (2) für die Bestimmung der Dicke einer Kunststofffolie (3). Dabei umfasst die Schutzabdeckung (4) eine Sensorsektion (8, 81, 82) zur Aufnahme und Positionierung des Sensors (2) unter einer Kontaktfläche (41) der Schutzabdeckung (4) und die Kontaktfläche (41) ist derart an der Schutzabdeckung (4) vorgesehen, dass im Betriebszustand mittels des Sensors (2) die Dicke der Kunststofffolie (3) zumindest durch einen Teil der Kontaktfläche (41) hindurch bestimmbar ist. Erfindungsgemäss umfasst die Kontaktfläche (41) eine elektrisch isolierende Messfläche (411) und eine elektrisch leitende Ableitfläche (412), wobei die Messfläche (411) zumindest einen Teil der Sensorsektion (8, 81, 82) überdeckt. Des weiteren umfasst die Erfindung eine Messeinrichtung 1 umfassend eine Schutzabdeckung 4 und einen Sensor 2.
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