Abstract:
La présente description concerne un dispositif électronique (300) comprenant : - un module de communication en champ proche (301) ; et - un circuit d'alimentation (302) dudit module (301), dans lequel, quand ledit module (301) est dans un mode basse consommation, ledit circuit d'alimentation (302) est configuré pour être démarré périodiquement.
Abstract:
La présente description concerne un dispositif (2) comprenant un premier circuit (CORR) recevant des premier et deuxième signaux (I1(t), Q1(t)) et un troisième signal (THETA) de déphasage, et générant des quatrième et cinquième signaux (I2(t), Q2(t)) par application du déphasage aux premier et deuxième signaux. Le deuxième circuit (CORR) détermine, lorsque les premier et deuxième signaux correspondent à un symbole QPSK connu, un bit (UP/DW) à partir d'un échantillonnage de la somme et de la différence des quatrième et cinquième signaux, fournit un signal numérique (IN-LOOP) correspondant à une multiplication du bit (UP/DW) par un gain (G), et diminue périodiquement le gain (G) jusqu'à une valeur unitaire. Le troisième circuit (LOOP) détermine le troisième signal (THETA) à partir du signal numérique (LOOP-IN).
Abstract:
La présente description concerne un procédé de détection et de correction d'erreurs comprenant la comparaison d'au moins trois dispositifs (100A, 100B, 100C) identiques comprenant chacun au moins une chaîne (103A, 103B, 103C) de données de test, comprenant les étapes suivantes : (a) les données de test en dernière position dans ladite chaîne (103A, 103B, 103C) desdits au moins trois dispositifs (100A, 100B, 100C) sont comparées ; (b) les autres données de test sont avancées d'une position dans leur chaîne (103A, 103B, 103C) ; et (c) le résultat de la comparaison de l'étape (a) est écrit en première position dans ladite chaîne (103A, 103B, 103C), les étapes (a), (b), et (c) sont répétées jusqu'à ce que toutes les données de test desdites chaînes (103A, 103B, 103C) sont comparées.