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1.发明公开Verformbare Matte zur Herstellung von dreidimensionalen Bauteilen und Verfahren zu ihrer Herstellung 有权排列与用于生产三维部件和它们的制备方法的一个可变形的垫
公开(公告)号：EP1249328A1
公开(公告)日：2002-10-16
申请号：EP02004817.9
申请日：2002-03-02
CPC分类号： B29C39/265 , B29C33/0055 , B29C33/307 , B29C33/3842 , B29C39/021 , B63B5/24 , B63H9/0657 , B63H2009/0671
摘要： Es ist bekannt, dreidimensionale Bauteile dadurch herzustellen, dass sie auf eine elastische Matte (5) aufgelegt werden. Die Matte wird von höhenverstellbaren Stützelementen (3) gehalten. Als eine für die Herstellung geeignete Matte wird eine Matte mit einer Dichte im Bereich zwischen 0,5g/cm 3 bis 3g/cm 3 und einem Elastizitätsmodul im Bereich von 2 - 30N/mm 2 vorgeschlagen. Die Matte besteht bevorzugt aus einem Zweikomponentenmaterial auf Silikonbasis. Die Matte wird hergestellt, indem das Material (8) in einen Rahmen (7) gefüllt wird, der auf einer ebenen Platte (6) steht, anschließend eine Deckplatte (9) auf außerhalb des Rahmens angeordnete Abstandselemente (10) aufgelegt wird, wobei die Abstandselemente höher sind als der Rahmen, und die Rahmen zwischen den beiden Platten vollständig mit dem Material gefüllt wird.
摘要翻译： 的垫（5）安装在（3）具有可调节的高度支撑件并且具有0.5-3g /立方米厘米的密度和2-30N /平方毫米的弹性模量。 一种独立claimsoft被用于制造可变形垫在其中静置在平板上的框架中填充有双组分聚合物和盖板上顶它靠在间隔件的框架的外侧放置的方法制得， 间隔件比所述帧更高。
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2.发明公开Vorrichtung zum optischen Abtasten von Messflächen 失效Vorrichtung zum optischen Abtasten vonMessflächen
公开(公告)号：EP0754930A2
公开(公告)日：1997-01-22
申请号：EP96108401.9
申请日：1996-05-28
发明人： Gieseler, Otto , Lindner, Walter
IPC分类号： G01B11/00
CPC分类号： G01B11/24
摘要： Bei einer Vorrichtung zum optischen Abtasten von Meßflächen, mit einer Strahlquelle für einen Punktlichtstrahl, einem Detektor zum Erfassen des von einem in der Meßfläche gelegenen Meßpunkt reflektierten Lichtsignals und mit einer Auswerteeinrichtung zur Lagebestimmung des Meßpunktes aus dem reflektierten Lichtsignal, sind Sender und Detektor in einem Gehäuse enthalten und das Gehäuse enthält ferner einen Reflektor und/oder Empfänger einer optischen 3D-Objektverfolgungseinrichtung und die mittels dieser Einrichtung gewonnenen Informationen sind über die räumliche Lage des Gehäuses ebenfalls der Auswerteeinrichtung zugeführt.
摘要翻译： 扫描仪具有光源以提供点光束。 它还具有用于检测从测量表面中的测量点反射的光信号的检测器。 该装置还具有分析器（4），以从反射光信号确定测量点的位置。 发射器和检测器包含在壳体（3）中。 壳体还包含三维物体跟踪装置（8）的反射器和/或接收器，其提供关于被馈送到分析器的壳体的空间位置和倾斜的信息。
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3.发明公开Verfahren zum Vermessen einer sich etwa in Längsrichtung erstreckten Raumkontur 失效Längsrichtungerstreckten Raumkontur的Verfahren zum Vermessen einer sich etwa
公开(公告)号：EP0754523A1
公开(公告)日：1997-01-22
申请号：EP96108398.7
申请日：1996-05-28
发明人： Gieseler, Otto , Lindner, Walter
IPC分类号： B23Q35/128 , G05B19/42
CPC分类号： B23Q35/128 , G05B19/4207
摘要： Bei einem Verfahren zum Vermessen einer sich etwa in einer Längsrichtung erstreckten Raumkontur mittels einer optischen Abtasteinrichtung, die die Koordinaten (X, Y, Z) von Abtastpunkten bestimmt, die wie die Raumkontur in der Oberfläche eines Formkörpers liegen, wird die Abtasteinrichtung linear und zumindest annähernd senkrecht bezüglich des Verlaufs der Raumkontur über diese hinweg bewegt und die Koordinaten einer Folge von Punkten bestimmt, die auch in den der Raumkontur benachbarten Flächen liegen. Als zugeordneter Raumpunkt wird der Schnittpunkt der beiden Flächen bestimmt, der zumindest annähernd parallel zur ersten Abtastebene die Raumkontur längs einer zweiten Abtastebene abtastet und den zugehörigen Raumpunkt bestimmt. Die längs der durch die beiden Raumpunkte festgelegte Richtung wird eine erneute Abtastung senkrecht zu dieser Richtung vorgenommen.
摘要翻译： 激光扫描单元（未示出）用于扫描表面以识别物体轮廓。 扫描路径将由一系列点ÄM1-M9Ü定义。 所采取的路径的方向最初将被手动设置，并在某些时候切割轮廓。 一个采样点ÄM6Ü将接近轮廓，而另一个采样点。 重复扫描周期，并获得其他定义点ÄN6Ü。 重复该过程。 这些点与紧邻的ÄM5，M6Ü一起用于重建轮廓
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公开(公告)号：EP1063079A2
公开(公告)日：2000-12-27
申请号：EP00112736.4
申请日：2000-06-16
发明人： Lindner, Walter
CPC分类号： B31D5/00 , B29C64/141
摘要： Bei einer Vorrichtung zum Erzeugen eines dreidimensionalen, aus aufeinanderliegenden Schichten gleicher Stärke bestehenden Modells, die vor dem Aufeinanderlegen in Form gebracht und nach dem Aufeinanderlegen miteinander verbunden sind, sind die Schichten aus einer Papierrolle, die aus einem als Papierrolle ausgebildeten Materialspeicher ausläuft, mittels eines Schneidwerkzeugs erzeugt, das linear und quer zur Bewegungsbahn der Papierrolle bewegt ist.
摘要翻译： 纸从卷（1）中抽出。 为了产生这些层，切割工具（4）相对于纸张（2）的运动线性地和横向移动。 对于所生产的模型，包含固体材料的独立权利要求。 优选特征：序列包括存储辊，产生各层形状的处理站，以及将层添加到生长堆的转移站（3）。 材料以相同长度的部分从辊中取出。 切割器由数据处理单元控制，其中为要生产的模型存储数据。 所得模型是实心的或空心的。 在生产过程中，横向于纸卷路径的切割工具运动与纸张的运动同时进行。
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5.发明公开Dreidimensionales Modell und Vorrichtung zum Erzeugen eines derartigen Modells 审中-公开三维模型和设备用于制造这样的模型
公开(公告)号：EP1063079A3
公开(公告)日：2001-01-31
申请号：EP00112736.4
申请日：2000-06-16
发明人： Lindner, Walter
CPC分类号： B31D5/00 , B29C64/141
摘要： Bei einer Vorrichtung zum Erzeugen eines dreidimensionalen, aus aufeinanderliegenden Schichten gleicher Stärke bestehenden Modells, die vor dem Aufeinanderlegen in Form gebracht und nach dem Aufeinanderlegen miteinander verbunden sind, sind die Schichten aus einer Papierrolle, die aus einem als Papierrolle ausgebildeten Materialspeicher ausläuft, mittels eines Schneidwerkzeugs erzeugt, das linear und quer zur Bewegungsbahn der Papierrolle bewegt ist.
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6.发明授权Anordnung mit verformbarer Matte zur Herstellung von dreidimensionalen Bauteilen und Verfahren zu ihrer Herstellung 有权排列与用于生产三维部件和它们的制备方法的一个可变形的垫
公开(公告)号：EP1249328B1
公开(公告)日：2009-12-16
申请号：EP02004817.9
申请日：2002-03-02
CPC分类号： B29C39/265 , B29C33/0055 , B29C33/307 , B29C33/3842 , B29C39/021 , B63B5/24 , B63H9/0657 , B63H2009/0671
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7.发明公开Vermessungsvorrichtung zum Abbilden und Aufzeichnen eines dreidimensionalen Objects 审中-公开Vermessungsvorrichtung zum Abbilden und Aufzeichnen eines dreidimensionalen对象
公开(公告)号：EP1122513A2
公开(公告)日：2001-08-08
申请号：EP01101305.9
申请日：2001-01-20
发明人： Lindner, Walter
CPC分类号： G01C15/002 , G01B11/002 , G01S5/0247 , G01S5/163 , G01S5/186
摘要： Die Erfindung geht von einer Vermessungsvorrichtung zum Abbilden und Aufzeichnen eines dreidimensionalen Objekts mit einer in Bezug auf das Objekt unabhängig bewegbaren Messkopfeinheit, die eine Abtasteinrichtung zum Erfassen der Oberfläche eines dreidimensionalen Objekts umfasst, und mit einer Positionsdetektionseinrichtung zum Erfassen der Position und der räumlichen Lage der Abtasteinrichtung aus. Es wird erstens eine vorgegebene Anzahl von zum Objekt feststehend positionierten ersten Messpunkten in Bezug auf das Referenzsystem und zweitens dieselbe Anzahl von zur Messkopfeinheit feststehend positionierten zweiten Messpunkten in Bezug auf das Referenzsystem definiert. Je ein erster und ein zweiter Messpunkt bilden ein Messpunkte-Paar. Die Positionsdetektionseinrichtung weist den Messpunkte-Paaren zugeordnete Abstandssensoren und eine Recheneinheit auf, durch die der jeweilige Abstand zwischen den Meßpunkten jedes Messpunkte-Paares erfasst wird und durch die aus den gemessenen Abständen im Zusammenhang mit den in Bezug auf das Referenzsystem definierten Messpunkten die Position und die räumliche Lage der Messkopfeinheit zum Objekt berechnet wird.
摘要翻译： 该装置具有测量头单元，该测量头单元可相对于物体独立移动，具有物体表面扫描器和具有与测量点对和计算机单元相关联的距离传感器的扫描仪位置检测装置。 计算机单元从每个测量点对的测量点之间的距离导出测量头单元相对于物体的空间位置。 该装置具有测量头单元（4），该测量头单元（4）可相对于物体（1）独立移动，具有物体表面扫描器和扫描器位置检测装置。 相对于参考系统定义相对于对象固定的相对于测量头单元固定的预定数量的测量点。 位置检测系统具有与测量点对和计算机单元相关联的距离传感器。 计算机单元从每个测量点对的测量点之间的距离导出测量头单元相对于物体的空间位置。
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8.发明授权Verfahren zum Vermessen einer sich etwa in Längsrichtung erstreckten Raumkontur 失效一种用于测量的方法在纵向上空间的轮廓大致延伸
公开(公告)号：EP0754523B1
公开(公告)日：2001-08-01
申请号：EP96108398.7
申请日：1996-05-28
发明人： Gieseler, Otto , Lindner, Walter
IPC分类号： B23Q35/128 , G05B19/42
CPC分类号： B23Q35/128 , G05B19/4207
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公开(公告)号：EP0754930A3
公开(公告)日：1997-12-17
申请号：EP96108401.9
申请日：1996-05-28
发明人： Gieseler, Otto , Lindner, Walter
IPC分类号： G01B11/00
CPC分类号： G01B11/24
摘要： Bei einer Vorrichtung zum optischen Abtasten von Meßflächen, mit einer Strahlquelle für einen Punktlichtstrahl, einem Detektor zum Erfassen des von einem in der Meßfläche gelegenen Meßpunkt reflektierten Lichtsignals und mit einer Auswerteeinrichtung zur Lagebestimmung des Meßpunktes aus dem reflektierten Lichtsignal, sind Sender und Detektor in einem Gehäuse enthalten und das Gehäuse enthält ferner einen Reflektor und/oder Empfänger einer optischen 3D-Objektverfolgungseinrichtung und die mittels dieser Einrichtung gewonnenen Informationen sind über die räumliche Lage des Gehäuses ebenfalls der Auswerteeinrichtung zugeführt.
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