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公开(公告)号:EP2331946A2
公开(公告)日:2011-06-15
申请号:EP09791973.2
申请日:2009-08-27
申请人: Carl Zeiss NTS, LLC.
IPC分类号: G01N23/225 , H01J37/08 , H01J27/26
CPC分类号: H01J37/28 , H01J37/05 , H01J37/08 , H01J37/265 , H01J2237/057 , H01J2237/0807 , H01J2237/24514
摘要: Ion microscope methods and systems are disclosed. In general, the systems and methods provide high ion beam stability.
摘要翻译: 公开了离子显微镜的方法和系统。 通常,这些系统和方法提供了高离子束稳定性。
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2.ISOTOPE ION MICROSCOPE METHODS AND SYSTEMS 审中-公开
标题翻译: VERFAHREN UND SYSTEMEFÜRISOTOPENIONENMIKROSKOPIE公开(公告)号:EP2288906A2
公开(公告)日:2011-03-02
申请号:EP09767266.1
申请日:2009-05-26
申请人: Carl Zeiss NTS, LLC.
IPC分类号: G01N23/225 , H01J37/26
CPC分类号: H01J37/285 , G01N23/2255 , H01J37/08 , H01J37/28 , H01J37/317 , H01J2237/0807 , H01J2237/2817
摘要: Ion microscope methods and systems are disclosed. In general, the systems and methods involve relatively light isotopes, minority isotopes or both. In some embodiments, He-3 is used.
摘要翻译: 公开了离子显微镜的方法和系统。 通常,系统和方法涉及相对较轻的同位素,少数同位素或两者。 在一些实施方案中,使用He-3。
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