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1.发明授权
公开(公告)号：EP1164680B1
公开(公告)日：2016-08-10
申请号：EP01110035.1
申请日：2001-04-27
IPC分类号： H02J7/00
CPC分类号： H02J7/0088
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公开(公告)号：EP0915552B1
公开(公告)日：2011-12-28
申请号：EP98119230.5
申请日：1998-10-12
IPC分类号： H02J7/00
CPC分类号： H02J7/0026 , B60L3/003 , B60L3/04 , B60L2240/545 , B60L2240/547 , Y02T10/7055
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公开(公告)号：EP1132989B1
公开(公告)日：2014-05-07
申请号：EP01105782.5
申请日：2001-03-08
CPC分类号： H01M10/443 , H01M10/448 , H02J7/0091 , H02J2007/0049
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公开(公告)号：EP1149726B1
公开(公告)日：2013-12-11
申请号：EP01109583.3
申请日：2001-04-18
发明人： Bito, Seiji , Murakami, Yusai , Nakanishi, Toshiaki , Inui, Kiwamu , Kanamaru, Kunio , Kimura, Tadao , Iwase, Masayoshi , Yamaguchi, Katsuhiko
CPC分类号： B60W10/26 , B60K6/48 , B60L11/1851 , B60L11/1861 , B60L11/187 , B60L11/1875 , B60L15/2072 , B60L2240/545 , B60L2240/547 , B60L2240/549 , Y02T10/6221 , Y02T10/645 , Y02T10/7005 , Y02T10/7044 , Y02T10/705 , Y02T10/72 , Y02T10/7275 , Y10S903/903
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公开(公告)号：EP1293377B1
公开(公告)日：2013-11-20
申请号：EP02020410.3
申请日：2002-09-10
CPC分类号： H01M10/482 , B60L3/0023 , B60L3/0046 , B60L3/12 , B60L11/1851 , B60L11/1861 , B60L11/1864 , B60L2240/545 , B60L2240/547 , B60L2240/549 , B60L2250/10 , G01R31/3662 , H01M10/42 , H01M10/441 , H02J7/1461 , Y02T10/7005 , Y02T10/7044 , Y02T10/7061
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公开(公告)号：EP0909675B1
公开(公告)日：2017-05-17
申请号：EP98119247.9
申请日：1998-10-12
发明人： Kikuchi, Yoshiaki , Asakawa, Fumihiko , Tojima, Kazuo , Ukita, Susumu , Shoji, Yoshimi , Nakanishi, Toshiaki , Kimura, Tadao
CPC分类号： B60W10/26 , B60K6/445 , B60L3/0046 , B60L11/123 , B60L11/14 , B60L11/1862 , B60L11/187 , B60L2240/36 , B60W2510/246 , Y02T10/6217 , Y02T10/6239 , Y02T10/7005 , Y02T10/7044 , Y02T10/705 , Y02T10/7077
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7.发明授权Inspection apparatus and method for electrode plate-connected structure for secondary cell 有权的方法和装置，用于二次电池电极板的连接结构的验证
公开(公告)号：EP1217357B1
公开(公告)日：2015-10-28
申请号：EP01129102.8
申请日：2001-12-07
IPC分类号： G01N21/88 , H01M2/26 , H01M10/42 , G01N21/956 , H01M10/34
CPC分类号： G01N21/88 , G01N2021/95661 , H01M2/266 , H01M10/34 , H01M10/4285
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公开(公告)号：EP1189294B1
公开(公告)日：2015-03-25
申请号：EP01121305.5
申请日：2001-09-05
发明人： Inui, Kiwamu , Nakanishi, Toshiaki
IPC分类号： H01M2/10 , H01M10/617 , H01M10/625 , H01M10/6554 , H01M10/6561 , H01M6/50 , B60L11/18 , H01M10/34
CPC分类号： B60L11/1855 , B60L11/1874 , B60L11/1879 , H01M2/1077 , H01M6/5038 , H01M10/345 , H01M10/617 , H01M10/625 , H01M10/6554 , H01M10/6561 , Y02E60/124 , Y02T10/7005 , Y02T10/705
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9.发明授权Method for detecting minor short in battery cells and method for detecting cell shorts 有权一种用于识别在电池单元侧的短路和方法，用于检测Zellkurschlüssen方法
公开(公告)号：EP1076242B1
公开(公告)日：2015-03-25
申请号：EP00116248.6
申请日：2000-08-08
CPC分类号： G01R31/362 , G01R31/006 , G01R31/025 , G01R31/3648 , G01R31/3658
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公开(公告)号：EP1150132B2
公开(公告)日：2008-11-19
申请号：EP01110384.3
申请日：2001-04-26
发明人： Nakanishi, Toshiaki , Kuno, Hiromichi , Kimura, Tadao , Ogino, Youzoh , Mizuno, Sadao , Otsubo, Kouji , Iwase, Masayoshi , Nakayama, Yoshiyuki , Sekimori, Toshiyuki , Tojima, Kazuo
CPC分类号： G01R31/3624 , G01R31/3658 , G01R31/3679 , H01M10/345 , H01M10/4207 , H02J7/0021 , Y02T10/7055
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