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公开(公告)号：JP5973404B2
公开(公告)日：2016-08-23
申请号：JP2013198192
申请日：2013-09-25
Applicant: 株式会社日立ハイテクノロジーズ
IPC: G01N21/64
CPC classification number: G01N21/645 , G01N27/44721 , G01N21/6452 , G01N2201/064 , G01N27/44726
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公开(公告)号：JP2015215340A
公开(公告)日：2015-12-03
申请号：JP2015076639
申请日：2015-04-03
Applicant: フォンダレックス エスアー , Fondarex S.A.
Inventor： コンラッド バウムガルトナー , イヴス ジェラール ローラン ヒュゲーニン−ヴリュマン
IPC: B22D17/22 , B22C9/00 , G01N21/359 , G01N21/03 , G01N21/3554
CPC classification number: G01N21/3554 , B22C9/067 , B22D17/145 , B22D17/2007 , B22D17/32 , B29C45/34 , G01N21/15 , G01N21/3504 , G01N21/85 , B29C2945/7614 , B29C2945/76254 , B29C45/76 , G01N2021/151 , G01N2021/354 , G01N2021/8416 , G01N2021/8578 , G01N21/359 , G01N2201/024 , G01N2201/062 , G01N2201/0622 , G01N2201/0626 , G01N2201/064
Abstract: 【課題】ダイカスト金型内の湿度を測定するための装置及び方法を提供する。 【解決手段】ダイカスト金型のキャビティ25は、排気管31を介して排気装置28に接続されている。装置1のモジュール式アセンブリは、排気管31に接続可能であると共に、金型キャビティ25から排出されたガスを測定できるセンサアセンブリを備える。このセンサアセンブは、電磁放射を発するエミッタ及び電磁放射を検出するディテクタを含む。排気の工程に際して算出された測定値に基づき、金型キャビティ25内に噴霧される水分・離型剤混合物を、鋳造工程前に変更すべきか否かを判定することができる。 【選択図】図2
Abstract translation: 要解决的问题：提供一种用于测量压铸模具内的湿度的装置和方法。解决方案：压铸模腔25通过排气管31连接到排气器28.装置1的模块化组件包括传感器 组件，其可以连接到排气管31并测量从模腔25排出的气体。传感器组件包括发射电磁辐射的发射器和检测电磁辐射的检测器。 基于在排气处理中计算的测量，可以确定在铸造过程之前是否改变要喷射到模腔25的内部的水和脱模剂的混合物。
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公开(公告)号：JP2013033008A
公开(公告)日：2013-02-14
申请号：JP2011169993
申请日：2011-08-03
Inventor： KAJIWARA ATSUSHI , KAI SHINICHI , ICHIMURA ISAO , SEGAWA YUJI
CPC classification number: G01N21/6452 , G01N2021/6463 , G01N2021/6471 , G01N2021/6482 , G01N2201/062 , G01N2201/0633 , G01N2201/064
Abstract: PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an optical analysis apparatus with good detection accuracy.SOLUTION: An optical analysis apparatus comprises: a light guiding plate to guide light incident from one or more light sources to each of reaction areas; a light-shielding structure to restrict emission directions of light emitted from the inside of the reaction areas; and a detection system to detect the light emitted from the inside of the reaction areas by irradiation of the excitation light. An optical analysis method includes: guiding the light incident from the one or more light sources to each of the reaction areas, by the light guiding plate; and detecting, by the detection system, the light emitted from the inside of the reaction areas and passing through the light shielding structure restricting the light to the emission directions.
Abstract translation: 要解决的问题：提供具有良好检测精度的光学分析装置。 解决方案：光学分析装置包括：导光板，用于将从一个或多个光源入射的光引导到每个反应区域; 用于限制从反应区域的内部发射的光的发射方向的遮光结构; 以及检测系统，用于通过照射激发光来检测从反应区域的内部发射的光。 光学分析方法包括：通过导光板将从一个或多个光源入射的光引导到每个反应区域; 以及通过检测系统检测从反应区域的内部发射的光，并通过将光限制到发射方向的遮光结构。 版权所有（C）2013，JPO＆INPIT
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公开(公告)号：JP2012181191A
公开(公告)日：2012-09-20
申请号：JP2012020013
申请日：2012-02-01
Inventor： OGUSU MAKOTO
CPC classification number: G01J1/42 , B01L3/502707 , B01L2200/0689 , B01L2300/0654 , B01L2300/0816 , B01L2300/0877 , B01L2300/1827 , B29D11/00 , G01N21/0332 , G01N21/05 , G01N21/645 , G01N2021/0346 , G01N2201/064
Abstract: PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a light-emission detecting device which stably joins substrates having projecting/recessed portions each other, and prevents unnecessary light-emission from reaching detecting means.SOLUTION: A light-emission detecting device 20 has a channel 3 configured by bonding two substrates 16 and 17, and detects the light-emission from the channel. A detecting side substrate 16 having a bonding surface on which recessed portions becoming a part of a wall surface of the channel and a light-shielding film 1 disposed on an area other than the recessed portions are disposed, and a detection surface 6 which is disposed on the back surface of the bonding surface, and making the light-emission from the channel pass through to be detected; and a wiring side substrate 17 disposing a conductive pattern 4 having the thickness of projecting portions and recessed portions on a surface bonded with the detecting side substrate are bonded with each other. In the area in which the light-shielding film is disposed, an adhesive material 7 is disposed according to the thickness of the projecting portions and the recessed portions of the conductive pattern 4, and the detecting side substrate and the wiring side substrate are tightly joined by the adhesive material.
Abstract translation: 解决的问题：提供一种稳定地连接具有突出/凹陷部分的基板的发光检测装置，并且防止不必要的发光到达检测装置。 解决方案：发光检测装置20具有通过粘合两个基板16和17构成的通道3，并且检测来自通道的发光。 设置检测侧基板16，其具有接合面，凹部成为沟道的壁面的一部分，以及设置在除了凹部以外的区域的遮光膜1;以及检测面6， 在接合表面的背面上，并且使来自通道的发光通过以被检测; 并且在与检测侧基板接合的表面上配置具有突出部分和凹部的厚度的导电图案4的布线侧基板17彼此接合。 在设置有遮光膜的区域中，根据导电图案4的突出部分和凹部的厚度设置粘合材料7，并且检测侧基板和布线侧基板紧密接合 通过粘合剂材料。 版权所有（C）2012，JPO＆INPIT
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公开(公告)号：JP2009540325A
公开(公告)日：2009-11-19
申请号：JP2009514941
申请日：2007-05-15
Applicant: コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ
Inventor： イェー ウェー クリュンデル，デルク , ティー ジョンソン，マーク , エル エム バリストレリ，マルセロ , ヘルペン，マールテン エム イェー ウェー ファン , ウェー ヘー ポンイェー，マルク
IPC: G01N21/64
CPC classification number: G01N21/6454 , B01J2219/00576 , B01J2219/00702 , B01L3/502707 , B01L3/502715 , B01L2300/0654 , B01L2300/0816 , B01L2300/0819 , B01L2300/1827 , G01N21/6428 , G01N21/648 , G01N2021/0307 , G01N2021/7786 , G01N2201/0221 , G01N2201/0636 , G01N2201/064 , Y10T29/49826
Abstract: 集積生体感応装置は、照明されるときに、サンプルからの発光（放射）を検出する。 光検出器（２０）が、サンプル（４０）を保持し或いはサンプルへの衝突のための励起放射線を受け取るためのサイトに隣接する。 反射器（１０）が、照明をサンプルサイトに偏向し、光検出器から離れるよう励起放射線を実質的に案内する。 反射器を提供することによって、照明光の望ましくない偏向に対する発光の望ましい偏向の比率が改良され得る。 これは、光検出器に到達する照明の量の減少、及び／又は、サンプルの照明の量、よって、検出器に到達する発光の量の増大によって達成され得る。 これはフィルタを使用するよりも費用効率的に達成され得る。 もし基板が透明であるならば、照明は上又は下からであり得る。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：JP2009168632A
公开(公告)日：2009-07-30
申请号：JP2008007266
申请日：2008-01-16
Applicant: Konica Minolta Sensing Inc , コニカミノルタセンシング株式会社
Inventor： YAMADA MASAYUKI
IPC: G01N21/64
CPC classification number: G01N21/474 , G01N21/01 , G01N21/6456 , G01N2021/6484 , G01N2201/064
Abstract: PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a fluorescence detecting apparatus for achieving miniaturization and cost reduction and accurately detecting the position of a fluorescence material in a measurement object using an image. SOLUTION: The fluorescence detecting apparatus 100 includes: an excitation light emitting section 1 for emitting excitation light onto the measurement object 20; an illumination light emitting section 2 for emitting illumination light onto the measurement object 20; an imaging apparatus 50 that has an excitation light blocking section 5 for blocking light of the wavelength band of the excitation light and images light from the measurement object 20; and a control section 8 for controlling the imaging apparatus 50, the excitation light emitting section 1, and the illumination light emitting section 2. The control section 8 makes the excitation light emitting section 1 emit the excitation light onto the measurement object 20, defines an imaging condition of the imaging apparatus 50 based on imaging results to be taken by imaging light from the measurement object 20 by the imaging apparatus 50, defines an illumination condition of the illumination light, makes the excitation light emitting section 1 and the illumination light emitting section 2 emit the excitation light and illumination light onto the measurement object 20, and makes the imaging apparatus 50 image the light from the measurement object 20. COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT
Abstract translation: 要解决的问题：提供一种用于实现小型化和降低成本并且使用图像精确地检测测量对象中的荧光材料的位置的荧光检测装置。 荧光检测装置100包括：激发光发射部分1，用于将激发光发射到测量对象20上; 用于将照明光发射到测量对象20上的照明光发射部分2; 具有用于阻挡激发光的波长带的光并且来自测量对象20的光的激发光阻挡部分5的成像装置50; 以及用于控制成像装置50，激发光发射部分1和照明光发射部分2的控制部分8.控制部分8使激发光发射部分1将激发光发射到测量对象20上， 基于通过成像装置50对来自测量对象20的光进行摄像而获得的成像结果的成像装置50的成像条件限定照明光的照明条件，使得激发光发射部1和照明光发射部 2将激发光和照明光发射到测量对象20上，并使成像设备50对来自测量对象20的光进行成像。版权所有（C）2009，JPO＆INPIT
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公开(公告)号：JP4214196B2
公开(公告)日：2009-01-28
申请号：JP2000620408
申请日：2000-05-18
Inventor： シュミッツ ステファン
CPC classification number: G01N21/6456 , G01N21/6458 , G01N2201/064 , G01Q60/20 , G02B21/16
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公开(公告)号：JP2006078414A
公开(公告)日：2006-03-23
申请号：JP2004264899
申请日：2004-09-13
Applicant: Alps Electric Co Ltd , アルプス電気株式会社
Inventor： TAKAMURA SHOZO , YAMASHITA TATSUMARO , SHIBUYA YOSHIHISA
CPC classification number: B29C65/16 , B01L3/5027 , B01L3/502707 , B01L2300/0636 , B01L2300/0645 , B01L2300/0887 , B01L2300/168 , B01L2300/1827 , B29C65/1635 , B29C65/1674 , B29C65/1683 , B29C65/1696 , B29C66/1122 , B29C66/53461 , B29C66/71 , B29C66/712 , B29C66/73921 , B29C66/8322 , G01N21/0332 , G01N21/05 , G01N21/645 , G01N2021/0346 , G01N2201/064 , B29K2033/12 , B29K2083/00
Abstract: PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a plate for examination capable of conducting exactly fluorometry for determining the presence of a biochemical reaction, for example, between a probe DNA and a specimen DNA.
SOLUTION: Light shielding parts 16, 16 are provided along a flow passage 13 in a sideway of a graphically shown X1 side (right side) and in a sideway of a graphically shown X2 side (left side) of the flow passage 13, on a surface 11a of a plate substrate 11. Lights emitted slightly from the plate substrate 11 and a lid 12 are properly shielded by the light shielding parts 16, 16, in this manner, when measuring fluorescence intensity for determining the propriety of the reaction of the specimen, so as to enhance stability in the measurement of the fluorescence intensity with respect to each bead arrayed inside the flow passage 13.
COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPIAbstract translation: 要解决的问题：提供一种能够进行准确的荧光测定以进行检查的板，用于确定生物化学反应的存在，例如探针DNA和样本DNA之间的存在。 解决方案：遮光部分16,16沿着流动通道13在图示的X1侧（右侧）的侧面设置，并且在流动通道13的图示的X2侧（左侧）的侧面设置 在板基板11的表面11a上。以这种方式，当测量荧光强度以确定反应的适当性时，从板基板11稍微发出的光被遮光部分16,16适当地遮蔽 以提高相对于排列在流动通道13内的每个珠的荧光强度的测量的稳定性。（C）2006，JPO和NCIPI
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公开(公告)号：JPS6140520A
公开(公告)日：1986-02-26
申请号：JP12727885
申请日：1985-06-13
Applicant: Abbott Lab
Inventor： KEISU MEINAADO RINGENFUERUTAA
CPC classification number: G01J3/02 , G01J3/0262 , G01J3/2803 , G01J2003/2866 , G01J2003/421 , G01N2201/064
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公开(公告)号：JPS5712094B2
公开(公告)日：1982-03-09
申请号：JP2209878
申请日：1978-03-01
CPC classification number: G01N21/645 , G01N21/05 , G01N2021/6482 , G01N2201/064
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