光学的検査システム
    6.
    发明专利
    光学的検査システム 有权
    光学检测系统

    公开(公告)号:JP2016040549A

    公开(公告)日:2016-03-24

    申请号:JP2015206996

    申请日:2015-10-21

    IPC分类号: G02F1/37 G01N21/33 G01N21/956

    摘要: 【課題】1つまたは複数の非線形光学(NLO)結晶の結晶欠陥を直して、性能を改善するまたはレーザ誘起損傷に対する抵抗性を高めるためのシステムを提供する。 【解決手段】選択された水素濃度を有する不活性化ガスを含むように構成された曝露チャンバ101であって、チャンバ内部の不活性化ガスへの曝露のために少なくとも1つのNLO結晶104を含むようにさらに構成された曝露チャンバ101と、曝露チャンバ101に流体的に接続される不活性化ガスソース108を含む。コンピューティングシステム112は、検出器によって受光される照明の少なくとも一部に関する情報を取得するように構成され、検出器によって受光される照明の少なくとも一部に関する情報を活用して、試料の少なくとも1つの欠陥の存在または不在を決定するように構成される。 【選択図】図1A

    摘要翻译: 要解决的问题:提供一种用于修复一个或多个非线性光学(NLO)晶体的晶体缺陷的系统,以提高性能或增加对激光引起的损伤的抗性。解决方案:系统包括:曝光室101,被配置为包括惰性 具有选择的氢浓度的气体,并且还被配置为包括用于暴露于室内的惰性气体的至少一个NLO晶体104; 以及与曝光室101流体连接的惰性气体源108.计算系统112被配置为获取关于由检测器接收的照明的至少一部分的信息,并且使用关于由所述检测器接收的照明的至少一部分的信息 检测器以确定样品中存在或不存在至少一个缺陷。选择图:图1A