センサ基板、検出装置及びセンサ基板の製造方法

    公开(公告)号:JPWO2019069717A1

    公开(公告)日:2020-09-10

    申请号:JP2018035059

    申请日:2018-09-21

    发明人: 柳川 博人

    IPC分类号: G01N33/543 G01N21/64

    摘要: 本開示は、微量の被検出物質を検出することができるセンサ基板を提供する。本開示によるセンサ基板(204b)は、励起光が照射されることによって表面プラズモンを生じさせる金属微細構造体(2041)を備えるセンサ基板であ金属微細構造体は、平面状に配置された複数の突起部(2043a)で構成される。複数の突起部は、平面視において、隣接する突起部間の中央を通る仮想線Vが、ハニカム形状を描くように配置されている。複数の突起部の各々の形状は、平面視において、略六角形状である。隣接する突起部の間に存在する間隙のセンサ基板の厚み方向における深さは、ハニカム形状を構成する六角形に内接する仮想円の半径よりも大きい。

    複合体及び検出装置
    2.
    发明专利

    公开(公告)号:JP2020085830A

    公开(公告)日:2020-06-04

    申请号:JP2018224875

    申请日:2018-11-30

    发明人: 柳川 博人

    摘要: 【課題】良好な分散性と安定な発光特性とを有する複合体を提供する。 【解決手段】複合体2032は、標的物質と特異的に結合する性質を有する第1物質20322と、シリコンを主成分として含み、かつ、表面が負の電荷を帯びている量子ドット20321aと、下記一般式(1)で表される化合物を含み、量子ドット20321aの表面を覆うリンカー物質20321bと、を含み、第1物質20322は、リンカー物質20321bを介して量子ドット20321aの表面に固定化される。 X−L 1 −On−L 2 −Si−(R 1 )(R 2 )(OR 3 ) ・・・(1) (ただし、式中、Xは、電気的に中性の官能基であり、R 1 及びR 2 は、それぞれ独立して、アルキル基又はアルコキシ基であり、R 3 は、アルキル基であり、L 1 及びL 2 は、それぞれ独立して、アルキレン基であり、nは、0又は1である。) 【選択図】図1

    センサ基板及びその製造方法
    4.
    发明专利

    公开(公告)号:JPWO2020044762A1

    公开(公告)日:2021-09-02

    申请号:JP2019025628

    申请日:2019-06-27

    发明人: 柳川 博人

    IPC分类号: G01N33/543 G01N21/64

    摘要: 本開示は、低濃度の被検出物質を高感度にかつ信頼性の高い検出を行うことができるセンサ基板を提供する。本開示によるセンサ基板(10)は、金属膜(202)で被覆された複数の第1の微細突起(111a)を表面に有する第1の基板(111)と、第1の基板の表面上に配置され、スリット(122)を有する粘着フィルム(112)と、粘着フィルム上に配置され、第1の透孔(123)および第2の透孔(124)を有する透明な第2の基板(113)と、を備え、第1の透孔および第2の透孔の各々は、スリットに連通しており、複数の第1の微細突起は、平面視においてスリットに重畳している。

    濃度測定方法及び濃度測定装置
    5.
    发明专利

    公开(公告)号:JP2021025844A

    公开(公告)日:2021-02-22

    申请号:JP2019142747

    申请日:2019-08-02

    发明人: 柳川 博人

    摘要: 【課題】検出対象物質の濃度を精度良く測定できる濃度測定方法を提供する。 【解決手段】濃度測定方法は、複合体6と未結合磁性粒子16aとを含む液体61を基板11上に配置し(S3001)、光21を基板11に照射して基板11表面の少なくとも検出領域23に近接場24を形成し(S3002)、第1磁場勾配を印加して検出領域23外に未結合磁性粒子16aを収集し(S3003)、第1磁場勾配が未結合磁性粒子16aを基板11の表面に到達させるために必要な所定時間印加された後に、第2磁場勾配を印加して検出領域23内に複合体6を収集し(S3004)、第2磁場勾配の印加の停止後、第3磁場勾配を印加して検出領域23内の複合体6を基板11の面方向に移動させ(S3005)、移動する複合体6が発する蛍光を示す動光点を計数して、検出対象物質1の濃度を測定する(S3006)。 【選択図】図3

    検出方法及び検出装置
    6.
    发明专利

    公开(公告)号:JP2020193868A

    公开(公告)日:2020-12-03

    申请号:JP2019099509

    申请日:2019-05-28

    IPC分类号: G01N33/543 G01N21/64

    摘要: 【課題】表面増強蛍光法を用いて標的物質の検出感度の向上を実現できる検出方法等を提供する。 【解決手段】磁性を有する金属粒子に固定された第1物質及び蛍光体で標識された第2物質を標的物質と結合することにより複合体を形成し(S101)、蛍光体に蛍光を放射させ、かつ、金属粒子に局在化表面プラズモン共鳴を生じさせる所定の波長を有する励起光を所定領域に照射し(S102)、磁場勾配を印加して、複合体を所定領域に侵入及び/又は所定領域から離脱させ(S103、S105)、所定領域からの蛍光を経時的に検出し(S104、S106)、検出された蛍光の強度の変化量に基づいて標的物質を検出し(S107)、所定領域において、蛍光体が放射する蛍光は、金属粒子が生じる局在化表面プラズモン共鳴によって増強される。 【選択図】図6

    深紫外発光デバイスおよびその製造方法
    7.
    发明专利
    深紫外発光デバイスおよびその製造方法 审中-公开
    深层超紫外线发光装置及其制造方法

    公开(公告)号:JP2015170457A

    公开(公告)日:2015-09-28

    申请号:JP2014044133

    申请日:2014-03-06

    摘要: 【課題】大面積化することが可能な深紫外発光デバイスを提供する。 【解決手段】深紫外発光デバイス100は、互いに対向して配置された第1の基板20および第2の基板10と、放電空間80を規定するスペーサ90と、第1の基板20と第2の基板10とをスペーサ90を介して封着するシール材91と、放電空間80内に封入されたガスと、電圧の印加に応じて放電空間80内にガスのプラズマを発生させる複数の放電電極30と、プラズマによって励起されて深紫外線を発する発光層とを備える。 【選択図】図1

    摘要翻译: 要解决的问题:提供可被配置为具有较大面积的深紫外线发光装置。解决方案:深紫外发光装置100具有布置成彼此面对的第一基板20和第二基板10, 用于限定放电空间80的间隔件90,用于通过间隔件90密封第一基板20和第二基板10的密封构件91,封装在放电空间80中的气体的多个放电电极30,用于在 根据施加电压的放电空间80,以及被等离子体激发以发射深紫外光的发光层。

    複合体及び検出装置
    8.
    发明专利

    公开(公告)号:JPWO2020110481A1

    公开(公告)日:2021-11-04

    申请号:JP2019040065

    申请日:2019-10-10

    发明人: 柳川 博人

    摘要: 本開示は、良好な分散性と安定な発光特性とを有する複合体を提供する。本開示による複合体(2032)は、標的物質と特異的に結合する性質を有する第1物質(20322)と、シリコンを主成分として含み、かつ、表面が負の電荷を帯びている量子ドット(20321a)と、下記一般式(1)で表される化合物を含み、量子ドット(20321a)の表面を覆うリンカー物質(20321b)と、を含み、第1物質(20322)は、リンカー物質(20321b)を介して量子ドット(20321a)の表面に固定化される。 X−L−Si−(R 1 )(R 2 )(OR 3 ) ・・・(1) (ただし、式中、Xは、塩基性の官能基であり、R 1 、R 2 、及び、R 3 は、それぞれ独立して、アルキル基であり、Lは、アルキレン基である。)

    金属微細構造体および検出装置
    9.
    发明专利

    公开(公告)号:JPWO2020039741A1

    公开(公告)日:2021-08-26

    申请号:JP2019025629

    申请日:2019-06-27

    摘要: 本開示は、低濃度の被検出物質を高感度に検出することができる金属微細構造体を提供する。本開示による金属微細構造体は、所定の間隔で配置された複数の突起部(2022a)を有する基材(2022)と、基材を被覆している金属膜(2023)から構成され、光が照射されることによって表面プラズモンを生じさせる複数の凸状構造体(2023a)とを備えている。複数の凸状構造体のうち隣り合う凸状構造体の隙間の底部に位置する金属膜の膜厚(t2)は、複数の突起部の高さ(t3)より大きく、かつ、複数の突起部の頂部上に堆積された金属膜の膜厚(t1)の90%以上100%以下の厚みである。

    病原体検出装置および病原体検出方法

    公开(公告)号:JPWO2019187910A1

    公开(公告)日:2021-05-13

    申请号:JP2019007431

    申请日:2019-02-27

    摘要: 病原体検出装置(10)は、空気中の病原体を捕集する捕集部(11)と、捕集部(11)で捕集された病原体と標識物質とを反応させる反応部(12)と、反応部(12)での反応の開始からの時間を計測する計時部(13)と、病原体と反応した標識物質量を検出する検出部(14)と、制御部(15)と、を備え、制御部(15)は、計時部(13)で計測された反応の開始からの所定時間と、検出部(14)で検出された標識物質量とに基づいて勾配値を算出し、勾配値に基づいて、次に捕集部(11)が捕集を行うまでの時間的間隔を決定する。