電子顕微鏡および収差補正方法
    3.
    发明专利

    公开(公告)号:JP2017174751A

    公开(公告)日:2017-09-28

    申请号:JP2016062293

    申请日:2016-03-25

    Inventor: 神保 雄

    Abstract: 【課題】時間変化する収差を補正することができる電子顕微鏡および収差補正方法を提供する。 【解決手段】電子顕微鏡100は、光学系の収差を補正するための収差補正素子を備えた電子顕微鏡であって、収差の時間変化を記録する収差記録部612と、収差記録部612によって記録された収差の時間変化の情報に基づいて、時間変化する収差が補正されるように収差補正素子を動作させる制御を行う収差補正素子制御部614と、を含む。 【選択図】図3

    ライナーチューブ、および電子顕微鏡
    4.
    发明专利
    ライナーチューブ、および電子顕微鏡 审中-公开
    衬管,和电子显微镜

    公开(公告)号:JP2017010671A

    公开(公告)日:2017-01-12

    申请号:JP2015122639

    申请日:2015-06-18

    Abstract: 【課題】磁場変動が電子線に与える影響を低減することができるライナーチューブを提供することにある。 【解決手段】ライナーチューブ10は、電子顕微鏡の鏡筒2内に配置され、内部が電子線EBの経路となるライナーチューブであって、材質が銅、金、銀、またはこれらの金属のうちの1つを主成分とする合金である第1筒状部材110を含む。 【選択図】図1

    Abstract translation: 的磁场的变化是提供一种衬垫管,其可以减少对电子束的影响。 衬垫管10被设置在电子显微镜的镜筒2,电子束EB的路径内部的衬管,所述材料是铜,金,银或这些金属的, 一个包括第一管状构件110是一种合金,其主要成分。 点域1

    荷電粒子線装置および荷電粒子線装置の制御方法

    公开(公告)号:JP2019057384A

    公开(公告)日:2019-04-11

    申请号:JP2017180228

    申请日:2017-09-20

    Inventor: 神保 雄

    Abstract: 【課題】複数の光学素子を備えた荷電粒子線装置において、容易に、光学素子のヒステリシスの影響を低減することができる荷電粒子線装置を提供する。 【解決手段】荷電粒子線装置は、電流が供給されることにより磁場を発生させる光学素子を複数備えた光学系と、複数の光学素子の各々に供給される電流の変化を検出し、検出した電流の変化に応じて光学素子に対して緩和処理を行う制御部と、を含む。 【選択図】図5

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