情報処理システム、情報処理方法及びプログラム
    3.
    发明专利
    情報処理システム、情報処理方法及びプログラム 有权
    信息处理系统,信息处理方法和程序

    公开(公告)号:JPWO2015033603A1

    公开(公告)日:2017-03-02

    申请号:JP2015535335

    申请日:2014-03-11

    IPC分类号: G01M99/00 G06Q50/04

    摘要: 【課題】好適にデータ解析を行うことのできる情報処理システム、情報処理方法、及びプログラムを提供する。【解決手段】複数のセンシング部201による検知によりそれぞれ得られる複数の時系列データを、それぞれ周波数データ208へと変換する周波数変換部205と、複数のセンシング部201のうちの少なくとも2つのセンシング部201に係る周波数データ208を用いて相関モデル213を生成すると共に、相関モデル213の相関の強さ214を算出するモデル構築部211と、相関の強さ214に基づき異常を判定する異常検出部221とを備える。

    摘要翻译: 阿能够适当地数据分析,信息处理方法和程序的数据处理系统。 多个时间序列数据分别通过检测由多个感测单元201获得的,频率转换单元205转换到频数据208,分别在至少两个感测部分,所述多个感测单元201中的201 使用频率数据208,以生成相关性模型213根据模型构建单元211用于确定基于所述相关性的强度214异常计算相关模型213,异常检测部221的相关性的强度214 配备了。

    斜面監視システム、斜面安全性解析装置、方法およびプログラム

    公开(公告)号:JPWO2016027390A1

    公开(公告)日:2017-06-08

    申请号:JP2016543791

    申请日:2015-05-20

    IPC分类号: G08B31/00 E02D17/20

    摘要: 斜面監視システムは、任意の試験層または監視対象斜面を構成している物質層と同質の試験層を少なくとも有する試験環境から試験層の状態を変化させたときの解析式変数の各々の値および所定の第1可観測量の値を計測する解析式変数計測手段81と、試験環境から得られる各種値に基づいて、解析式変数の各々について、第1可観測量と同じまたは第1可観測量との関係が既知である所定の可観測量である第2可観測量または第2可観測量から算出可能な所定の第3変数との関係を規定するモデルを構築する解析式変数モデル化手段831とを備えることを特徴とする。

    スクリーン製造装置およびスクリーン製造方法
    5.
    发明专利
    スクリーン製造装置およびスクリーン製造方法 审中-公开
    屏制造装置及屏幕的制造方法

    公开(公告)号:JPWO2012169253A1

    公开(公告)日:2015-02-23

    申请号:JP2013519406

    申请日:2012-03-15

    IPC分类号: G03B21/62 G03B21/60

    CPC分类号: G03B21/56 G03B21/567

    摘要: 柔軟性のあるスクリーン基板の隔壁を容易に製造することが可能なスクリーン製造装置を提供することである。塗布機構(9)は、スクリーンの基板に隔壁溶剤を塗布する。調整機構(2〜8)は、スクリーン基板100の隔壁溶剤が塗布された塗布面が下向きになるように、基板の向きを調整する。硬化機構(10)は、下向きにされた塗布面に塗布されている隔壁溶剤を硬化させる。

    摘要翻译: 为了提供一个屏幕制造设备,它能够容易地制造分隔壁的柔性一定屏基底。 涂布机构(9)被涂覆有隔膜溶剂到屏幕的基板。 调节机构(2-8)涂覆表面舱壁溶剂屏幕基板100被施加使得向下调整衬底的定向。 固化机构(10)叶,向下类似于其他涂覆的表面涂覆的类似手是分区溶剂WO固化以。