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    Double reference lock-in detector
    1.
    发明专利
    Double reference lock-in detector 审中-公开

    公开(公告)号：JP2007536519A

    公开(公告)日：2007-12-13

    申请号：JP2007511499

    申请日：2005-05-03

    Applicant: ステノ コーポレイション

    Inventor： アール． ギブス，フィリップ

    IPC: G01J1/44 ,  G01J1/42 ,  G01N21/21 ,  G01N21/27 ,  H04B1/66 ,  H04B17/00

    CPC classification number: G01N21/21 ,  G01J2001/4242 ,  G01N21/274 ,  G01N2021/218

    Abstract: 本発明は、ダブルリファレンスのロックイン検出器を使用して、目的の複合信号について位相感度検出及び回復を行うための方法、回路、及びシステムを提供する。 ダブルリファレンスのロックイン検出器は、２つ以上のリファレンス信号源を備えてもよく、この場合は、まず信号が結合され、コンポジット（例えば、相互変調された）リファレンス信号が生成される。 その後、この信号が入力信号とミキシングされ、目的の周波数で所望の選択度が得られる。 第２の実施形態では、外部リファレンス信号を使用し、内部リファレンスをこれに同期させてから、リファレンス信号を結合する。 このような検出器は、キラル検出システムで使用し、被試験サンプルのキラル特性に関わる目的の所定の信号を回復させることができる。

    光学特性計測装置及び光学特性計測方法
    3.
    发明专利
    光学特性計測装置及び光学特性計測方法 有权

    公开(公告)号：JPWO2006103953A1

    公开(公告)日：2008-09-04

    申请号：JP2007510390

    申请日：2006-03-17

    Applicant: 国立大学法人東京農工大学

    Inventor： 大谷　幸利 ,  幸利 大谷 ,  俊隆 若山 ,  俊隆 若山

    IPC: G01N21/23

    CPC classification number: G01N21/23 ,  G01N2021/218

    Abstract: この光学特性計測装置は、光学系10に、複屈折位相差が既知でその値が互いに異なる第1及び第2のキャリアリターダ24、32を含む。そして、受光分光手段で検出される光強度信号を解析処理することにより得られる周波数スペクトルから、複数のピークスペクトルを抽出する処理を行うスペクトル抽出処理と、前記複数のピークスペクトル及び前記第1及び第2のキャリアリターダの複屈折位相差に基づき、前記測定対象の光学特性を表す光学特性要素を算出する光学特性要素算出処理を行う。

    Cairo optical heterodyne system and method
    5.
    发明专利
    Cairo optical heterodyne system and method 审中-公开

    公开(公告)号：JP2008505316A

    公开(公告)日：2008-02-21

    申请号：JP2007519354

    申请日：2005-06-29

    Applicant: ステノ コーポレイション

    Inventor： ギブス，フィリップ，アール． ,  ビービ，ジェイソン，ディー．

    IPC: G01N21/21 ,  G01N21/19

    CPC classification number: G01J3/2803 ,  G01N21/1717 ,  G01N21/21 ,  G01N2021/218

    Abstract: サンプルのキラル特性の改良された検出を行なう装置及び方法は、第１の変調周波数ｗを有する光のプローブビームから始まり、第２の変調周波数Φにより更に変調される。 複数の検出部を含んでいて平衡受信器を形成する非線形光検出器が、第１の変調と第２の変調を混合して相互変調された側波帯において周波数成分を分析し、相互変調された側波帯のレベルはサンプルのカイロオプティカル特性に関係する。 相互変調された側波帯は、加法的側波帯又は減法的側波帯の何れでもよい。 ロックイン検出器を用いて、非線形光検出器から信号出力を受信して、異なる変調周波数で変調信号を生成することができる。 更に、非線形光検出器は、（Φ＋２ｗ）／（Φ＋ｗ）等の相互変調された側波帯レベルの比率を分析して、サンプルのキラル特性と線形関係にある信号を生成することができる。

    光学歪み計測装置
    6.
    发明专利
    光学歪み計測装置 有权

    公开(公告)号：JPWO2009139133A1

    公开(公告)日：2011-09-15

    申请号：JP2010511877

    申请日：2009-05-08

    Applicant: 株式会社フォトニックラティス

    Inventor： 川上　彰二郎 ,  彰二郎 川上 ,  佐藤　尚 ,  尚 佐藤 ,  川嶋　貴之 ,  貴之 川嶋

    IPC: G01M11/00 ,  G01N21/21 ,  G02B5/30

    CPC classification number: G01N21/21 ,  G01N2021/218 ,  G02B5/3025

    Abstract: 【課題】光学的な歪みを広範囲にわたり一括して計測することのできる計測器を提供することにある。【解決手段】本発明は、光学系と、偏光測定モジュールと、解析装置とを具備した光学歪み測定装置に関する。そして、光学系は、円偏光、楕円偏光、又は直線偏光の光を放射できる。偏光測定モジュールは、偏光子アレイと、エリアセンサとを含む。偏光子アレイは、1次元的又は2次元的に繰り返し配置された複数の単位ユニットを含む。偏光子アレイは、光学系から放射された光を透過する。また、偏光子アレイは、光学系から放射され、測定試料を透過した光を透過する。そして、偏光子アレイに含まれる、それぞれの単位ユニットは、透過偏光軸の方向が異なる少なくとも3種類の偏光子を含む。エリアセンサは、偏光子アレイの各偏光子を通過した光を独立に受光し、受光した光の強度を測定できる。【選択図】図1

    Rubbing angle measuring device, liquid crystal display device and method of manufacturing optical film
    10.
    发明专利
    Rubbing angle measuring device, liquid crystal display device and method of manufacturing optical film 有权
    橡胶角度测量装置，液晶显示装置及制造光学膜的方法

    公开(公告)号：JP2007278857A

    公开(公告)日：2007-10-25

    申请号：JP2006105822

    申请日：2006-04-07

    Applicant: Hitachi Displays Ltd ,  株式会社 日立ディスプレイズ

    Inventor： KISHIOKA JUNJI

    IPC: G01N21/21 ,  G01M11/00 ,  G02F1/13 ,  G02F1/1333 ,  G02F1/1337

    CPC classification number: G01N21/21 ,  G01N2021/218 ,  G01N2021/9513 ,  G02F1/133784

    Abstract: PROBLEM TO BE SOLVED: To measure the rubbing angle of the surface of an oriented film immediately after rubbing in a non-destructive manner with high precision of 0.1° or above in a short time for the purpose of the feedback to a rubbing process or the feed-forward to the process after rubbing within a manufacturing process. SOLUTION: The rubbing angle measuring device is composed of a light source unit, a measuring optical system, an imaging means and an image evaluation means, and the optical system is composed so that the light from a light source passes through an irradiation optical system, a polarizer, a rubbed measuring object, a detector and an imaging optical system to be thrown on the imaging means and the surface of a measuring target is formed into an image by the imaging means. The image signal obtained by the imaging means is transmitted to the image evaluation means and the signal having strong periodicity in the image is detected to measure the rubbing angle of the measuring target. COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

    Abstract translation: 要解决的问题：为了反馈摩擦的目的，在短时间内以0.1微米以上的高精度以非破坏性的方式摩擦定向膜的表面的摩擦角度。 过程或在制造过程中摩擦之后的前馈。 解决方案：摩擦角测量装置由光源单元，测量光学系统，成像装置和图像评估装置组成，并且光学系统被构成为使得来自光源的光通过照射 光学系统，偏振器，摩擦测量对象，检测器和被投影到成像装置上的成像光学系统和测量目标的表面由成像装置形成为图像。 由成像装置获得的图像信号被传送到图像评估装置，并且检测图像中具有强周期性的信号以测量测量对象的摩擦角。 版权所有（C）2008，JPO＆INPIT

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