반도체 제조 장비를 위한 세정 방법

    公开(公告)号:KR102438512B1

    公开(公告)日:2022-08-31

    申请号:KR1020220017077

    申请日:2022-02-09

    IPC分类号: C23C16/44 C11D7/08

    摘要: 본발명은반도체제조장비표면에형성되는오염막을효과적으로제거할수 있는반도체제조장비세정방법을제공하는것을목적으로한다. 상기와같은목적을달성하기위해, 본발명에서는, (a) 불산과물을포함하지않는중불화암모늄(NH4HF2) 용액을준비하는단계, (b) 상기중불화암모늄용액을중불화암모늄의녹는점이상그리고끓는점이하로가열하고유지하는단계, (c) 상기가열되어유지되는중불화암모늄용액에세정대상물을침적하고소정시간유지하여오염물을제거하는단계및 (d) 상기오염물이제거된세정대상물을물로세정하고건조하는단계를포함하고, 상기오염물은상기세정대상물표면에생성된지르코늄산화물또는실리콘질화물을포함하고, 상기세정대상물은석영을포함하는, 반도체제조장비세정방법을제공할수 있다.

    표면 잔류물 제거용 세정 제형

    公开(公告)号:KR102283723B1

    公开(公告)日:2021-07-30

    申请号:KR1020167014815

    申请日:2014-12-09

    摘要: 본발명은 1) HF; 2) 치환또는비치환된붕산; 3) 암모늄설페이트; 4) 하나이상의금속부식저해제; 5) 물; 및 6) 선택적으로, 하나이상의 pH 조정제를포함하는, 세정조성물에관한것으로서, pH 조정제는금속이온을포함하지않는염기이다. 본발명은또한, 상기조성물을사용하여반도체기판을세정하는방법에관한것이다.

    수성 조성물 및 이것을 이용한 세정방법

    公开(公告)号:KR20210003740A

    公开(公告)日:2021-01-12

    申请号:KR20207028986

    申请日:2019-04-25

    摘要: 본발명에따르면, (A)조성물중의불화물이온농도가 0.05~30mmol/L이되는양의불화물이온공급원; (B)조성물중의불화물이온에대한양이온의몰비가, 0.3~20이되는양의양이온공급원; 및 (C)C4-13알킬포스폰산, C4-13알킬포스폰산에스테르, C4-13알킬인산및 그들의염으로부터선택되는 1종이상의화합물을, 조성물전량기준으로 0.0001~10질량% 포함하고, pH가 2~6의범위에있는, 수성조성물을제공할수 있다.

    유리로부터의 금속성 퇴적물들의 제거 방법
    8.
    发明公开
    유리로부터의 금속성 퇴적물들의 제거 방법 审中-公开
    去除玻璃上的金属沉积物

    公开(公告)号:KR20180026727A

    公开(公告)日:2018-03-13

    申请号:KR20187000783

    申请日:2016-06-08

    IPC分类号: C03C23/00 C11D7/08 C11D11/00

    摘要: 유리물품, 예를들어유리시트와같은유리기판으로부터금속성퇴적물들을제거하는방법은, 상기금속성퇴적물을제거하는데 유효한시간동안상기유리물품을약산용액에노출하는단계를포함한다.

    摘要翻译: 从玻璃基底例如玻璃片去除金属沉积物的方法包括将玻璃制品暴露于弱酸溶液一段时间以有效除去金属沉积物。