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    用於電路之測試環境的裝置與方法 IC TESTING ENVIRONMENT INVESTIGATING DEVICE AND METHOD
    4.
    发明专利
    用於電路之測試環境的裝置與方法 IC TESTING ENVIRONMENT INVESTIGATING DEVICE AND METHOD 有权
    用于电路之测试环境的设备与方法 IC TESTING ENVIRONMENT INVESTIGATING DEVICE AND METHOD

    公开(公告)号：TWI354793B

    公开(公告)日：2011-12-21

    申请号：TW097102027

    申请日：2008-01-18

    申请人： 京元電子股份有限公司

    发明人： 柯宣仲 ,  謝辰陽

    IPC分类号： G01R

    CPC分类号： G01R29/0821 ,  G01R29/0814 ,  G01R31/002 ,  G01R31/2822 ,  G01R31/311

    摘要： 在此揭露一種用於檢測電路之測試環境的裝置及方法。此檢測裝置主要包含測試載板、插槽與天線。此測試載板係位於檢測裝置的底部，插槽設置於測試載板上，用以固定一待測元件(如積體電路)，且令待測元件得電性連接該測試載板。以及天線設置於測試載板上且鄰近於插槽的位置上，設置此天線的目的係用以接收無線訊號，以監測在測試環境是否有過量的雜訊會影響到電路的測試。

    简体摘要： 在此揭露一种用于检测电路之测试环境的设备及方法。此检测设备主要包含测试载板、插槽与天线。此测试载板系位于检测设备的底部，插槽设置于测试载板上，用以固定一待测组件(如集成电路)，且令待测组件得电性连接该测试载板。以及天线设置于测试载板上且邻近于插槽的位置上，设置此天线的目的系用以接收无线信号，以监测在测试环境是否有过量的噪声会影响到电路的测试。

    用於電路之測試環境的裝置與方法 IC TESTING ENVIRONMENT INVESTIGATING DEVICE AND METHOD
    5.
    发明专利
    用於電路之測試環境的裝置與方法 IC TESTING ENVIRONMENT INVESTIGATING DEVICE AND METHOD 审中-公开
    用于电路之测试环境的设备与方法 IC TESTING ENVIRONMENT INVESTIGATING DEVICE AND METHOD

    公开(公告)号：TW200933155A

    公开(公告)日：2009-08-01

    申请号：TW097102027

    申请日：2008-01-18

    申请人： 京元電子股份有限公司 KING YUAN ELECTRONICS CO., LTD

    发明人： 柯宣仲 KO, HSUAN CHUNG ,  謝辰陽 HSIEH, CHEN YANG

    IPC分类号： G01R

    CPC分类号： G01R29/0821 ,  G01R29/0814 ,  G01R31/002 ,  G01R31/2822 ,  G01R31/311

    摘要： 在此揭露一種用於檢測電路之測試環境的裝置及方法。此檢測裝置主要包含測試載板、插槽與天線。此測試載板係位於檢測裝置的底部,插槽設置於測試載板上,用以固定一待測元件(如積體電路),且令待測元件得電性連接該測試載板。以及天線設置於測試載板上且鄰近於插槽的位置上,設置此天線的目的係用以接收無線訊號,以監測在測試環境是否有過量的雜訊會影響到電路的測試。

    简体摘要： 在此揭露一种用于检测电路之测试环境的设备及方法。此检测设备主要包含测试载板、插槽与天线。此测试载板系位于检测设备的底部,插槽设置于测试载板上,用以固定一待测组件(如集成电路),且令待测组件得电性连接该测试载板。以及天线设置于测试载板上且邻近于插槽的位置上,设置此天线的目的系用以接收无线信号,以监测在测试环境是否有过量的噪声会影响到电路的测试。

    電磁輻射特性的預測方法、電腦可讀取記錄媒體和模擬器
    7.
    发明专利
    電磁輻射特性的預測方法、電腦可讀取記錄媒體和模擬器 审中-公开
    电磁辐射特性的预测方法、电脑可读取记录媒体和仿真器

    公开(公告)号：TW201621329A

    公开(公告)日：2016-06-16

    申请号：TW103143277

    申请日：2014-12-11

    申请人： 國立臺灣大學 ,  NATIONAL TAIWAN UNIVERSITY

    发明人： 吳宗霖 ,  WU, TZONG LIN ,  陳泓銓 ,  CHEN, HUNG CHUAN

    IPC分类号： G01R29/08

    CPC分类号： G01T7/00 ,  G01R29/0814 ,  G01R29/0892 ,  G01R29/10 ,  G01R31/28 ,  G01R31/2846

    摘要： 一種電磁輻射特性的預測方法、電腦可讀取記錄媒體和模擬器。上述預測方法包括下列步驟：在電子元件的等效電路模型中取得多個第一輻射電流，根據上述多個第一輻射電流計算輻射電阻，將上述輻射電阻加入等效電路模型，然後在等效電路模型中取得多個第二輻射電流，以及根據上述多個第二輻射電流預測電子元件的電磁輻射特性。

    简体摘要： 一种电磁辐射特性的预测方法、电脑可读取记录媒体和仿真器。上述预测方法包括下列步骤：在电子组件的等效电路模型中取得多个第一辐射电流，根据上述多个第一辐射电流计算辐射电阻，将上述辐射电阻加入等效电路模型，然后在等效电路模型中取得多个第二辐射电流，以及根据上述多个第二辐射电流预测电子组件的电磁辐射特性。

    電子機器之變動電場耐性檢查裝置、電子機器之變動電場耐性檢查方法
    9.
    发明专利
    電子機器之變動電場耐性檢查裝置、電子機器之變動電場耐性檢查方法 审中-公开
    电子机器之变动电场耐性检查设备、电子机器之变动电场耐性检查方法

    公开(公告)号：TW201239369A

    公开(公告)日：2012-10-01

    申请号：TW100141041

    申请日：2011-11-10

    申请人： 東京電子交易股份有限公司

    发明人： 本田昌實 ,  磯福佐東至 ,  荒井英樹

    IPC分类号： G01R

    CPC分类号： G01R31/2879 ,  G01R29/0814 ,  G01R31/001 ,  G01R31/312

    摘要： 在檢查裝置中,對於成為被測定物之電子機器,而經由施加電極來暴露在電場中,並經由電場變動手段,來使檢查中之被施加在電子機器處的電場之强度作變動。經由在檢查中之電場的變動,來在電子機器之內部使感應帶電產生,並藉由此來檢查電子機器之動作特性。其結果,係成為能夠進行在先前技術之ESD試驗裝置中所無法進行檢查之由於在電子機器內部所產生之放電現象而導致的誤動作作檢查。

    简体摘要： 在检查设备中,对于成为被测定物之电子机器,而经由施加电极来暴露在电场中,并经由电场变动手段,来使检查中之被施加在电子机器处的电场之强度作变动。经由在检查中之电场的变动,来在电子机器之内部使感应带电产生,并借由此来检查电子机器之动作特性。其结果,系成为能够进行在先前技术之ESD试验设备中所无法进行检查之由于在电子机器内部所产生之放电现象而导致的误动作作检查。

    空中測試 OVER-THE-AIR TEST
    10.
    发明专利
    空中測試 OVER-THE-AIR TEST 失效
    空中测试 OVER-THE-AIR TEST

    公开(公告)号：TW201119256A

    公开(公告)日：2011-06-01

    申请号：TW099131987

    申请日：2010-09-21

    申请人： 伊萊比特系統測試公司

    发明人： 奇歐伊斯提 佩卡 ,  魯汀恩 朱卡 佩卡 ,  嘉姆沙 湯米

    IPC分类号： H04B ,  H01Q

    CPC分类号： G01R29/0814 ,  G01R31/001 ,  H04B17/3911

    摘要： 一種測試系統包括與至少二個天線元件(102至116)耦接的雜訊源(500)。該雜訊源(500)基於模擬器(118)接收到的總信號功率、該模擬器(118)與所述天線元件(102至116)之間的至少一天線特定信號(504)之增益、及期望信噪比而形成總雜訊功率。該雜訊源(500)用該總雜訊功率從該至少二個天線元件(102至116)無線地傳送雜訊給受測裝置(100)。

    简体摘要： 一种测试系统包括与至少二个天线组件(102至116)耦接的噪声源(500)。该噪声源(500)基于仿真器(118)接收到的总信号功率、该仿真器(118)与所述天线组件(102至116)之间的至少一天线特定信号(504)之增益、及期望信噪比而形成总噪声功率。该噪声源(500)用该总噪声功率从该至少二个天线组件(102至116)无线地发送噪声给受测设备(100)。