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公开(公告)号：US20100051805A1
公开(公告)日：2010-03-04
申请号：US12548764
申请日：2009-08-27
CPC分类号： H01J37/28 , H01J37/05 , H01J37/08 , H01J37/265 , H01J2237/057 , H01J2237/0807 , H01J2237/24514
摘要： Ion microscope methods and systems are disclosed. In general, the systems and methods provide high ion beam stability.
摘要翻译： 公开了离子显微镜的方法和系统。 通常，这些系统和方法提供了高离子束稳定性。
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公开(公告)号：US08093563B2
公开(公告)日：2012-01-10
申请号：US12548764
申请日：2009-08-27
IPC分类号： H01J3/14
CPC分类号： H01J37/28 , H01J37/05 , H01J37/08 , H01J37/265 , H01J2237/057 , H01J2237/0807 , H01J2237/24514
摘要： Ion microscope methods and systems are disclosed. In general, the systems and methods provide high ion beam stability.
摘要翻译： 公开了离子显微镜的方法和系统。 通常，这些系统和方法提供了高离子束稳定性。
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公开(公告)号：US08563954B2
公开(公告)日：2013-10-22
申请号：US13336274
申请日：2011-12-23
IPC分类号： H01J49/00
CPC分类号： H01J37/28 , H01J37/05 , H01J37/08 , H01J37/265 , H01J2237/057 , H01J2237/0807 , H01J2237/24514
摘要： Ion microscope methods and systems are disclosed. In general, the systems and methods provide high ion beam stability.
摘要翻译： 公开了离子显微镜的方法和系统。 通常，这些系统和方法提供了高离子束稳定性。
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公开(公告)号：US20120097849A1
公开(公告)日：2012-04-26
申请号：US13336274
申请日：2011-12-23
CPC分类号： H01J37/28 , H01J37/05 , H01J37/08 , H01J37/265 , H01J2237/057 , H01J2237/0807 , H01J2237/24514
摘要： Ion microscope methods and systems are disclosed. In general, the systems and methods provide high ion beam stability.
摘要翻译： 公开了离子显微镜的方法和系统。 通常，这些系统和方法提供了高离子束稳定性。
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