公开(公告)号：US20130241037A1

公开(公告)日：2013-09-19

申请号：US13875731

申请日：2013-05-02

申请人： SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.

发明人： Junho Jeong ,  Sukhun Choi ,  Jangeun Lee ,  Kyunghyun Kim ,  Sechung Oh ,  Kyungtae Nam

IPC分类号： H01L49/02

CPC分类号： H01L28/20 ,  H01L21/7684 ,  H01L27/101 ,  H01L27/2409 ,  H01L27/2436 ,  H01L43/12 ,  H01L45/04 ,  H01L45/06 ,  H01L45/08 ,  H01L45/085 ,  H01L45/1233 ,  H01L45/126 ,  H01L45/143 ,  H01L45/144 ,  H01L45/147 ,  H01L45/1616 ,  H01L45/1625 ,  H01L45/1641

摘要： Methods of fabricating semiconductor devices are provided including forming a dielectric interlayer on a substrate, the dielectric interlayer defining an opening therein. A metal pattern is formed in the opening. An oxidization process is performed on the metal pattern to form a conductive metal oxide pattern, and the conductive metal oxide pattern is planarized. Related semiconductor devices are also provided.

摘要翻译： 提供了制造半导体器件的方法，包括在衬底上形成电介质中间层，电介质层间限定开口。 在开口中形成金属图案。 对金属图案进行氧化处理以形成导电金属氧化物图案，并且导电金属氧化物图案被平坦化。 还提供了相关的半导体器件。