公开(公告)号：US08527232B2

公开(公告)日：2013-09-03

申请号：US12768592

申请日：2010-04-27

申请人： Ruifeng Guo ,  Wu-Tung Cheng ,  Takeo Kobayashi ,  Kun-Han Tsai

发明人： Ruifeng Guo ,  Wu-Tung Cheng ,  Takeo Kobayashi ,  Kun-Han Tsai

IPC分类号： G01R31/00

CPC分类号： G01R31/318328

摘要： Methods of diagnostic test pattern generation for small delay defects are based on identification and activation of long paths passing through diagnosis suspects. The long paths are determined according to some criteria such as path delay values calculated with SDF (Standard Delay Format) timing information and the number of logic gates on a path. In some embodiments of the invention, the long paths are the longest paths passing through a diagnosis suspect and reaching a corresponding failing observation point selected from the failure log, and N longest paths are identified for each of such pairs.

摘要翻译： 小延迟缺陷的诊断测试模式生成方法基于识别和激活穿过诊断嫌疑人的长途径。 根据某些标准确定长路径，例如使用SDF（标准延迟格式）定时信息计算的路径延迟值和路径上的逻辑门数。 在本发明的一些实施例中，长路径是穿过诊断嫌疑人并且到达从故障日志中选择的相应故障观察点的最长路径，并且为每个这样的对识别N个最长路径。

公开(公告)号：US08468409B2

公开(公告)日：2013-06-18

申请号：US12634682

申请日：2009-12-09

申请人： Ruifeng Guo ,  Wu-Tung Cheng ,  Kun-Han Tsai

发明人： Ruifeng Guo ,  Wu-Tung Cheng ,  Kun-Han Tsai

IPC分类号： G01R31/28

CPC分类号： G01R31/318594 ,  G01R31/318577

摘要： Speed-path debug techniques based on at-speed scan test patterns. Potential speed paths are identified based upon detected at-speed scan pattern failures and unknown X-value simulation. When the number of identified speed paths is large, the suspect speed paths are ranked.

摘要翻译： 基于速度扫描测试模式的速度路径调试技术。 基于检测到的高速扫描模式故障和未知的X值模拟识别潜在速度路径。 当识别的速度路径数量大时，可疑速度路径被排序。

公开(公告)号：US08316265B2

公开(公告)日：2012-11-20

申请号：US12471227

申请日：2009-05-22

申请人： Ruifeng Guo ,  Wu-Tung Cheng ,  Yu Huang

发明人： Ruifeng Guo ,  Wu-Tung Cheng ,  Yu Huang

IPC分类号： G01R31/28

CPC分类号： G01R31/318544

摘要： Embodiments of the disclosed technology comprise techniques that can be used to generate scan chain test patterns and improve scan chain failure diagnosis resolution. For example, certain embodiments can be used to generate high quality chain diagnosis test patterns that are able to isolate a scan chain defect to a single scan cell. At least some embodiments can be used to locate faults over multiple capture cycles in the scan chain.

摘要翻译： 所公开技术的实施例包括可用于产生扫描链测试模式并提高扫描链故障诊断分辨率的技术。 例如，某些实施例可用于产生能够将扫描链缺陷隔离成单个扫描单元的高质量链诊断测试图案。 至少一些实施例可用于在扫描链中的多个捕获周期上定位故障。

公开(公告)号：US20120210184A1

公开(公告)日：2012-08-16

申请号：US13397594

申请日：2012-02-15

申请人： Yu Huang ,  Wu-Tung Cheng ,  Ting-Pu Tai ,  Liyang Lai ,  Ruifeng Guo

发明人： Yu Huang ,  Wu-Tung Cheng ,  Ting-Pu Tai ,  Liyang Lai ,  Ruifeng Guo

IPC分类号： G01R31/3177 ,  G06F11/25

CPC分类号： G01R31/318594 ,  G01R31/3177 ,  G01R31/318541 ,  G06F11/267 ,  G06F11/27

摘要： Aspects of the invention relate to techniques for diagnosing compound hold-time faults. A profiling-based scan chain diagnosis may be performed on a faulty scan chain to determine observed scan cell failing probability information and one or more faulty segments based on scan pattern test information. Calculated scan cell failing probability information may then be derived. Based on the calculated scan cell failing probability information and the observed scan cell failing probability information, one or more validated faulty segments are verified to have one or more compound hold-time faults. Finally, one or more clock defect suspects may be identified based on information of the one or more validated faulty segments.

摘要翻译： 本发明的方面涉及用于诊断复合保持时间故障的技术。 可以在故障扫描链上执行基于分析的扫描链诊断，以基于扫描模式测试信息来确定观察到的扫描单元故障概率信息和一个或多个故障段。 然后可以导出计算的扫描单元故障概率信息。 基于计算的扫描单元故障概率信息和观察到的扫描单元故障概率信息，验证一个或多个经验证的故障段具有一个或多个复合保持时间故障。 最后，可以基于一个或多个经验证的故障段的信息来识别一个或多个时钟缺陷嫌疑犯。

公开(公告)号：US08171357B2

公开(公告)日：2012-05-01

申请号：US12074162

申请日：2008-02-29

申请人： Ruifeng Guo ,  Yu Huang ,  Wu-Tung Cheng

发明人： Ruifeng Guo ,  Yu Huang ,  Wu-Tung Cheng

IPC分类号： G01R31/28

摘要： Embodiments of the disclosed technology comprise software-based techniques that can be used to improve scan chain test pattern generation and scan chain failure diagnosis resolution. For example, certain embodiments can be used to generate high quality chain diagnosis test patterns that are able to isolate a scan chain defect to a single scan cell. Such embodiments can be used to generate a “complete” test set—that is, a set of chain diagnosis test patterns that is able to isolate any scan chain defect in a faulty scan chain to a single scan cell.

公开(公告)号：US08086923B2

公开(公告)日：2011-12-27

申请号：US12265693

申请日：2008-11-05

申请人： Wu-Tung Cheng ,  Grzegorz Mrugalski

发明人： Wu-Tung Cheng ,  Grzegorz Mrugalski

IPC分类号： G01R31/28

CPC分类号： G01R31/31813 ,  G01R31/318371 ,  G01R31/318547

摘要： X-masking registers are added in front of a compactor in test data compression environment to remove unknown values. The X-masking registers block out some chains due to unknown values and select other chains to feed the compactor. This X-masking capability is used to select one scan cell to observe at a time after a failure is observed at the compactor output.

摘要翻译： 在测试数据压缩环境中，将X-masking寄存器添加到压实器的前面，以去除未知值。 X屏蔽寄存器由于未知值而阻塞一些链，并选择其他链来馈送压实机。 该X掩蔽功能用于选择一个扫描单元，以便在压实机输出上观察到故障后一次观察。

公开(公告)号：US20110307751A1

公开(公告)日：2011-12-15

申请号：US13158743

申请日：2011-06-13

申请人： Wu-Tung Cheng ,  Yu Huang

发明人： Wu-Tung Cheng ,  Yu Huang

IPC分类号： G01R31/3177 ,  G06F11/25

CPC分类号： G01R31/318569 ,  G01R31/318342 ,  G01R31/318544

摘要： Profiling-based scan chain diagnosis techniques are disclosed. With various implementations of the invention, unloading masking information for each of scan patterns is first determined. A tester then applies the scan patterns to a circuit under test and collects test response data according to the unloading masking information. A profiling-based analysis is performed to determine failing scan cell information based on the test response data.

摘要翻译： 披露基于剖析的扫描链诊断技术。 通过本发明的各种实现，首先确定每个扫描模式的卸载掩蔽信息。 然后，测试仪将扫描图案应用于被测电路，并根据卸载屏蔽信息收集测试响应数据。 执行基于分析的分析，以基于测试响应数据确定故障扫描单元信息。

公开(公告)号：US20110191643A1

公开(公告)日：2011-08-04

申请号：US12918986

申请日：2009-02-23

申请人： Ruifeng Guo ,  Liyang Lai ,  Yu Huang ,  Wu-Tung Cheng

发明人： Ruifeng Guo ,  Liyang Lai ,  Yu Huang ,  Wu-Tung Cheng

IPC分类号： G06F11/07

CPC分类号： G01R31/318583 ,  G01R31/318541 ,  G01R35/00

摘要： A diagnosis technique to improve scan cell internal defect diagnostic resolution using scan cell internal fault models.

摘要翻译： 使用扫描单元内部故障模型提高扫描单元内部缺陷诊断分辨率的诊断技术。

公开(公告)号：US07840862B2

公开(公告)日：2010-11-23

申请号：US11510079

申请日：2006-08-25

申请人： Yu Huang ,  Wu-Tung Cheng ,  Nagesh Tamarapalli ,  Randy Klingenberg ,  Janusz Rajski

发明人： Yu Huang ,  Wu-Tung Cheng ,  Nagesh Tamarapalli ,  Randy Klingenberg ,  Janusz Rajski

IPC分类号： G01R31/28

CPC分类号： G01R31/3177 ,  G01R31/318569

摘要： Chain or logic diagnosis resolution can be enhanced in the presence of limited failure cycles using embodiments of the various methods, systems, and apparatus described herein. For example, pattern sets can be ordered according to a diagnosis coverage figure, which can be used to measure chain or logic diagnosability of the pattern set. Per-pin based diagnosis techniques can also be used to analyze limited failure data.

摘要翻译： 使用本文描述的各种方法，系统和装置的实施例，可以在存在有限故障循环的情况下增强链或逻辑诊断分辨率。 例如，可以根据诊断覆盖率对图案集进行排序，这可以用于测量图案集的链或逻辑诊断。 基于引脚的诊断技术也可用于分析有限的故障数据。

公开(公告)号：US20100293422A1

公开(公告)日：2010-11-18

申请号：US12781695

申请日：2010-05-17

申请人： Yu Huang ,  Wu-Tung Cheng ,  Ruifeng Guo ,  Ting-Pu Tai

发明人： Yu Huang ,  Wu-Tung Cheng ,  Ruifeng Guo ,  Ting-Pu Tai

IPC分类号： G01R31/3177 ,  G06F11/25

CPC分类号： G01R31/318544 ,  G01R31/318547 ,  G06F11/2215

摘要： Scan chain diagnosis techniques are disclosed. Faulty scan chains are modeled and scan patterns are masked to filter out loading-caused failures. By simulating the masked scan patterns, failing probabilities are determined for cells on a faulty scan chain. One or more defective cells are identified based upon the failing probability information. A noise filtering system such as the one based upon adaptive feedback may be adopted for the identification process.

摘要翻译： 公开扫描链诊断技术。 对扫描链进行建模和扫描模式被屏蔽，以过滤掉加载引起的故障。 通过模拟掩蔽的扫描模式，确定故障扫描链上的单元的故障概率。 基于故障概率信息来识别一个或多个有缺陷的小区。 可以采用诸如基于自适应反馈的噪声滤波系统来进行识别处理。